专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
三星电子株式会社
>
校正存储器中的错误的方法技术
>技术资料下载
下载校正存储器中的错误的方法的技术资料
文档序号:18426090
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
在计算机存储器中执行存储器重复数据删除和单错校正双错检测(SEC‑DED)的方法,所述方法包括:从存储器芯片的阵列中读取数据;基于所述数据计算至少一个散列;针对物理行ID散列中的至少一个并针对二次散列来检查一个或多个散列;确定是否检测到错误...
该专利属于三星电子株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过三星电子株式会社授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。