本发明涉及位置测量设备(3)和测量绝对位置的相应方法，包括：材料测量(4)，其具有二进制代码(1、2)；以及传感器设备(6)，其扫描二进制代码(1，2)。传感器设备(6)被设计成扫描具有第一数量(M)的代码字(C)的第一二进制代码(1)...