一种液晶显示器检测方法技术

本发明专利技术公开了一种液晶显示器检测方法，所述液晶显示器包括玻璃边框、框胶、显示区域，方法步骤如下：a.初步检测调试，对液晶显示器尺寸进行检测，以及视觉系统参数设置，所述视觉系统由相机和镜头组成；b.通过视觉系统进行图像采集；c.通过步骤b中图像采集数据，对玻璃边框、框胶、显示区域进行内污检测，其中包括检测区域定位、灰度分析、玻璃边框分析；d.通过步骤b中图像采集数据，对显示区域进行功能检测，其中包括亮度检测、Blob分析、电测仪检测。与现有技术相比较，本发明专利技术实现以客户提供的样片为标准，进行严格的精准的高效的液晶显示器检测方法，从而给客户提供合格的液晶显示器。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了，所述液晶显示器包括玻璃边框、框胶、显示区域，方法步骤如下：a.初步检测调试，对液晶显示器尺寸进行检测，以及视觉系统参数设置，所述视觉系统由相机和镜头组成；b.通过视觉系统进行图像采集；c.通过步骤b中图像采集数据，对玻璃边框、框胶、显示区域进行内污检测，其中包括检测区域定位、灰度分析、玻璃边框分析；d.通过步骤b中图像采集数据，对显示区域进行功能检测，其中包括亮度检测、Blob分析、电测仪检测。与现有技术相比较，本专利技术实现以客户提供的样片为标准，进行严格的精准的高效的液晶显示器检测方法，从而给客户提供合格的液晶显示器。【专利说明】
本专利技术涉及一种检测方法，尤其涉及。
技术介绍
液晶显示器显示内容来自于用户。一般情况下，用户给出样片然后由技术人员按照样片设计CAD图纸，根据图纸印制菲林。使用该菲林制作产品的样品，该样品经客户确认后再投入量产；否则修改CAD图纸重新印制菲林并制造样品……如此循环直至客户确认。少数情况是由客户直接提供CAD图纸。无论那种情况，在量产前样品必须通过客户确认且量产的产品和样品一致，其要求误差很小，给液晶显示器的检测带来很大困难，因此需要一套精准检测方法。
技术实现思路
本专利技术的目的就在于提供一种解决上述问题，满足客户要求的精准检测的液晶显示器检测方法。为了实现上述目的，本专利技术采用的技术方案是:，所述液晶显示器包括玻璃边框、框胶、显示区域，方法步骤如下:a.初步检测调试，对液晶显示器尺寸进行检测，以及视觉系统参数设置，所述视觉系统由相机和镜头组成；b.通过视觉系统进行图像采集；c.通过步骤b中图像采集数据，对玻璃边框、框胶、显示区域进行内污检测，其中包括检测区域定位、灰度分析、玻璃边框分析；d.通过步骤b中图像采集数据，对显示区域进行功能检测，其中包括亮度检测、Blob分析、电测仪检测。作为优选，步骤a中，视觉系统参数设置为相机参数设置，颜色模式为彩色、分辨率为3288x2470、CCD尺寸2\3、帧率3.lfps、数字接口 1394a ;镜头参数设置，焦距16m分辨率2001p物距范围0.1—视场角30x22.畸变率-0.20%。作为优选，步骤c中，液晶显示器为不通电状态，所以液晶显示器上加设一个光学系统，所述光学系统由亮度可调的三基色背光源和两片偏振片组成，所述偏振片一片位于液晶显示器上表面，另一片位于镜头的镜片附近。作为优选，步骤d中，进行亮度检测，若液晶显示器检测现场较暗，需增设光源，且采用从液晶显示器正上方垂直打光的方式，将光源放在偏振片的下方。 作为优选，步骤d中，进行Blob分析，在菲林的印制精度比较高，且液晶显示器显示图像时不会出现变形的情况下，将显示的图像部分看成有N个暗区域组成，暗区域称之为块，每个暗区域由Μ个像素组成，首先对确认的样片进行采图分析，获取其亮度值和块的个数以及每个区域的像素值，再将这些数据存档；在后续的检测中，对被检测的液晶显示器进行采图，其亮度值应该和样片亮度值进行比较，块数量以及每个块的像素数量进行比较，从而判断液晶显示器图像是否存在异常。与现有技术相比，本专利技术的优点在于:本方法是以客户提供的样片为标准，进行严格的精准的高效的液晶显示器检测方法，从而给客户提供合格的液晶显示器。【专利附图】【附图说明】图1为本专利技术内污检测的流程图；图2为本专利技术功能检测的流程图。【具体实施方式】下面将结合附图对本专利技术作进一步说明。实施例:参见图1、图2，，所述液晶显示器包括玻璃边框、框胶、显示区域，，方法步骤如下:a.初步检测调试，对液晶显示器尺寸进行检测，以及视觉系统参数设置，所述视觉系统由相机和镜头组成；视觉系统参数设置为相机参数设置，颜色模式为彩色、分辨率为3288x2470、(XD尺寸2\3、帧率3.lfps、数字接口 1394a;镜头参数设置，焦距16m分辨率2001p物距范围0.1 一视场角30x22.