本公开提供了一种芯片工艺角的检测电路，包括：工艺角检测单元，用于采集待测芯片内的三组对比信号，每组对比信号均包括一个与工艺角相关并且与温度无关的第一电压信号，一个与工艺角和温度均无关的第二电压信号；比较单元，用于确定每组对比信号的两个电...