一种用于物理光学实验的衍射光强记录仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于物理光学实验的衍射光强记录仪。本实用新型专利技术的衍射光强记录仪包括：底座、横向平移组件、纵向升降组件、探测元件及控制箱；进一步，探测元件包括固定架、探测器和采集窗口；探测器设置在固定架上，采集窗口为设置在固定架的表面与探测器的位置相对应的正方形的开口。本实用新型专利技术实现了二维的大面积扫描采集光强；采用光栅尺精确定位，与使用通光面积可调整的探测元件相配合，精确采集光强的分布；数据记录采用手动记录模式，也可采用自动上传模式；本实用新型专利技术提高了采集速度和效率，并且精度高，位移最小测量精度5μm，同时客服了死机的现象，上位机软件针对实验具体内容开发，更适合实验教学。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种衍射光强记录仪，所述衍射光强记录仪为用于物理光学实验的衍射光强记录仪，其特征在于，所述衍射光强记录仪包括衍射光强记录仪包括：底座（1）、横向平移组件（2）、纵向升降组件（3）、探测元件（4）及控制箱（5）；其中，所述横向平移组件（2）安装在底座（1）上，所述纵向升降组件（3）安装在横向平移组件（2）上，所述探测元件（4）安装在纵向升降组件（3）上；进一步，所述探测元件（4）包括固定架、探测器和采集窗口（41）；所述探测器设置在固定架上，所述采集窗口（41）为设置在固定架的表面与探测器的位置相对应的正方形的开口。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘国超，张朝晖，
申请(专利权)人：北京大学，
类型：实用新型
国别省市：