一种电磁灶非接触式测温装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种电磁灶非接触式测温装置，有效的延长测温装置的使用寿命。它由微晶锅衬、保温材料、测温探头组成，保温材料包裹在微晶锅衬的外部，其厚度高于测温探头突出微晶锅衬的高度，将微晶探头覆盖即可。本发明专利技术采用保温材料包裹在微晶锅衬的外部，保证微晶锅衬能完全吸收锅具散发的辐射热，能够有效的测出锅具的温度；同时由于保温材料的存在，使测温探头和锅具之间不发生直接接触，保证了锅具在自由移动的同时不损坏测温探头。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供一种电磁灶非接触式测温装置，有效的延长测温装置的使用寿命。它由微晶锅衬、保温材料、测温探头组成，保温材料包裹在微晶锅衬的外部，其厚度高于测温探头突出微晶锅衬的高度，将微晶探头覆盖即可。本专利技术采用保温材料包裹在微晶锅衬的外部，保证微晶锅衬能完全吸收锅具散发的辐射热，能够有效的测出锅具的温度；同时由于保温材料的存在，使测温探头和锅具之间不发生直接接触，保证了锅具在自由移动的同时不损坏测温探头。【专利说明】一种电磁灶非接触式测温装置
本专利技术涉及到电磁灶，具体涉及一种电磁灶非接触式测温装置。
技术介绍
近些年来，电磁灶以其独特的性能在许多地方得到越来越多的应用，它采用电力为能源，没有明火，不会产生废气排放，能大幅降低温室效应，同时，电磁灶有加热速率快的优点。电磁灶中均设有测温装置，如图1所示的现有的电磁灶测温装置测温时采用在锅衬处设置突出锅衬外部的测温探头，当锅具放置在电磁灶上时，通过测温探头和锅具的接触来测量温度。这种测温方式对温度的测量虽然比较精确，但是由于锅具和测温探头的长时间接触摩擦会使测温探头极易产生损坏。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服现有技术的不足，提供一种电磁灶非接触式测温装置，有效的延长测温装置的使用寿命。本专利技术解决以上技术问题采用以下技术方案: 一种电磁灶非接触式测温装置，由微晶锅衬、保温材料、测温探头组成。所述的保温材料包裹在微晶锅衬的外部，其厚度高于测温探头突出微晶锅衬的高度，将微晶探头覆盖即可。本专利技术采用保温材料包裹在微晶锅衬的外部，保证微晶锅衬能完全吸收锅具散发的辐射热，能够有效的测出锅具的温度；同时由于保温材料的存在，使测温探头和锅具之间不发生直接接触，保证了锅具在自由移动的同时不损坏测温探头。【专利附图】【附图说明】图1为现有的测温方式的示意图。图2为本专利技术的示意图。图中，1、微晶锅衬，2、保温材料，3、测温探头，4、锅具。【具体实施方式】下面结合附图对本专利技术进行进一步说明。如图2所示的一种电磁灶非接触式测温装置，由微晶锅衬1、保温材料2、测温探头3组成。所述的保温材料2包裹在微晶锅衬I的外部，其厚度高于测温探头3突出微晶锅衬I的高度，将微晶探头3覆盖即可。使用时，保温材料2可完全吸收锅具4放出的辐射热，保证了温度测量的准确性。测温探头3固定在微晶锅衬I上，被保温材料2所包覆，所以测温探头3不直接与锅具4接触，提高了测温探头3的使用寿命。上述实施例仅仅是本专利技术的一种表现形式，并非对本专利技术的范围进行限定，在不脱离本专利技术设计精神的前提下，本领域普通工程技术人员对本专利技术的技术方案作出的各种变形和改进，均应落入本专利技术的权利要求书确定的保护范围内。【权利要求】1.一种电磁灶非接触式测温装置，由微晶锅衬(I)、保温材料(2)、测温探头(3)组成，其特征为:所述的保温材料(2)包裹在微晶锅衬(I)的外部，其厚度高于测温探头(3)突出微晶锅衬(I)的高度，将微晶探头(30覆盖即可。2.根据权利要求1所述的一种电磁灶非接触式测温装置，其特征为:所述的测温探头(3)固定在微晶锅衬(I)上，被保温材料(2)所包覆，所述的测温探头(3)不直接与锅具(4)接触。【文档编号】G01K1/08GK103439016SQ201310380899【公开日】2013年12月11日 申请日期:2013年8月28日 优先权日:2013年8月28日 【专利技术者】段伟, 刘永智 申请人:段伟本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电磁灶非接触式测温装置，由微晶锅衬（1）、保温材料（2）、测温探头（3）组成，其特征为：所述的保温材料（2）包裹在微晶锅衬（1）的外部，其厚度高于测温探头（3）突出微晶锅衬（1）的高度，将微晶探头（30覆盖即可。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：段伟，刘永智，
申请(专利权)人：段伟，
类型：发明
国别省市：