【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种测试治具包括一本体，该本体的第一表面上设有两收容孔；两个插针，每个插针的第一端收容于一收容孔内；两根导线，每一根导线的第一端分别与一插针的第一端电性相连，两根导线的另一端分别用于与待测装置的测试点及参考点焊接，每一插针的第二端用于将待测装置的测试点及参考点的信号导出。本专利技术测试治具的正极探棒及该电压表的正极通过一导线及一插针与测试点相连，进而有效地提高了测试的准确度。【专利说明】测试治具
本专利技术涉及一种测试治具，特别涉及一种用于测试内存条电气特性的测试治具。
技术介绍
现在对内存芯片的电气特性进行测试时，需测试者手握着示波器的正极探棒以与一测试点相连，还需握着不波器的负极探棒以与一参考点相连。同时，还需将一电压表的正极与负极分别连接至该测试点及参考点，以获得该测试点与参考点的电压。然而，若该测试点与参考点的距离较远，用户需双手分别握着一探棒，当需要调试仪器时，用户则无法空出手来调试，进而给测试带来不便。另外，由于一个测试点需同时与该正极探棒及该电压表的正极相连，一个参考点需同时与该负极探棒及该电压表的负极相连，而一般的测试点或参考点的接触面积较小，因而有可能在测试时因无法充分接触而导致测试结果不准确。
技术实现思路
鉴于以上内容，有必要提供一种方便测试的测试治具。一种测试治具包括: 一本体，该本体的第一表面上设有两收容孔； 两个插针，每个插针的第一端收容于一收容孔内； 两根导线，每一根导线的第一端分别与一插针的第一端电性相连，两根导线的另一端分别用于与待测装置的测试点及参考点焊接，每一插针的第二端用于将待测装置的测试点...
【技术保护点】
一种测试治具包括：一本体，该本体的第一表面上设有两收容孔；两个插针，每个插针的第一端收容于一收容孔内；两根导线，每一根导线的第一端分别与一插针的第一端电性相连，两根导线的另一端分别用于与待测装置的测试点及参考点焊接，每一插针的第二端用于将待测装置的测试点及参考点的信号导出。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：王太诚，杨雷雷，李月姣，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业武汉有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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