检测电子产品落水深度的方法及电子产品技术

技术编号:9616963 阅读:135 留言:0更新日期:2014-01-30 04:08
本发明专利技术公开了检测电子产品落水深度的方法及电子产品,其方法包括:A、采集电子产品的加速度值,判断电子产品的运动符合自由落体运动,若是则执行步骤B;B、继续采集电子产品的加速度值,当加速度值满足水面冲击数值时,记录电子产品做自由落体运动的时间;C、采集电子产品在水中下沉的加速度,并记录电子产品在水中下沉的时间;D、根据自由落体运动的时间、在水中下沉的加速度和下沉的时间计算电子产品落水的深度。本发明专利技术通过记录电子产品做自由落体运动的时间、在水中下沉的加速度和下沉的时间计算电子产品落水的深度,使厂家能够直接判断电子产品是否符合入水条件,从而能够判断电子产品是否符合保修范围。

Method for detecting depth of falling water of electronic product and electronic product

The invention discloses a detection method of water depth of electronic products and electronic products, the method comprises the following steps: A, acquisition of electronic products, electronic products, acceleration value judgment conforms to the free fall, and then executing step B; B, electronic products continue to collect acceleration value when the acceleration value satisfies the water impact value, record electronic products free fall time; C, acquisition of electronic products in the sinking of the acceleration, and record the electronic products in the sinking of time; D, according to the free fall time, the sinking of acceleration and sinking time calculation of electronic products of water depth. The invention of electronic products by recording the free fall time, the sinking of acceleration and sinking time calculation of electronic products into the depth, so that manufacturers can directly determine whether the products meet the conditions of electron into the water, so as to determine whether the products meet the electronic warranty.

