本发明专利技术公开了一种近场电磁辐射干扰测量信号的测量噪声抑制方法，该测量噪声抑制方法包括如下步骤：（1）同步测量近场两处辐射干扰信号，并对其进行独立分量分析；（2）估计独立分量的峭度值，判定其中的测量噪声分量，从而实现干扰测量信号的测量噪声抑制。本发明专利技术解决了非标环境引起的测量噪声对干扰信号分析的影响；可避免滤波过程对电磁兼容分析所需要的干扰信号高频部分的破坏；另外，该方法所需的设备少，成本低，易于实现。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了，该测量噪声抑制方法包括如下步骤：（1）同步测量近场两处辐射干扰信号，并对其进行独立分量分析；（2）估计独立分量的峭度值，判定其中的测量噪声分量，从而实现干扰测量信号的测量噪声抑制。本专利技术解决了非标环境引起的测量噪声对干扰信号分析的影响；可避免滤波过程对电磁兼容分析所需要的干扰信号高频部分的破坏；另外，该方法所需的设备少，成本低，易于实现。【专利说明】
:本专利技术涉及电磁兼容
，具体地说是涉及。
技术介绍
:目前，越来越多的电子产品在上市前需要通过相关辐射电磁兼容测试，未通过测试的产品需要进一步进行电磁兼容整改。整改的关键是确定产品辐射未达标根源，需要通过分析产品辐射干扰信号进行判断。由于多数产品生产单位不具备昂贵的标准电磁兼容测试环境，整改过程需要对辐射干扰信号进行数次采集、分析，为降低测试成本，电磁兼容整改往往是在非标环境下进行的，其测量噪声成为影响干扰信号分析准确度的主要原因之一，因此，针对非标环境的测量噪声抑制是有必要的。噪声抑制主要有时域平滑及变换域去噪两种方式:(I)、基于时域平滑的噪声抑制方法，其原理是利用数字低通滤波滤除待分析信号中的高频噪声；(2)、变换域去噪方法，其原理是先通过傅里叶变换或小波分析等变换将信号分解为不同频段分量，再通过只保留较低频部分信号从而实现去噪。无论采用上述方式中的哪一种都将信号中的较高频率部分直接作为测量噪声滤除，但在电磁兼容分析中，这样的做法并不可取。实际上，产品工作产生的干扰信号在频率上与非标环境存在的背景噪声，即测量噪声，往往并不可分，前者频率可能与后者同处高频部分，如果仅根据频率高低进行去噪，那么很可能在滤除测量噪声的同时也部分滤除了干扰信号，结果导致干扰信号的改变。干扰信号是探究产品电磁干扰超标根源的分析对象，其人为改变将误导后续的电磁兼容整改。
技术实现思路
:本专利技术的目的在于针对现有技术存在的不足之处，而提出，以改善电磁兼容分析中辐射干扰信号测量噪声的抑制效果。为实现上述目的，本专利技术的包括如下步骤:(I)同步测量近场两处辐射干扰信号，并对其进行独立分量分析；(2)估计独立分量的峭度值，判定其中的测量噪声分量，从而实现干扰测量信号的测量噪声抑制。所述的步骤(I)中的干扰信号是指电子设备或系统在正常运行过程中对所在环境产生的电磁辐射干扰，即辐射电磁干扰时域信号。作为上述技术方案的优选，所述的步骤(I)中的近场两处辐射干扰信号采用双踪示波器同步测量采集，采集频率应符合产品依据的相关电磁兼容测试标准。作为上述技术方案的优选，所述的步骤(I)中通过双踪示波器同步测量的辐射干扰信号是非电磁兼容标准测量环境下的信号，涉及干扰信号和测量噪声2个独立分量。作为上述技术方案的优选，所述的步骤(1)中独立分量分析方法为fastICA算法。作为上述技术方案的优选，所述的步骤(2)中的峭度值是指干扰信号和测量噪声2个随机信号的高阶统计量，测量噪声的分布更接近高斯分布，其峭度值也更接近于O。本专利技术的有益效果在于:(I)其解决了非标环境引起的测量噪声对干扰信号分析的影响；(2)可避免滤波过程对电磁兼容分析所需要的干扰信号高频部分的破坏；(3)所需的设备少，成本低，易于实现。【专利附图】【附图说明】:下面结合附图对本专利技术做进一步的说明:图1为实施例的两个近场辐射干扰同步测量信号；图2为实施例的辐射干扰测量信号的独立分量分析结果；图3为实施例的辐射干扰测量信号频谱及其经传统滤波得到的测量噪声抑制频谱；图4为实施例的辐射干扰测量信号频谱及其经本专利技术方法处理得到的测量噪声抑制频谱。【具体实施方式】:以下结合具体实施例对上 述技术方案做进一步的说明。