本技术涉及集成电路封装技术领域，尤其涉及一种高散热性的集成电路封装结构，包括壳体，设置在壳体内腔的集成电路板，设置在集成电路板顶部的散热板，设置在散热板顶部的封装板。本技术通过导热板与金属导带组成的导热组件，建立了从芯片到散热板的高效、...

本技术涉及电路板测试技术领域，尤其涉及一种多功能的电路板功能测试仪，包括测试仪本体，安装于所述测试仪本体表面的缓冲垫，安装于所述缓冲垫表面的防护壳，所述防护壳前方设置有防尘机构，所述防尘机构包括设置于所述防护壳前侧的密封板，分别安装于所...

本技术涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种便于散热的存储芯片测试夹具，包括检测电路板，设置于所述检测电路板顶部的存储器，固定连接于所述检测电路板底部的底座，所述底座上方设置有固定机构，所述固定机构包括固定连接于所述底座顶部的支架，设置于所...

本技术涉及芯片测试插座技术领域，尤其涉及一种用于存储芯片测试的防静电插座，包括检测盒，所述检测盒顶部通过转轴活动连接有盖板，所述盖板顶部设置有除静电机构。本技术通过可拆卸、可变换安装方向的等离子除静电组件设计，实现了灵活的主动式静电防护...

本技术涉及半导体存储器技术领域，尤其涉及一种半导体存储器的器件结构，包括半导体存储器壳体，开设在半导体存储器壳体一侧的凹槽，滑动连接在凹槽内腔的遮挡板，所述凹槽内腔固定连接有散热板，所述散热板一侧设置有导热板。本技术通过设置集成了散热风...

本发明公开了一种内存条自动插拔测试设备，涉及内存条测试设备技术领域，包括测试组件，包括测试设备，所述测试设备顶部设置有测试板，所述测试板上固定有内存插槽，所述测试设备顶部固定有支撑柱，所述支撑柱一侧固定有支撑板。本发明有益效果为：支撑壳...

本发明涉及内存条测试技术领域，尤其涉及一种内存条老化测试装置及方法，包括测试箱，所述测试箱内部开设有测试腔，所述测试腔内部设置有测试板，所述测试板内部插入有内存条。本发明通过双轴电机配合电磁离合器分别驱动均热机构与热回收机构，其中往复螺...

本发明公开了一种内存条自动生产包装设备，涉及内存条包装技术领域，包括包装组件，包括包膜机构，所述包膜机构一侧设置有封切机构，所述封切机构一侧设置有安装架，所述安装架内设置有输送辊，所述安装架顶部固定有罩壳；热缩组件，设置于所述罩壳内部，...