本申请涉及芯片测试领域，尤其是涉及一种自动芯片测试装置。其包括测试座用于固定待测芯片，承载装置支撑和容纳各功能模块，承载装置包含可调节高度的福马轮、可调整重心分布的配重块、提供压力和位移的电动执行装置、移动和承载芯片的电动托盘装置、检测...

本申请涉及一种大功率芯片耐久性测试集成实验设备，其包括承载装置，承载装置包括型材框架，型材框架内设置有底支撑钢板，底支撑钢板将型材框架分隔为相互平行的检测工位；每个检测工位内均设置有执行装置框架、滑动托盘装置、检测电路装置、芯片、执行装...