半导体器件及其制造方法技术

技术编号:9199398 阅读:112 留言:0更新日期:2013-09-26 03:22
本发明专利技术涉及一种半导体器件及其制造方法。所述半导体器件包括:形成在衬底之上的第一半导体层;形成在第一半导体层之上的第二半导体层;形成在第二半导体层之上的电极;以及形成在第二半导体层上的第三半导体层;其中,第三半导体层形成为围绕其中形成有电极的每一个元件,并且其中,第三半导体层是其导电型的极性与在第一半导体层中产生的载流子的极性相反的半导体层。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种半导体器件,包括:形成在衬底之上的第一半导体层;形成在所述第一半导体层之上的第二半导体层;形成在所述第二半导体层之上的电极;以及形成在所述第二半导体层上的第三半导体层;其中,所述第三半导体层形成为围绕其中形成有所述电极的每个元件,以及其中,所述第三半导体层是其导电型的极性与在所述第一半导体层中产生的载流子的极性相反的半导体层。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:今田忠纮
申请(专利权)人:富士通株式会社
类型:发明
国别省市:

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