本发明提出了一种半导体芯片检测分选设备，涉及半导体技术领域。一种半导体芯片检测分选设备，包括浸泡室、测试室、回温室、运输滑台和机械臂。浸泡室内设置有用于对整盘待测芯片进行温度调节的第一温控组件。测试室内设置有用于维持测试温度的第二温控组...

本发明提出了一种可湿性侧壁封装基板及其制备方法，涉及半导体技术领域。该可湿性侧壁封装基板，包括依次层叠设置的TOP层、MID1层、MID2层、BOTTOM层、上层芯板、预浸料半固化片和下层芯板。MID1层、MID2层和BOTTOM层上设...