【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
基于IEEE?1500标准兼容SRAM/ROM的MBIST控制器结构系统,包括嵌入到系统芯片内部的MBIST控制器,其特征在于:设置March算法状态机和多输入线性反馈移位寄存器MISR的MBIST控制器分别连接着外设的测试系统接口、围绕被测嵌入式SRAM和ROM的基于IEEE?1500标准的测试壳Wrapper和响应分析器,基于IEEE?1500标准的测试壳Wrapper与响应分析器连接,基于IEEE?1500标准的测试壳Wrapper和响应分析器均嵌入到系统芯片内部。
【技术特征摘要】
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