本发明涉及采用Ｘ射线荧光从样品物质流中测量元素含量的方法和设备，在该方法中，样品物质受到Ｘ射线或γ射线的辐照，通过检测来自样品物质的辐射，确定来自样品物质的辐射能谱，从测得的辐射谱中，根据该元素的特征辐射谱强度确定其含量。为使本方法也能...