本发明涉及芯片加工技术领域，公开了一种用于芯片加工制造用测试设备，包括底座，所述底座上固定安装有第一支撑板，第一支撑板两侧设置有第二支撑板，第二支撑板上设置有垫板，所述底座上固定安装有带动垫板升降的第一电动伸缩杆；所述底座上固定安装有第...

本发明涉及芯片检测技术领域，公开了一种芯片共面度检测设备及检测工艺，所述检测设备包括底座，底座上固定安装有第一支架，所述第一支架上固定安装有指向底座的第一电动伸缩杆，第一电动伸缩杆的输出端固定安装有竖杆，竖杆的端部转动安装有第一压板，所...