本发明专利技术的目的是提供一种测试仪继电器控制位检测装置及方法，以解决现有技术中测试仪继电器控制位检测方法费时费力、效率低的问题，该检测装置，包括测试仪继电器控制位、控制位接口、连接线，还包括检测板、所述检测板上设有检测单元，所述检测单元由与测试仪继电器控制位相对应的继电器、LED灯组、电阻构成，LED灯组一端与继电器连接，LED灯组另一端与电阻串联；该检测方法，将检测板上的继电器、LED灯组通过连接线连接到控制位接口，通过控制位接口连接测试仪继电器控制位，通过LED灯组的不同颜色灯亮，检测人员可以直观快速的判断测试仪继电器控制位是否失效，大地降低检测人员的检测时间，节约了人力和时间成本。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术的目的是提供，以解决现有技术中测试仪继电器控制位检测方法费时费力、效率低的问题，该检测装置，包括测试仪继电器控制位、控制位接口、连接线，还包括检测板、所述检测板上设有检测单元，所述检测单元由与测试仪继电器控制位相对应的继电器、LED灯组、电阻构成，LED灯组一端与继电器连接，LED灯组另一端与电阻串联；该检测方法，将检测板上的继电器、LED灯组通过连接线连接到控制位接口，通过控制位接口连接测试仪继电器控制位，通过LED灯组的不同颜色灯亮，检测人员可以直观快速的判断测试仪继电器控制位是否失效，大地降低检测人员的检测时间，节约了人力和时间成本。【专利说明】—种测试仪继电器控制位检测装置及方法
本专利技术涉及半导体测试设备领域，具体涉及。
技术介绍
电子产品的测试仪器硬件部分由测量单元和继电器控制位等组成，在IC的测试过程中会频繁的使用继电器控制位来控制DUT板的继电器动作来进行IC各项SPEC的测试，受继电器控制位的质量和寿命影响，继电器控制位很容易失效，属于易损坏器件，当测试仪继电器控制位失效，那么在测试仪使用中会导致测试失效，因此异常可能造成严重的质量后果，而传统的继电器控制位检测方法就是闭合测试仪的控制位，然后通过万用表进行检测判断该控制位是否损坏失效，花费检测人员的大量时间和精力。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种测试仪继电器控制位检测装置。本专利技术的另一个目的是提供一种测试仪继电器控制位检测方法，以解决现有技术中测试仪继电器控制位检测方法费时费力、效率低的问题。一种测试仪继电器控制位检测装置，包括测试仪继电器控制位、控制位接口、连接线，还包括检测板、所述检测板上设有检测单元，所述检测单元由与测试仪继电器控制位CBIT相对应的继电器K、LED灯组、电阻R构成，LED灯组一端与继电器K连接，LED灯组另一端与电阻R串联。所述检测单元并列设有多个。所述LED灯组包括LED红灯和LED绿灯。一种测试仪继电器控制位检测方法，包括如下步骤: A、将检测板通过连接线连接到控制位接口J，通过控制位接口 J连接测试仪继电器控制位CBIT ； B、测试仪继电器控制位CBIT断开或闭合检测:接通测试仪继电器控制位CBIT对应的检测单元4，LED绿灯亮，则LED绿灯对应的测试仪继电器控制位CBIT正常，LED红灯亮，则LED红灯对应的测试仪继电器控制位CBIT异常。进一步地，步骤B中将所有测试仪继电器控制位CBIT闭合或断开进行检测，与继电器K串联的LED灯组的LED绿灯亮，则LED绿灯对应的测试仪继电器控制位CBIT正常，LED红灯LI亮，则LED红灯LI对应的测试仪继电器控制位CBIT异常。进一步地，步骤B中将所有奇数位测试仪继电器控制位CBIT断开或闭合，偶数位测试仪继电器控制位CBIT闭合或断开检测，所有奇数位LED绿灯亮，如果某个奇数位LED红灯亮，则LED红灯对应的测试仪继电器控制位CBIT异常，所有偶数位LED绿灯亮，如果某个偶数位LED红灯亮，则LED红灯LI对应的测试仪继电器控制位CBIT异常。进一步地，步骤B中依次逐个将奇数位测试仪继电器控制位CBIT断开或闭合，与继电器K串联的LED灯组的LED绿灯亮，则LED绿灯对应的测试仪继电器控制位CBIT正常，LED红灯亮，则LED红灯对应的测试仪继电器控制位CBIT异常。本专利技术的优点是:将测试仪所有的控制位定义到固定控制位接口上，由控制位接口上的继电器控制位与检测板上的继电器对应，每个继电器的常开和常闭状态各对应一种定义好的LED灯组颜色，通过LED灯组的不同颜色灯亮，检测人员可以直观快速的判断测试仪继电器控制位是否失效，从而指导维修人员对失效的测试仪继电器进行快速修复，大地降低检测人员的检测时间，节约了人力和时间成本。