部件检查装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种部件检查装置，其通过可以利用一台部件检查装置一次进行多个电子部件的共面检查，从而抑制电子部件安装装置自身的大型化，并且缩短共面检查所花费的时间。其具有：照射部，其向电子部件照射光；拍摄部，其对由照射部照射的电子部件进行拍摄；保持部，其保持多个电子部件，以将多个电子部件配置在拍摄部的拍摄范围内；间隔调整部，其对在保持部上保持的电子部件和拍摄部之间的间隔进行调整；以及检查部，其利用间隔调整部使间隔以规定的间距分别不同，并通过对位于拍摄部的拍摄范围内的多个电子部件间歇性地进行拍摄，从而取得规定数量的图像数据，基于规定数量的图像数据，分别识别多个的电子部件，并对各自的平坦度进行检查。

【技术实现步骤摘要】
部件检查装置
本专利技术涉及一种部件检查装置。
技术介绍
当前，在将电子部件向基板上安装的电子部件安装装置中，在将电子部件向基板上安装之前，必须对电子部件的电极的平坦度（共面）进行检查。因此，搭载有对电子部件进行拍摄的部件检查装置（例如，参照专利文献1）。在现有的部件检查装置中，由于每1次进行1个电子部件的共面检查，所以与作为前工序的二维识别处理及作为后工序的电子部件安装相比，耗费时间。为了填补该时间差而开发了下述装置，其通过设置多个部件检查装置，从而可以一次执行多个电子部件的共面检查。专利文献1：日本专利第4610437号公报但是，实际情况是，如果设置多个部件检查装置，则无论如何都会使设置空间增大，使得电子部件安装装置自身大型化。
技术实现思路
本专利技术的课题是，通过可以利用一台部件检查装置一次进行多个电子部件的共面检查，从而抑制电子部件安装装置自身的大型化，并且缩短共面检查所花费的时间。技术方案1记载的专利技术所涉及的部件检查装置的特征在于，具有：照射部，其向电子部件照射光；拍摄部，其对由所述照射部照射的所述电子部件进行拍摄；保持部，其对多个所述电子部件进行保持，以将所述多个所述电子部件配置在所述拍摄部的拍摄范围内；间隔调整部，其对在所述保持部上保持的所述电子部件和所述拍摄部之间的间隔进行调整；以及检查部，其在利用所述间隔调整部使所述间隔以规定的间距分别不同的同时，通过对位于所述拍摄部的拍摄范围内的所述多个所述电子部件间歇性地进行拍摄，从而取得规定数量的图像数据，基于所述规定数量的图像数据，分别识别所述多个的所述电子部件，并对各自的平坦度进行检查。技术方案2记载的专利技术的特征在于，在技术方案1记载的部件检查装置中，所述多个所述电子部件为分别不同的种类。技术方案3记载的专利技术的特征在于，在技术方案1或2记载的部件检查装置中，对于所述多个所述电子部件中的每一个，为了检查该电子部件所必要的所述图像数据的所述规定数量不同，所述检查部从得到了所述规定数量的图像数据的所述电子部件开始依次执行平坦度的测定。技术方案4记载的专利技术的特征在于，在技术方案1至3中任一项所记载的部件检查装置中，所述间隔的调整速度、所述间距以及所述规定数量，是相对于所述多个所述电子部件中的每一个而自由变更的。技术方案5记载的专利技术的特征在于，在技术方案1至4中任一项所记载的部件检查装置中，所述间隔调整部的所述间隔的调整范围，是相对于每个所述电子部件而自由变更的。专利技术的效果根据本专利技术，通过可以利用一台部件检查装置一次进行多个电子部件的共面检查，从而抑制电子部件安装装置的大型化，并且缩短共面检查所花费的时间。附图说明图1是表示本实施方式所涉及的部件检查装置的主要控制结构的框图。图2是表示图1的部件检查装置所具有的驱动部的概略结构的斜视图。图3是表示利用图1的部件检查装置进行的处理的流程的流程图。图4是利用图1的部件检查装置以不同的精度对2个电子部件同时实施共面检查的情况下的说明图，（a）是仰视图，（b）是侧视图。图5是图4所示的流程图的变形例。图6是表示在拍摄范围内设定了与各电子部件对应的区域的状态的说明图。图7是在针对2个电子部件分别设定区域后，以不同的精度同时实施共面检查的情况下的说明图，（a）是仰视图，（b）是侧视图。图8是表示在拍摄范围内配置的电子部件的配置例的说明图。符号的说明1部件检查装置10驱动部11照射部12拍摄部13保持部20图像处理装置（检查部）30主控制部（检查部）131第一吸附吸嘴131aX轴电动机131bY轴电动机131cZ轴电动机（间隔调整部）131dθ轴电动机132第二吸附吸嘴132aX轴电动机132bY轴电动机132cZ轴电动机（间隔调整部）132dθ轴电动机P1、P2电子部件Q拍摄范围具体实施方式对本专利技术所涉及的部件检查装置的实施方式进行说明。该部件检查装置设置在用于将电子部件向基板上安装的部件安装装置中。图1是表示部件检查装置的主要控制结构的框图。如图1所示，在部件检查装置1中具有：驱动部10；图像处理装置20；以及对它们进行控制的主控制部30。