本发明涉及接触针，更详细地说，涉及一种设置在用于检测半导体元件的测试用插座上的接触针及包括其的测试用插座。本发明公开一种接触针，其特征在于，包括：第一部件(100)，一端具有与半导体产品的端子及测试端子中的其中一个接触的第一端子部(12...