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本发明提供了一种半导体激光器退化测试与寿命预测实验平台，包括计算机分析系统、半导体激光器驱动控制系统和数据传输系统。所述计算机分析系统通过数据传输系统接收半导体激光器的状态数据并做计算和分析，实现曲线绘制、退化测试和寿命预测等功能；所述半导...
该专利属于中国人民解放军国防科学技术大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国人民解放军国防科学技术大学授权不得商用。

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