本发明涉及缺陷检测技术领域，并具体公开了一种电子元器件缺陷检测方法、系统及装置，包括：基于多光谱成像采集多波段原始图像集，通过正交补空间投影抑制批次材质差异及表面反光，获得去噪图像集；对去噪图像集进行特征提取，识别标记所有碎片化缺陷区域...