本申请公开了一种非检验区的识别方法及识别系统和计算机设备，涉及半导体技术领域。识别方法包括确定光罩图形，光罩图形包括切割道图形，切割道图形包括宽度不同的非检测区；将非检测区划分为多个满足四边形规则的预设规则图形，得到第一图形集和第二图形...