一种测温头结构及红外温度计制造技术

技术编号:8997149 阅读:127 留言:0更新日期:2013-08-02 17:56
本实用新型专利技术公开了一种测温头结构及红外温度计,该测温头结构包括外壳、设置在外壳内的传感器安装座、安装在传感器安装座内的传感器和设置在传感器安装座后端对传感器进行定位的定位件,外壳和传感器安装座位于传感器接收区前端的区域设置有探测孔,传感器安装座的探测孔包括锥形孔壁,测温头结构包括附着在锥形孔壁上的红外线吸收涂层。该红外温度计采用上述测温头结构。本实用新型专利技术有效吸收被测物体的散射红外线,提高红外温度计测量精度,同时结构简单,容易实施。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测温头结构,还涉及使用该测温头的红外温度计。
技术介绍
利于红外线测量物体温度的温度计已得到广泛使用,例如,利于人体红外线测量人体体温的红外体温计,由于使用时勿需接触人体,使用方便,已得到广泛使用。现有的红外体温计是通过安装在测温头壳体内的传感器感知被测物体发出的红外线来测量其温度的,测温头壳体前端设置有探测孔,传感器设置在探测孔之后,红外线通过探测孔到达传感器被传感器感知。但是,由于传感器测温头壳体前端的探测孔的表面对被测物体的红外线具有反射、散射作用,使传感器在接收正常的直射红外线的同时,还将接收到多余的散射红外线,使传感器测量的温度高于被测物体的实际温度,造成测量偏差。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题之一在于,提供一种测温头结构,克服现有测温头结构易使传感器接收到多余的散射红外线,造成测量偏差的缺陷。本技术要解决的技术问题之二在于,提供一种红外温度计,克服现有红外温度计易使传感器接收到多余的散射红外线,造成测量偏差的缺陷。本技术解决其技术问题之一所采用的技术方案是:构造一种测温头结构,包括外壳、设置在该外壳内的传感器安装座、安装在该传感器安装座内的传感器和设置在该传感器安装座后端对该传感器进行定位的定位件,该外壳和该传感器安装座位于该传感器接收区前端的区域设置有探测孔;其特征在于,所述传感器安装座的探测孔包括锥形孔壁,所述测温头结构包括附着在该锥形孔壁上的红外线吸收涂层。·在本技术的测温头结构中,所述探测孔包括圆柱孔壁,所述测温头结构包括附着在该圆柱孔壁上的红外线吸收涂层。在本技术的测温头结构中,所述探测孔锥形孔壁的锥顶角大于等于0°、小于等于80°,该探测孔锥形孔壁的高度大于等于3mm、小于等于12mm。在本技术的测温头结构中,所述探测孔锥形孔壁的锥顶角为15°、20°、25°或 30。。本技术解决其技术问题之二所采用的技术方案是:构造一种红外温度计,包括测温头,所述测温头包括外壳、设置在该外壳内的传感器安装座、安装在该传感器安装座内的传感器和设置在该传感器安装座后端对该传感器进行定位的定位件,该外壳和该传感器安装座位于该传感器接收区前端的区域设置有探测孔;其特征在于,所述传感器安装座的探测孔包括锥形孔壁,所述测温头结构包括附着在该锥形孔壁上的红外线吸收涂层。在本技术的红外温度计中,所述探测孔包括圆柱孔壁,所述测温头结构包括附着在该圆柱孔壁上的红外线吸收涂层。在本技术的红外温度计中,所述探测孔锥形孔壁的锥顶角大于等于0°、小于等于80°,该探测孔锥形孔壁的高度大于等于3mm、小于等于12mm。在本技术的红外温度计中,所述探测孔锥形孔壁的锥顶角为15°、20°、25°或 30。。实施本技术的测温头结构及红外温度计,与现有技术比较,其有益效果是:1.有效吸收被测物体的散射红外线,提高红外温度计的测量精度;2.结构简单,容易实施。附图说明下面将结合附图及实施例对本技术作进一步说明,附图中:图1是本技术测温头结构一种实施例的剖视图。图2是本技术测温头结构的探测孔侧壁吸收散射红外线的示意图。图3是本技术测温头结构接收被测物体直射红外线的示意图。具体实施方式如图1所示,本技术的测温头结构包括外壳3、传感器安装座4、传感器2、定位件I和红外线吸收涂层6。传感器安装座4设置在外壳3之内,传感器2安装在传感器安装座4的安装孔内,定位件I设置在传感器安装座4的后端,对传感器2进行定位。