一种码盘光电传感器检测电路以及码盘检测系统技术方案

本发明专利技术提供了一种码盘光电传感器检测电路，包括：第一比较电路以及第二比较电路。其中，第一比较电路的输入端与外接光电传感器的输出端相连，用于检测外接光电传感器的输出信号的电压变化量，根据电压变化量以及第一基准电压，输出第一电压信号。第二比较电路的输入端与第一比较电路的输出端相连，用于将第一电压信号转化为一TTL电平信号，以使外接微控制器根据TTL电平信号对码盘叶片进行计数。可见，本发明专利技术提供的码盘光电传感器检测电路，在积灰出现光电传感器的输出信号浮高时，由于是检测光电传感器输出信号的电压变化量，并不会出现积灰影响码盘的计数的现象。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供了一种码盘光电传感器检测电路，包括：第一比较电路以及第二比较电路。其中，第一比较电路的输入端与外接光电传感器的输出端相连，用于检测外接光电传感器的输出信号的电压变化量，根据电压变化量以及第一基准电压，输出第一电压信号。第二比较电路的输入端与第一比较电路的输出端相连，用于将第一电压信号转化为一TTL电平信号，以使外接微控制器根据TTL电平信号对码盘叶片进行计数。可见，本专利技术提供的码盘光电传感器检测电路，在积灰出现光电传感器的输出信号浮高时，由于是检测光电传感器输出信号的电压变化量，并不会出现积灰影响码盘的计数的现象。【专利说明】—种码盘光电传感器检测电路以及码盘检测系统
本专利技术涉及设备检测
，更具体的说，是涉及一种码盘光电传感器检测电路以及码盘检测系统。
技术介绍
如图1所示，现有技术中，对码盘I的计数是通过检测码盘叶片2遮挡光电传感器3的次数来实现。具体的，在光电传感器3上设置有发光管4以及光敏接收管5，当受到码盘叶片遮挡时，光敏接收管5关断，当未受到码盘叶片遮挡时，光敏接收管5导通。传统的光电码盘检测电路如图2所示，其检测电路101的输入端与光电传感器3的输出端相连，即对应图2中的A点。通常，当光敏接收管关断时，此时由于上拉电阻Rl存在，A点的电压为VCCl ;当光敏接收管5导通时，此时，A点电压被拉低为O。而当A点的电压高于某一上阀值(VT+)时，则定义A点的输入信号是高电平信号，经过反相器Ul后，B点的输出信号为低电平。同理，当A点电压低于某一下阀值(VT-)时，则定义A点的输入信号是低电平信号，经过反相器Ul后，B点的输出信号为高电平。需要说明的是，上阀值为反相器Ul输入端能检测到信号从低电平变为高电平所需的电压的下限值。相应的，下阀值为反相器Ul输入端能检测到信号从高电平变为低电平所需的上限值。但专利技术人发现:现有技术中，光电传感器表面上的灰尘积到一定程度时，即使光电传感器没有被码盘叶片遮挡，光电传感器也会输出一个高于VT+的电压信号,这时,光电码盘检测电路就会误认为输入信号是一个高电平信号，从而使得外接微控制器误以为光电传感器被码盘叶片遮挡，对码盘进行计数，导致计数结果不准确。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供了一种码盘光电传感器检测电路以及码盘检测系统，以克服现有技术中灰尘堆积导致的码盘计数不准确的问题。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案:一种码盘光电传感器检测电路，包括:第一比较电路以及第二比较电路；所述第一比较电路的输入端与外接光电传感器的输出端相连，用于检测所述外接光电传感器的输出信号的电压变化量，根据所述电压变化量以及第一基准电压，输出第一电压信号；所述第二比较电路的输入端与所述第一比较电路的输出端相连，用于将所述第一电压信号转化为一 TTL电平信号，以使外接微控制器根据所述TTL电平信号对码盘叶片进行计数。优选的，所述第一比较电路包括:第一电阻、第一电容、第二电阻、第三电阻以及第一运算放大器；所述第一电阻的第一端接电压VCC1，所述第一电阻的第二端分别与所述第一电容的第一端以及外接光电传感器的输出端相连，所述第一电容的第二端通过所述第二电阻分别与所述第一运算放大器的反相输入端以及所述第三电阻的第一端相连，所述第一运算放大器的同相输入端接所述第一基准电压，所述第一运算放大器的输出端与所述第三电阻的第二端相连，且作为所述第一比较电路的输出端。