光开关调试设备制造技术

本发明专利技术公开一种光开关调试设备，其PD探测器阵列的输出端经光放大器电接AD转换器的输入端，AD转换器的输出端电接CPU的输入端；CPU的3个输出端分别接635nmLD激光器，1310nmLD激光器和1550nmLD激光器；635nmLD激光器的输出端直接接分路器的一个输入端，1310nmLD激光器和1550nmLD激光器的输出端通过待测光开关后接分路器的另一个输入端；分路器的输出端接PD探测器阵列；测试器件驱动模块的输入端接CPU，测试器件驱动模块的输出端与待测光开关相连；按键模块的输入端接在CPU上；液晶模块的输出端接在CPU上。本发明专利技术能自由切换所需波长，简化标定工作，提高生产效率。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：黄普劲，彭鹏，
申请(专利权)人：桂林市光隆光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：