应理解，这些实施例是用于说明本专利技术的原理而不是限定本专利技术的保护范围。本专利技术的近场电磁辐射干扰测量信号的测量噪声抑制方法包括如下步骤:步骤1:用双踪示波器同步测量近场两处辐射干扰信号，并采用fastICA算法对其进行独立分量分析。在低成本非标准测试环境下，采集的近场辐射电磁干扰信号往往具有较高的背景噪声，严重影响对辐射干扰信号的超标分析和诊断。本专利技术提出的测量噪声抑制方法通过同步采集2个近场辐射干扰信号，利用采集信号中包含的测量噪声和干扰信号相互独立的特性，经独立分量分析，获得两个独立信号，从而实现测量噪声抑制。本专利技术的独立分量分析采用FastICA算法。设采集的2路信号构成向量x(t)=T, t = I,…，N，t表示时间序号，上标T表示矩阵或矢量转置，则X (t)是辐射干扰信号和测量噪声的线性组合，即X (t) = As (t) t = 1，…，N(I)其中，A是未知的2X2混合矩阵，s(t) = T, t = 1，…，N表示相互独立的辐射干扰信号和测量噪声构成的矢量。独立分量分析的目标是仅由传感器测量信号x(t)重构源信号s(t)。fastICA算法中，将求解一个2X2分离矩阵W，使s(t)的估计为s⑴=Wx⑴=WAs⑴，因此s(/) = 丨成为s⑴的线性组合。根据大数定理，当WA中有2个非零元素时，相对于相互独立的源信号Sl(t)，s2(t)，其估计信号A(AW)更接近高斯分布，所以独立分量分析的代价函数可以取为使的非高斯性更大，比如采用负熵最大准则。FastICA算法的实现过程如下:l、x(t)的中心化和预白化对中心化后成为零均值向量的x(t)进行白化处理，得到x(t)的白化矢量【权利要求】1.，其特征在于包括如下步骤: (1)同步测量近场两处辐射干扰信号，并对其进行独立分量分析； (2)估计独立分量的峭度值，判定其中的测量噪声分量，从而实现干扰测量信号的测量噪声抑制。2.根据权利要求1所述的近场电磁辐射干扰测量信号的测量噪声抑制方法，其特征在于:所述的步骤(I)中的干扰信号是指电子设备或系统在正常运行过程中对所在环境产生的电磁福射干扰，即福射电磁干扰时域信号。3.根据权利要求2所述的近场电磁辐射干扰测量信号的测量噪声抑制方法，其特征在于:所述的步骤(I)中的近场两处辐射干扰信号采用双踪示波器同步测量采集，采集频率应符合产品依据的相关电磁兼容测试标准。4.根据权利要求3所述的近场电磁辐射干扰测量信号的测量噪声抑制方法，其特征在于:所述的步骤(I)中通过双踪示波器同步测量的辐射干扰信号是非电磁兼容标准测量环境下的信号，涉及干扰信号和测量噪声2个独立分量。5.根据权利要求1所述的近场电磁辐射干扰测量信号的测量噪声抑制方法，其特征在于:所述的步骤(I)中独立分量分析方法为fastICA算法。6.根据权利要求1所述的近场电磁辐射干扰测量信号的测量噪声抑制方法，其特征在于:所述的步骤(2)中的峭度值是指干扰信号和测量噪声2个随机信号的高阶统计量，测量噪声的分布更接近高斯分布，其峭度值也更接近于O。【文档编号】G01R31/00GK103743969SQ201310694253【公开日】2014年4月23日 申请日期:2013年12月17日 优先权日:2013年12月17日 【专利技术者】邱晓晖, 赵阳, 黄学军 申请人:苏州泰思特电子科技有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种近场电磁辐射干扰测量信号的测量噪声抑制方法，其特征在于包括如下步骤：（1）同步测量近场两处辐射干扰信号，并对其进行独立分量分析；（2）估计独立分量的峭度值，判定其中的测量噪声分量，从而实现干扰测量信号的测量噪声抑制。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：邱晓晖，赵阳，黄学军，
申请(专利权)人：苏州泰思特电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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