外壳3和传感器安装座4位于传感器2的接收区5的前端的区域设置有探测孔,传感器安装座4的探测孔包括锥形孔壁,红外线吸收涂层6附着在该锥形孔壁上,将被测物体散射到探测孔锥形孔壁上的红外线吸收掉,保证传感器2仅接收到被测物体发出的直射红外线。当探测孔设置有圆柱孔壁作为锥形孔壁的局部过渡时,红外线吸收涂层6同时也附着在该圆柱孔壁上。测温头结构的探测孔锥形孔壁的锥顶角a在大于等于0°、小于等于80°范围内选取。例如,当探测孔锥形孔壁的锥顶角取15°、20°、25。、30°时,可得到良好的减少反射、散射红外线,提高温度计测量精度的目的。探测孔锥形孔壁的高度通常取大于等于3mm、小于等于12mm。例如,取探测孔锥形孔壁的高度为5mm、8mm、10mm均能够取得很好的测量精度。如图2、图3所示,本技术的测温头结构能够有效吸收被测物体的散射红外线,使传感器仅接收被测物体的直射红外线,从而提高红外温度计的测量精度。本技术的红外温度计采用上述测温头结构,在此不再赘述。采用上述测温头结构,可有效降低被测 物体散射红外线对传感器的影响,提高温度计的测量精度。权利要求1.一种测温头结构,包括外壳、设置在该外壳内的传感器安装座、安装在该传感器安装座内的传感器和设置在该传感器安装座后端对该传感器进行定位的定位件,该外壳和该传感器安装座位于该传感器接收区前端的区域设置有探测孔;其特征在于,所述传感器安装座的探测孔包括锥形孔壁,所述测温头结构包括附着在该锥形孔壁上的红外线吸收涂层。2.如权利要求1所述的测温头结构,其特征在于,所述探测孔包括圆柱孔壁,所述测温头结构包括附着在该圆柱孔壁上的红外线吸收涂层。3.如权利要求1或2所述的测温头结构,其特征在于,所述探测孔锥形孔壁的锥顶角大于等于0°、小于等于80°,该探测孔锥形孔壁的高度大于等于3mm、小于等于12mm。4.如权利要求3所述的测温头结构,其特征在于,所述探测孔锥形孔壁的锥顶角为15。、20。、25。或 30。。5.一种红外温度计,包括测温头,所述测温头包括外壳、设置在该外壳内的传感器安装座、安装在该传感器安装座内的传感器和设置在该传感器安装座后端对该传感器进行定位的定位件,该外壳和该传感器安装座位于该传感器接收区前端的区域设置有探测孔;其特征在于,所述传感器安装座的探测孔包括锥形孔壁,所述测温头结构包括附着在该锥形孔壁上的红外线吸收涂层。6.如权利要求5所述的红外温度计,其特征在于,所述探测孔包括圆柱孔壁,所述测温头结构包括附着在该圆柱孔壁上的红外线吸收涂层。7.如权利要求5或6所述的红外温度计,其特征在于,所述探测孔锥形孔壁的锥顶角大于等于0°、小于等于80°,该探测孔锥形孔壁的高度大于等于3mm、小于等于12mm。8.如权利要求7所述的红外温度计,其特征在于,所述探测孔锥形孔壁的锥顶角为15。、20。、25。或 30。。专利摘要本技术公开了一种测温头结构及红外温度计,该测温头结构包括外壳、设置在外壳内的传感器安装座、安装在传感器安装座内的传感器和设置在传感器安装座后端对传感器进行定位的定位件,外壳和传感器安装座位于传感器接收区前端的区域设置有探测孔,传感器安装座的探测孔包括锥形孔壁,测温头结构包括附着在锥形孔壁上的红外线吸收涂层。该红外温度计采用上述测温头结构。本技术有效吸收被测物体的散射红外线,提高红外温度计测量精度,同时结构简单,容易实施。文档编号G01J5/02GK203100903SQ20132010360公开日2013年7月31日 申请日期2013年3月7日 优先权日2013年3月7日专利技术者赵志刚 申请人:深圳市东迪欣科技有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测温头结构,包括外壳、设置在该外壳内的传感器安装座、安装在该传感器安装座内的传感器和设置在该传感器安装座后端对该传感器进行定位的定位件,该外壳和该传感器安装座位于该传感器接收区前端的区域设置有探测孔;其特征在于,所述传感器安装座的探测孔包括锥形孔壁,所述测温头结构包括附着在该锥形孔壁上的红外线吸收涂层。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:赵志刚
申请(专利权)人:深圳市东迪欣科技有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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