【技术实现步骤摘要】
检测电子产品落水深度的方法及电子产品
本专利技术涉及电子产品,特别涉及一种检测电子产品落水深度的方法及电子产品。
技术介绍
电子消费产品(如智能手机)的发展非常迅速,基本达到了人手一部甚至多部的状态。目前,融合了各种先进电子技术的高性能智能手机的功能越来越强大,其价格也不菲,一款新型旗舰机的价格甚至超过了一台电脑的价格。但是,这样的一部手机如果不小心掉入水中,由于手机的电池仍然在对手机电路系统供电,会导致手机电路发生短路损坏手机,目前厂家及商家的保修条款里对手机进水都明确不予保修,直接增加了消费者的维修费用。为了解决上述问题,市面上已经出现了防水手机,防水手机主要采用的是纳米涂层技术,对手机的全部可能进水的部件做纳米喷涂处理,经过处理后的手机可以到达行业内规范的防水要求(例如:IPX7),即满足在水深I米情况下,浸入30分钟内不会造成产品的进水损坏。但是如果超出上述标准的入水条件,则仍然可能导致手机的进水损坏,在维修时,厂家需要判断手机是否符合上述入水条件来判断其是否符合保修范围。而电子产品的落水深度,是判断电子产品是否损坏的重要条件,而现有的电子产品均不具备检测其落水深度的功能。有鉴于此,本专利技术提供一种检测电子产品落水深度的方法及电子产品。
技术实现思路
鉴于上述现有技术的不足之处,本专利技术的目的在于提供一种检测电子产品落水深度的方法及电子产品,以解决现有技术不能检测电子产品的落水深度的问题。为了达到上述目的,本专利技术采取了以下技术方案: 一种检测电子产品落水深度的方法,其包括: A、采集电子产品的加速度值,判断电子产品的运动符合自由落体运动,若是则执行步骤B; B、继续采集电子产品的加速度值,当所述加速度值满足水面冲击数值时,记录电子产品做自由落体运动的时间; C、采集电子产品在水中下沉的加速度,并记录电子产品在水中下沉的时间; D、根据所述自由落体运动的时间、在水中下沉的加速度和下沉的时间计算电子产品落水的深度。所述的检测电子产品落水深度的方法,还包括步骤E、存储电子产品落水的深度和落水时间。所述的检测电子产品落水深度的方法中,所述落水时间为电子产品从进入水面至露出水面的时间。所述的检测电子产品落水深度的方法中,所述电子产品落水的深度的计算方式为:H=gtlt+'/2at2 其中,H为电子产品落水的深度,g为重力加速度,tl为电子产品做自由落体运动的时间,a为电子产品在水中下沉的加速度,t为电子产品在水中下沉的时间。所述的检测电子产品落水深度的方法中,所述步骤B具体包括:继续采集电子产品的加速度值,当所述加速度值由快变慢时,判断电子产品受到水面冲击,并记录电子产品自由落体运动的时间 。所述的检测电子产品落水深度的方法中,电子产品自由落体运动的时间为电子产品从跌落的起始时间到接触水面的时间的差值。所述的检测电子产品落水深度的方法中,电子产品在水中下沉的时间为电子产品从接触水面的时间到沉入水底的时间的差值。一种用于实现上述检测电子产品落水深度的方法的电子产品,其包括: 加速传感器,用于检测电子产品运动的加速度值; 计时器,用于记录电子产品做自由落体运动的时间和在水中下沉的时间; 处理器,用于判断电子产品的运动符合自由落体运动,加速度值是否满足水面冲击数值;及根据所述自由落体运动的时间、在水中下沉的加速度和下沉的时间计算电子产品落水的深度。所述的电子产品中,还用于记录电子产品的落水时间; 所述电子产品还包括存储器,用于存储电子产品落水的深度和落水时间。所述的电子产品中,所述电子产品落水的深度的计算方式为:H=gtlt+'/2at2 其中,H为电子产品落水的深度,g为重力加速度,tl为电子产品做自由落体运动的时间,a为电子产品在水中下沉的加速度,t为电子产品在水中下沉的时间。相较于现有技术,本专利技术提供的检测电子产品落水深度的方法及电子产品,通过记录电子产品做自由落体运动的时间、在水中下沉的加速度和下沉的时间计算电子产品落水的深度,使厂家能够直接判断电子产品是否符合入水条件,从而能够判断电子产品是否符合保修范围。【附图说明】图1为本专利技术检测电子产品落水深度的方法的流程图。图2为本专利技术电子产品的结构框图。【具体实施方式】本专利技术提供一种检测电子产品落水深度的方法及电子产品,为使本专利技术的目的、技术方案及效果更加清楚、明确,以下参照附图并举实施例对本专利技术进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术,并不用于限定本专利技术。请参阅图1,其为本专利技术检测电子产品落水深度的方法的流程图。如图1所示,本专利技术的检测电子产品落水深度的方法包括: S100、采集电子产品的加速度值,判断电子产品的运动符合自由落体运动,若是则执行步骤S200 ;若否,则继续采集电子产品的加速度值 S200、继续采集电子产品的加速度值,当所述加速度值满足水面冲击数值时,记录电子产品做自由落体运动的时间; S300、采集电子产品在水中下沉的加速度,并记录电子产品在水中下沉的时间; S400、根据所述自由落体运动的时间、在水中下沉的加速度和下沉的时间计算电子产品落水的深度。本专利技术实施例中,所述电子产品包括智能手机、平板电脑等。以智能手机为例,力口速度传感器器已成为智能手机的常规配置,在智能手机达到IPX7防水级别的防水性能后,本专利技术通过智能手机在脱手至下沉到水底的过程中,通过智能手机做自由落体运动的时间、在水中下沉的时间和下沉的加速度,就能测量智能手机入水的深度,以解决厂家判定智能手机入水条件是否满足防水标准,从而确认智能手机是否符合保修范围。具体实施时,电子产品需要在供电的状态下进行检测,使加速度传感器、计时器等部件能够正常工作,并且电子产品入水时一般处于供电状态。优选的实施例中,在电子产品中设置有储电元件,用于在电子产品断电后的预定时间(如5-lOs)内给电子产品供电,使其能够完成水深的计算及存储。由于电子产品在各种运动的情况下其加速度值不同,电子产品做自由落体运动时,通过对加速度传感器的参数进行采集判断。在做自由落体运动时,重力加速的值是9.8M/S2,并且垂直向下,所以可以通过读取加速度传感器的值,再去除重力加速分量后,判断电子产品沿着地球重力垂直向下方向上有加速的改变,通过设置在垂直向下方向的不同的加速度阀值,可以分析出物体在跌落冲击接触水面,并结合机身重量和体积后,且该电子产品在水中下沉的速度有其明显值域特征,通过上述动作过程结合判断,就可以检测出电子产品跌落入水这一过程。在步骤SlOO中,当电子产品的加速度值满足重力加速度时,判断电子产品在做自由落体运动,并在电子产品跌落的起始时间开始计时。在步骤S200中,电子产品自由落体运动的时间为电子产品从跌落的起始时间到接触水面的时间的差值,即起始时间为电子产品脱手跌落的时间,结束时间为电子产品结束自由落体运动时接触水面的时间,两个时间的差值即得到电子产品做匀加速直线运动的时间。当然,电子产品在跌落里也可能是被向上甩出,此时应从电子产品向上抛出的最高点开始计时,即电子产品自由落体运动的时间为电子产品在最高点(此时速度为零)到接触水面的时间差值。由于电子产品掉落接触到不同密度的物质时,该物质对电子产品冲击导致其加速度不同,本专利技术通过读取电子产本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测电子产品落水深度的方法,其特征在于,包括:A、采集电子产品的加速度值,判断电子产品的运动符合自由落体运动,若是则执行步骤B;B、继续采集电子产品的加速度值,当所述加速度值满足水面冲击数值时,记录电子产品做自由落体运动的时间;C、采集电子产品在水中下沉的加速度,并记录电子产品在水中下沉的时间;D、根据所述自由落体运动的时间、在水中下沉的加速度和下沉的时间计算电子产品落水的深度。

【技术特征摘要】
1.一种检测电子产品落水深度的方法,其特征在于,包括: A、采集电子产品的加速度值,判断电子产品的运动符合自由落体运动,若是则执行步骤B; B、继续采集电子产品的加速度值,当所述加速度值满足水面冲击数值时,记录电子产品做自由落体运动的时间; C、采集电子产品在水中下沉的加速度,并记录电子产品在水中下沉的时间; D、根据所述自由落体运动的时间、在水中下沉的加速度和下沉的时间计算电子产品落水的深度。2.根据权利要求1所述的检测电子产品落水深度的方法,其特征在于,还包括步骤E、存储电子产品落水的深度和落水时间。3.根据权利要求2所述的检测电子产品落水深度的方法,其特征在于,所述落水时间为电子产品从进入水面至露出水面的时间。4.根据权利要求1所述的检测电子产品落水深度的方法,其特征在于,所述电子产品落水的深度的计算方式为: H=gt1t+'/2at2 其中,H为电子产品落水的深度,g为重力加速度,h为电子产品做自由落体运动的时间,a为电子产品在水中下沉的加速度,t为电子产品在水中下沉的时间。5.根据权利要求1所述的检测电子产品落水深度的方法,其特征在于,所述步骤B具体包括:继续采集电子产品的加速度值,当所述加速度值由快变慢时,判断电子产品受到水面冲击,并记录电子产...

【专利技术属性】
技术研发人员:王云辉张杰
申请(专利权)人:惠州TCL移动通信有限公司
类型:发明
国别省市:

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