本发明涉及一种基于X射线探测法控制电缆的生产控制方法及系统，其方法包括使用光子计数X射线探测器对电缆截面进行高分辨成像，得到电缆截面图；识别所述电缆截面图中导体的直径和绝缘层的厚度，得到导体直径和绝缘层厚度；求所述导体直径与预设直径之间...