本发明涉及电子技术领域，公开了一种基于直流特性曲线斜率直接测量晶体管动态参数与验证电路性能的综合分析方法，包括在电子电路仿真软件平台上构建包晶体管放大电路，确定最大不失真输出状态及最优静态工作点；利用直流扫描分析绘制晶体管直流特性曲线，...