优选的，所述第二比较电路包括:第二运算放大器；所述第二运算放大器的同相输入端与所述第一比较电路的输出端相连，所述第二运算放大器的反相输入端接所述第二基准电压，所述第二运算放大器的输出端作为所述第二比较电路的输出端。优选的，所述第一基准电压大于所述第二基准电压。优选的，所述第三电阻的阻值远远大于所述第二电阻的阻值。一种码盘检测系统，包括:光电传感器以及码盘光电传感器检测电路。优选的，所述第一比较电路包括:第一电阻、第一电容、第二电阻、第三电阻以及第一运算放大器；所述第一电阻的第一端接电压VCC1，所述第一电阻的第二端分别与所述第一电容的第一端以及外接光电传感器的输出端相连，所述第一电容的第二端通过所述第二电阻分别与所述第一运算放大器的反相输入端以及所述第三电阻的第一端相连，所述第一运算放大器的同相输入端接所述第一基准电压，所述第一运算放大器的输出端与所述第三电阻的第二端相连，且作为所述第一比较电路的输出端。优选的，所述第二比较电路包括:第二运算放大器；所述第二运算放大器的同相输入端与所述第一比较电路的输出端相连，所述第二运算放大器的反相输入端接所述第二基准电压，所述第二运算放大器的输出端作为所述第二比较电路的输出端。优选的，所述第一基准电压大于所述第二基准电压。优选的，所述第三电阻的阻值远远大于所述第二电阻的阻值。经由上述的技术方案可知，与现有技术相比，本专利技术提供了一种码盘光电传感器检测电路，包括:第一比较电路以及第二比较电路。其中，第一比较电路的输入端与外接光电传感器的输出端相连，用于检测外接光电传感器的输出信号的电压变化量，根据电压变化量以及第一基准电压，输出第一电压信号。第二比较电路的输入端与第一比较电路的输出端相连，用于将第一电压信号转化为一 TTL电平信号，以使外接微控制器根据TTL电平信号对码盘叶片进行计数。可见，本专利技术提供的码盘光电传感器检测电路，在积灰出现光电传感器的输出信号浮高时，由于是检测光电传感器输出信号的电压变化量，并不会出现积灰影响码盘的计数的现象。【专利附图】【附图说明】为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为光电码盘的结构示意图；图2为现有技术中码盘检测电路的原理图；图3为现有技术中光电传感器输出端电压的波形图；图4为本专利技术提供的一种码盘光电传感器检测电路的原理图；图5为采用本专利技术提供的一种码盘光电传感器检测电路后各点的电压波形图。【具体实施方式】下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术提供了一种码盘光电传感器检测电路，包括:第一比较电路以及第二比较电路。其中，第一比较电路的输入端与外接光电传感器的输出端相连，用于检测外接光电传感器的输出信号的电压变化量，根据电压变化量以及第一基准电压，输出第一电压信号。第二比较电路的输入端与第一比较电路的输出端相连，用于比较第一电压信号与第二基准电压，输出一 TTL电平信号，以使外接微控制器根据TTL电平信号对码盘叶片进行计数。可见，本专利技术提供的码盘光电传感器检测电路，在积灰出现光电传感器的输出信号浮高时，由于是检测光电传感器输出信号的电压变化量，并不会出现积灰影响码盘的计数的现象。请参阅图2，为现有技术中码盘检测电路的原理图，其中，3代表光电传感器，101代表光电传感器的检测电路，2代本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种码盘光电传感器检测电路，其特征在于，包括：第一比较电路以及第二比较电路；所述第一比较电路的输入端与外接光电传感器的输出端相连，用于检测所述外接光电传感器的输出信号的电压变化量，根据所述电压变化量以及第一基准电压，输出第一电压信号；所述第二比较电路的输入端与所述第一比较电路的输出端相连，用于将所述第一电压信号转化为一TTL电平信号，以使外接微控制器根据所述TTL电平信号对码盘叶片进行计数。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张海堂，李喆，何云飞，陈强，
申请(专利权)人：广州广电运通金融电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：