三族氮化物高电子迁移率晶体管制造技术

技术编号:9277975 阅读:130 留言:0更新日期:2013-10-25 00:00
本发明专利技术关于一种三族氮化物高电子迁移率晶体管(HEMT)。该三族氮化物高电子迁移率晶体管依序包含一基板、一氮化镓缓冲层、一氮化镓通道层、一氮化铝间隔层、一阻障层、一氮化镓覆盖层、以及一介于阻障层及氮化铝间隔层之间的单原子掺杂层。本发明专利技术的高电子迁移率晶体管结构能在维持低接触电阻的同时,提高电子迁移率以及二维电子气的浓度。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种三族氮化镓高电子迁移率晶体管,依序包括:一基板;一氮化镓缓冲层;一氮化镓通道层;一氮化铝间格层;一单原子掺杂层;一阻障层;以及一氮化镓覆盖层。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王伟州黄皆智黄子轩
申请(专利权)人:稳懋半导体股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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