畸变率-0.20%。b.通过视觉系统进行图像采集；c.通过步骤b中图像采集数据，对玻璃边框、框胶、显示区域进行内污检测，其中包括检测区域定位、灰度分析、玻璃边框分析，所以液晶显示器上加设一个光学系统，所述光学系统由亮度可调的三基色背光源和两片偏振片组成，所述偏振片一片位于液晶显示器上表面，另一片位于镜头的镜片附近；此时液晶屏为不通电状态，为了能够清晰看见显示的图像，必须在液晶屏下部加一个背光源，不同材料的液晶屏，显示的颜色不一样，在不同的背光下，液晶屏显示的颜色也不一样，对应的缺陷可见状态也不一致，为了找到最适合的背光，调节到使缺陷显示在最理想，最易观察的状态，故采用亮度可调的三基色背光源；偏振片有一固定光轴，只允许偏振方向与其光轴相同的光通过，在自然光通过下面一片偏振片后，变为与该偏振片光轴方向一致的线偏振光，由于液晶的排列分布特性，此时得到的线偏振光通过液晶盒时，其偏振方向随着液晶分子扭转90°，以黑白屏为例:当上下两片偏振片的光轴相互垂直时，光线通过，显示为黑底白字，反之，显示为白底黑；步骤c中，通过灰度分析检测液晶显示器的是否发生污点、内刮、定向不良、粉聚、灌液未满、漏液的情况，通过玻璃边框分析，检测是否发生框不良、彩虹、静电不良、前段外刮、中段外刮、网印、中段破损、切割不良、封口不良、磨边不良的情况。d.通过步骤b中图像采集数据，对显示区域进行功能检测，其中包括亮度检测、Blob分析、电测仪检测；由于液晶显示器分为上下两层ΙΤ0玻璃，所以从斜侧打光会在显示的图像下方出现阴影，将原本未连接在一起的区域连接起来；另外，很难保证每个系统的光源和液晶片的夹角与距离是一致的，所以阴影的面积和方向很难确定，增加检测难度，所以采用从液晶片正上方垂直打光的方式。为了避免偏振片反射对成像造成影响，将光源放在偏振片的下方。本专利技术不仅可应用于对液晶显示器IXD检测也可进行LCM检测，若进行LCM检测，由于LCM有背光源，所以不考虑增加光源。步骤d中，进行Blob分析，在菲林的印制精度比较高，且液晶显示器显示图像时不会出现变形的情况下，将显示的图像部分看成有N个暗区域组成，暗区域称之为块，每个暗区域由Μ个像素组成，我们使用n (m)表示第η个暗区域的第m个像素。首先对确认的样片进行采图分析，获取其亮度值和块的个数以及每个区域的像素值，再将这些数据存档；在后续的检测中，对被检测的液晶显示器进行采图，其亮度值应该和样片亮度值进行比较，块数量以及每个块的像素数量进行比较，从而判断液晶显示器图像是否存在异常。假设k(i)颜色异常会导致k块像素数量与样片值不一致；或在背景区域有一个坏点，会导致块数量不一致；从而判断液晶片图像是否存在异常。步骤d中，通过电测仪检测是否存在大电流、断路、短路的情况；最后进行PI不均、明暗化、反白等売度差异检测。技术指标为:菲林印制精度:30um ;检测精度:0.1mm ;相机帧率:无明确限制。以上对本专利技术所提供的进行了详尽介绍，本文中应用了具体个例对本专利技术的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本专利技术的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本专利技术的思想，在【具体实施方式】及应用范围上均会有改变之处，对本专利技术的变更和改进将是可能的，而不会超出附加权利要求所规定的构本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种液晶显示器检测方法，所述液晶显示器包括玻璃边框、框胶、显示区域，其特征在于，方法步骤如下：a.初步检测调试，对液晶显示器尺寸进行检测，以及视觉系统参数设置，所述视觉系统由相机和镜头组成；b.通过视觉系统进行图像采集；c.通过步骤b中图像采集数据，对玻璃边框、框胶、显示区域进行内污检测，其中包括检测区域定位、灰度分析、玻璃边框分析；d.通过步骤b中图像采集数据，对显示区域进行功能检测，其中包括亮度检测、Blob分析、电测仪检测。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：谢煜，张静，刘娟秀，刘霖，杨先明，叶玉堂，刘永，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：