本发明涉及可配置的测试套件。具体地，提供了一种用于对包含微处理器的模块进行测试的系统和方法，其中所述微处理器具有编程环境。所述编程环境具有测试数据结构、配置数据结构、和监测数据结构，所述各数据结构中包含数据。至少一个测试数据实例与测试数...