用于多光谱辐射测温系统的发射率系数自校准装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种多光谱辐射测温系统的发射率系数自校准装置和方法，包括宽谱光源和依次设置在宽谱光源出射光路上的入射准直透镜组、出射准直透镜组，待测量火焰设置在入射准直透镜组和出射准直透镜组之间。本发明专利技术在多光谱辐射测温系统所穿过测量火焰的相同路径上，设置了发射率系数自校准系统，通过记录宽谱光源、火焰、宽谱光源联合火焰的光谱参数，得到了不同波长下的火焰发射率系数，用于多光谱辐射测温系统的参数校正，克服了传统理论计算修正中的模型误差，提高了测量不确定度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学测量传感领域，特别是提供了一种用于光谱辐射测温系统的发射率系数校准装置及方法。
技术介绍
火焰温度是燃烧反应中的一个重要状态参数，利用这个参数可以较好地了解燃烧过程中的热能变化，以及燃烧过程中以辐射、对流及导热为形式的热量传递过程。火焰温度分布测量通常有接触法和非接触法，其中非接触法因为对火焰场引入干扰较少而应用较广。在非接触法温度参数测量中，基于光谱辐射原理的测温法是一种常用的方法，通过测量光谱辐射强度和波长的关系计算得到温度值，其基本原理如下:火焰的强度和波长是温度的函数，其谱功率密度出射度E( X，T)可用Plank公式表示为

【技术保护点】
用于多光谱辐射测温系统的发射率系数自校准装置，特征在于：包括宽谱光源（1）和依次设置在宽谱光源出射光路上的入射准直透镜组（3）、出射准直透镜组（5），所述的待测量火焰（4）设置在入射准直透镜组（3）和出射准直透镜组（5）之间，宽谱光源（2）出射光经过入射准直透镜组（3）准直后，穿过火焰的待测量区域，并经出射准直透镜组（5），耦合进用于多光谱辐射测温的光谱仪（6）。

【技术特征摘要】
1.用于多光谱辐射测温系统的发射率系数自校准装置，特征在于:包括宽谱光源(I)和依次设置在宽谱光源出射光路上的入射准直透镜组(3)、出射准直透镜组(5)，所述的待测量火焰(4 )设置在入射准直透镜组(3 )和出射准直透镜组(5 )之间，宽谱光源(2 )出射光经过入射准直透镜组(3)准直后，穿过火焰的待测量区域，并经出射准直透镜组(5)，耦合进用于多光谱辐射测温的光谱仪(6 )。2.根据权利要求1所述的用于多光谱辐射测温系统的发射率系数自校准装置，其特征在于:所述的宽谱光源(I)为超连续谱激光器或发光二极管宽谱光源，所述的宽谱光源配置有驱动调制单元，实现输出光的快速开启和关闭。3.根据权利要求1所述的用于多光谱辐射测温系统的发射率系数自校准装置，其特征在于:所述的宽谱光源(I)为黑体源、钨带灯、卤素灯、硅碳棒灯；所述的宽谱光源(I)和入射准直透镜组(3)之间或者入射准直透镜组(3)和火焰(4)之间设置有快速开关的光闸(2)。4.根据权利要求1至3任意之一所述的用于多光谱辐射测温系统的发射率系数自校准装置，其特征在于:所述的光谱仪(6)为光纤光谱仪，所述光纤光谱仪的输入光纤与出射准直透镜组(5)的出口相...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈绍武，张磊，陶蒙蒙，刘福华，吴勇，冯刚，赵海川，
申请(专利权)人：西北核技术研究所，
类型：发明
国别省市：