半导体集成电路装置及高频功率放大器模块制造方法及图纸

技术编号:9494291 阅读:130 留言:0更新日期:2013-12-26 05:18
本发明专利技术提供一种能以较小的面积实现多个检波方式的半导体集成电路装置及高频功率放大器模块。例如,设有:包含多级放大电路(AMP4~AMP1)、多个电平检测电路(DET4~DET1)、加法电路(ADD1、ADD2)等的对数检波部分;以及包含电平检测电路(DET6)等的线性检波部分。而且,将来自对数检波部分的输出电流和来自线性检波部分的输出电流分别乘以不同的系数之后进行相加来实现多个检波方式。具体而言,将来自对数检波部分的输出电流乘以6/5倍所得到的电流与来自线性检波部分的输出电流进行相加等来实现对数检波方式,将来自对数检波部分的输出电流乘以1/5倍所得到的电流与来自线性检波部分的输出电流乘以3倍所得到的电流进行相加等来实现对数-线性检波方式。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:岛宗祐介吉崎保展林范雄筒井孝幸
申请(专利权)人:株式会社村田制作所
类型:
国别省市:

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