【专利附图】【附图说明】图1是本专利技术一种测试仪继电器控制位检测装置结构示意图； 图2是本专利技术的局部电路示意图。【具体实施方式】下面的实施例可以进一步说明本专利技术，但不以任何方式限制本专利技术。如图1所示，一种测试仪继电器控制位检测装置，包括测试仪继电器控制位CBIT、控制位接口 J、连接线3，还包括检测板2、检测板2上设有检测单元4，检测单元4由与测试仪继电器控制位CBIT相对应的继电器K、LED灯组、电阻R构成，LED灯组一端与继电器K连接，LED灯组另一端与电阻R串联，检测单元4并列设有多个，LED灯组包括LED红灯LI和LED绿灯L2。本测试仪继电器控制位检测方法是: A、将检测板2通过连接线3连接到控制位接口J，通过控制位接口 J连接测试仪继电器控制位CBIT ； B、测试仪继电器控制位CBIT断开或闭合检测:接通测试仪继电器控制位CBIT对应的检测单元4，LED绿灯L2亮，则LED绿灯L2对应的测试仪继电器控制位CBIT正常，LED红灯LI亮，则LED红灯LI对应的测试仪继电器控制位CBIT异常。实施例1 步骤I将检测板2通过连接线3连接到控制位接口 J，通过控制位接口 J连接测试仪继电器控制位CBIT。步骤2将所有测试仪继电器控制位CBIT闭合或断开进行检测，与继电器K串联的LED灯组的LED绿灯L2亮，则LED绿灯L2对应的测试仪继电器控制位CBIT好，LED红灯LI亮，则LED红灯LI对应的测试仪继电器控制位CBIT坏。实施例2 步骤I同实施例1。步骤2将所有奇数位测试仪继电器控制位CBIT断开或闭合，偶数位测试仪继电器控制位CBIT闭合或断开检测，所有奇数位LED绿灯L2亮，如果某个奇数位LED红灯LI亮，则LED红灯LI对应的测试仪继电器控制位CBIT异常，所有偶数位LED绿灯L2亮，如果某个偶数位LED红灯LI亮，则LED红灯LI对应的测试仪继电器控制位CBIT异常。实施例3 步骤I同实施例1。步骤2依次逐个将奇数位测试仪继电器控制位CBIT断开或闭合，与继电器K串联的LED灯组的LED绿灯L2亮，则LED绿灯L2对应的测试仪继电器控制位CBIT正常，LED红灯LI亮，则LED红灯LI对应的测试仪继电器控制位CBIT异常。【权利要求】1.一种测试仪继电器控制位检测装置，包括测试仪继电器控制位、控制位接口、连接线，其特征在于:还包括检测板(2)、所述检测板(2)上设有检测单元(4)，所述检测单元(4)由与测试仪继电器控制位(CBIT)相对应的继电器(K)、LED灯组、电阻(R)构成，所述LED灯组一端与继电器(K)连接，所述LED灯组另一端与电阻(R)串联。2.根据权利要求1所述的一种测试仪继电器控制位检测装置，其特征在于:所述检测单元(4)并列设有多个。3.根据权利要求1或2所述的一种测试仪继电器控制位检测装置，其特征在于:所述LED灯组包括LED红灯(LI)和LED绿灯(L2)。4.一种测试仪继电器控制位检测方法，其特征在于:包括如下步骤: A、将检测板(2)通过连接线(3)连接到控制位接口(J)，通过控制位接口(J)连接测试仪继电器控制位(CBIT)； B、测试仪继电器控制位(CBIT)断开或闭合检测:接通测试仪继电器控制位(CBIT)对应的检测单元(4)，LED绿灯(L2)亮，则LED绿灯(L2)对应的测试仪继电器控制位(CBIT)正常，LED红灯(LI)本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种测试仪继电器控制位检测装置，包括测试仪继电器控制位、控制位接口、连接线，其特征在于：还包括检测板（2）、所述检测板（2）上设有检测单元（4），所述检测单元（4）由与测试仪继电器控制位（CBIT）相对应的继电器（K）、LED灯组、电阻（R）构成，所述LED灯组一端与继电器（K）连接，所述LED灯组另一端与电阻（R）串联。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：李会峰，霍军军，张云超，
申请(专利权)人：天水华天科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：甘肃;62
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