在驱动部10中具有：照射部11，其对电子部件P1、P2（参照图2）照射光；拍摄部12，其对由照射部11照射的电子部件P1、P2进行拍摄；以及保持部13，其对多个电子部件P1、P2进行保持，以将多个电子部件P1、P2配置在拍摄部12的拍摄范围内。图2是表示驱动部10的概略结构的斜视图。如图2所示，在拍摄部12的上方配置照射部11，在其上方配置由保持部13保持的电子部件P1、P2。在拍摄部12中配置有由下述部分构成的光学系统：CCD或者CMOS拍摄元件，其对被拍摄体图像进行拍摄；以及固定焦点透镜，其设置在该拍摄元件的前方。即，拍摄部12是固定焦点的拍摄装置。此外，在该拍摄部12的拍摄时得到的图像信号，被输出至图像处理装置20。照射部11由下述部分构成：俯视观察时为正方形状且内部中空的长方体的壳体11a；从壳体内底部的四周进行光照射的多个发光元件11b；以及从壳体内上部的四周进行光照射的多个发光元件11c。照射部11的壳体11a在上部和下部开口。另外，通过保持部的驱动使电子部件P1、P2从上侧的开口部下降，进入壳体11a内，在从四周进行光照射的状态下，穿过下侧的开口部，由拍摄部12进行电子部件P1、P2的拍摄。在保持部13上，设置有分别保持多个电子部件P1、P2的第一吸附吸嘴131以及第二吸附吸嘴132。另外，如图2所示，在保持部13上具有：X轴电动机131a，其用于使第一吸附吸嘴131沿X方向移动；Y轴电动机131b，其用于使第一吸附吸嘴131沿Y方向移动；Z轴电动机131c，其用于使第一吸附吸嘴131沿Z方向移动；以及θ轴电动机131d，其用于使第一吸附吸嘴131绕Z轴旋转。相同地，在保持部13上具有：X轴电动机132a，其用于使第二吸附吸嘴132沿X方向移动；Y轴电动机132b，其用于使第二吸附吸嘴132沿Y方向移动；Z轴电动机132c，其用于使第二吸附吸嘴132沿Z方向移动；以及θ轴电动机132d，其用于使第二吸附吸嘴132绕Z轴旋转。在这里，由于Z轴是沿拍摄部12的光轴的方向，所以通过使Z轴电动机131c、132c进行驱动，从而调整由保持部13保持的电子部件P1、P2和拍摄部12之间的间隔。即，Z轴电动机131c、132c是本专利技术所涉及的间隔调整部。另外，拍摄部12的拍摄的执行和照射部11的光照射的执行，是通过主控制部30控制的。另外，通过拍摄部12的拍摄而得到的图像信号，如上述所示输入至图像处理装置20。主控制部30还对部件检查装置1和电子部件安装装置的各部分进行控制。主控制部30主要具有：未图示的存储器，其对安装计划数据进行存储；以及CPU31，其执行安装动作控制程序。在该安装计划数据中确定有：成为安装对象的电子部件P1、P2的列表及其搭载顺序、各电子部件P1、P2在基板上的搭载位置、表示各电子部件P1、P2从哪个电子部件供给器被接收的接收位置等。并且，在安装电子部件时，读入安装计划数据，首先，对X轴电动机131a、132a以及Y轴电动机131b、132b进行控制，向规定的电子部件供给器的接收位置输送第一吸附吸嘴131或者第二吸附吸嘴132，对Z轴电动机131c、本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种部件检查装置，其特征在于，具有：照射部，其向电子部件照射光；拍摄部，其对由所述照射部照射的所述电子部件进行拍摄；保持部，其对多个所述电子部件进行保持，以将所述多个所述电子部件配置在所述拍摄部的拍摄范围内；间隔调整部，其对在所述保持部上保持的所述电子部件和所述拍摄部之间的间隔进行调整；以及检查部，其在利用所述间隔调整部使所述间隔以规定的间距分别不同的同时，通过对位于所述拍摄部的拍摄范围内的所述多个所述电子部件间歇性地进行拍摄，从而取得规定数量的图像数据，基于所述规定数量的图像数据，分别识别所述多个的所述电子部件，并对各自的平坦度进行检查。

【技术特征摘要】
2012.06.15 JP 2012-1354591.一种部件检查装置，其特征在于，具有：照射部，其向电子部件照射光；拍摄部，其对由所述照射部照射的所述电子部件进行拍摄；保持部，其对多个所述电子部件分别进行保持，以将所述多个所述电子部件配置在所述拍摄部的拍摄范围内；多个间隔调整部，其对在所述保持部上保持的多个所述电子部件和所述拍摄部之间的间隔分别进行调整；以及检查部，其在利用所述多个间隔调整部针对所述多个所述电子部件分别使所述间隔以分别的规定的间距而不同的同时，通过对位于所述拍摄部的拍摄范围内的所述多个所述电子部件间歇性地进行拍摄，从而取得规定数量的图像数据，基于所述规定数量的图像数据，分别识别所述多个的所述电子部件，并对各自的平坦度进行检查。2.根据权利要求1所述的部件检查装置，其特征在于，所述多个所述电子部件为分别不同的种类。3.根据权利要求1所述的部件检查装置，...

【专利技术属性】
技术研发人员：森田玲香，安部好晃，山田友美，
申请(专利权)人：JUKI株式会社，
类型：发明
国别省市：