光电探测器的最佳本振光功率的测量方法技术

光电探测器的最佳本振光功率的测量方法，为了解决过强的本振光会使光电探测器损坏的问题。它包括：步骤一：利用外差接收机结构，信号光和本振光在待测光电探测器光敏面上发生混频,求得待测光电探测器输出的电流id；步骤二：根据待测光电探测器与任意后接放大器的等效电路、所述待测光电探测器输出的电流id和平方率探测原理，求得信号光功率S和噪声功率N，并根据求得的信号光功率S和噪声功率N，求出信噪比步骤三：求取当步骤二求得的信噪比最大时的本振光功率，所述本振光功率为待测光电探测器的最佳本振光功率。它用于光电探测器的最佳本振光功率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种最佳本振光功率的测量方法，特别涉及一种。
技术介绍
在外差探测系统中，通常利用本振光和待测区域目标的后向散射信号光的匹配混频来提取待测参数的信息。所谓的匹配过程有偏振态匹配、振幅匹配以及相位匹配三种。振幅匹配并不困难，通过选择适当的本振光功率就可达到较好的匹配。对于相干激光多普勒测风雷达而言，本振光噪声是影响光外差探测的重要因素，从转换增益的角度考虑，希望本振光强，但是这又会使本振光噪声增加，使信噪比降低。从光电探测器角度讲，过强的本振光功率会造成探测器灵敏度的变化，使光电探测器进入非线性工作区域，进而影响信噪比。另外，过强的本振光会使光电探测器损坏，所以存在一个最佳的本振光功率使系统的信噪比达到最大。
技术实现思路
本专利技术的目的是为了解决过强的本振光会使光电探测器损坏的问题，本专利技术提供一种。，它包括如下步骤:步骤一:利用外差接收机结构，信号光和本振光在待测光电探测器光敏面上发生混频，求得待测光电探测器输出的电流id;步骤二:根据待测光电探测器与任意后接放大器的等效电路、所述待测光电探测器输出的电流id和平方率探测原理，求得信号光功率S和噪声功率N，并根据求得的信号光功率S和噪声功率N，求出信噪比

【技术保护点】
光电探测器的最佳本振光功率的测量方法，其特征在于，它包括如下步骤：步骤一：利用外差接收机结构，信号光和本振光在待测光电探测器光敏面上发生混频,求得待测光电探测器输出的电流id；步骤二：根据待测光电探测器与任意后接放大器的等效电路、所述待测光电探测器输出的电流id和平方率探测原理，求得信号光功率S和噪声功率N，并根据求得的信号光功率S和噪声功率N，求出信噪比步骤三：求取当步骤二求得的信噪比最大时的本振光功率，所述本振光功率为待测光电探测器的最佳本振光功率。FDA0000440785520000011.jpg,FDA0000440785520000012.jpg

【技术特征摘要】
1.光电探测器的最佳本振光功率的测量方法，其特征在于，它包括如下步骤: 步骤一:利用外差接收机结构，信号光和本振光在待测光电探测器光敏面上发生混频，求得待测光电探测器输出的电流id; 步骤二:根据待测光电探测器与任意后接放大器的等效电路、所述待测光电探测器输出的电流id和平方率探测原理，求得信号光功率S和噪声功率N，并根据求得的信号光功率S和噪声功率N，求出信噪比 2.根据权利要求1所述的光电探测器的最佳本振光功率的测...

【专利技术属性】
技术研发人员：李彦超，高扬，杨九如，冉玲苓，柳春郁，丁群，朱勇，王春晖，
申请(专利权)人：黑龙江大学，
类型：发明
国别省市：