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昆山立微科技有限公司专利技术
昆山立微科技有限公司共有1项专利
射频同轴探针高频特性测量方法技术
本发明涉及射频测量技术领域,公开了射频同轴探针高频特性测量方法。该方法采集射频同轴探针的高频响应数据,基于预定义频段划分策略对全频段进行分段,识别关键频段区域;再根据关键频段区域的响应幅度与相位分布,筛选基准频段并提取阻抗基准值,基于该...
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