本发明专利技术中公开了一种检测方法及系统,所述方法应用于存储器的检测中,将被检测存储器的存储空间分成待检测区和不检测区,所述待检测区又分成若干待检测单元,获取所述当前待检测单元的初始值,依据所述初始值和所述当前待检测单元值进行循环冗余码校验多项式计算,得到计算结果,当所述计算结果符合预设条件时,则生成所述当前待检测单元没有故障的判断结果,所述方法中,将所述待检测区分成了若干待检测单元,当需要开始检测时,则只需要检测当前待检测单元,并且会在不同的时间内完成,而不需要将所述待检测区全部一次检测一遍,这样就避免了出现运算量大,速度慢的问题。
【技术实现步骤摘要】
一种检测方法及系统
本专利技术涉及嵌入式系统领域,特别是一种检测方法及系统。
技术介绍
随着嵌入式系统的高速发展,单片微机越来越多的应用于国民经济的各个领域中,在各种单片机系统当中,存储器是其中的一个极其重要的组成部分。存储器常用存储程序和各种数据,并能在单片机运行过程高速、自动地完成程序或数据的存取。一旦存储器发生失效,将直接影响嵌入式系统的可靠性。因此,嵌入式系统在正常运行时能够对其存储单元进行周期性的自检测,对提高系统的稳定性、降低系统危险失效起到至关重要的作用。因此,在系统固件设计中单片机应该具有存储单元周期自检测能力。目前,常用的检测存储的方法是读写检测法,所述读写检测法的检测方法为:对待检测的地址空间分别写固定数据,如0X0000、0X5555、0XAAAA;从地址空间读出数据,查看读到的数据值是否与写入值一致,如果一致表明存储单元检测正常,否则表明检测到故障,但是这种方法是存储缺点的,在检测过程中存储数据容易被破坏,即该方法需要对一整片的存储空间进行读、写数据操作,因此在检测前需要将待检测空间中的数据搬移到其他的空闲地址中,待检测结束后再从空闲的地址空间中将存储的数据搬移回到原地址中,这样在反复的搬移过程中存储单元中的有效数据就很容易遭到破坏,而发生不预期的失效,而且在检测时系统都要从所有待检测地址空间中写入数据,并读出数据进行比较,遍历数次,使得运算数据量很大,这样就会对降低检测的速度。
技术实现思路
本专利技术提供一种检测方法及系统,以解决使用现有技术中对存储器的检测存在运算量大,检测速度慢的问题。具体技术方案如下:一种检测方法,所述方法应用于存储器的检测中,将被检测存储器的存储空间分成待检测区和不检测区,所述待检测区又分成至少两个待检测单元,所述方法包括:获取所述当前待检测单元的初始值;依据所述初始值和所述当前待检测单元值进行循环冗余码校验多项式计算,得到计算结果;判断所述计算结果是否符合预设条件,如果是,生成所述当前待检测单元没有故障的判断结果,如果否,不会生成所述当前检测单元没有故障的判断结果。优选地,所述获取所述当前待检测单元预先的初始值包括:确定预期计算结果为所述当前待检测单元的逆运算算法输入值;依据所述逆运算算法输入值和所述当前待检测单元值进行循环冗余码校验多项式逆运算,得到运算结果;将所述运算结果作为所述当前待检测单元的初始值。优选地,所述判断所述计算结果是否符合预设条件,如果是,生成所述当前待检测单元没有故障的判断结果,如果否,不会生成所述当前检测单元没有故障的判断结果包括:判断所述计算结果是否符合所述预期计算结果,如果是,生成所述当前待检测单元没有故障的判断结果,如果否,不会生成所述当前检测单元没有故障的判断结果。优选地,还包括:所述当前待检测单元的初始值存储在与所述当前待检测单元对应的所述不检测区位置中。一种检测系统,所述系统应用于存储器的检测中,将被检测存储器的存储空间分成待检测区和不检测区,所述待检测区又分成至少两个待检测单元,所述系统包括:获取模块、计算模块和判断模块;其中,所述获取模块用于,获取所述当前检测单元的初始值;所述计算模块用于,依据所述初始值和所述当前待检测单元值进行循环冗余码校验多项式计算,得到计算结果;所述判断模块用于,判断所述计算结果是否符合预设条件,如果是,生成所述当前待检测单元没有故障的判断结果,如果否,不会生成所述当前检测单元没有故障的判断结果。优选地,所述获取模块包括:确定单元、逆运算单元和赋值单元;所述确定单元用于,确定预期计算结果为所述当前待检测单元的逆运算算法输入值;所述逆运算单元用于,依据所述逆运算算法输入值和所述当前待检测单元值进行循环冗余码校验多项式逆运算,得到运算结果;所述初始值确定单元用于,将所述运算结果作为所述当前待检测单元的初始值。从以上技术方案可以看出,本专利技术中提供的一种检测方法及系统,所述方法应用于存储器的检测中,将被检测存储器的存储空间分成待检测区和不检测区,所述待检测区又分成若干待检测单元,获取所述当前待检测单元的初始值,依据所述初始值和所述当前待检测单元值进行循环冗余码校验多项式计算,得到计算结果,当所述计算结果符合预设条件时,则生成所述当前待检测单元没有故障的判断结果,所述方法中,将所述待检测区分成了若干待检测单元,当需要开始检测时,则只需要检测当前待检测单元,并且会在不同的时间内完成,而不需要将所述待检测区全部一次检测一遍,这样就避免了出现运算量大,速度慢的问题。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对专利技术或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术中记载的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例一公开的一种检测方法流程示意图;图2为本专利技术实施例公开的被检测存储器存储空间分配示意图;图3为本专利技术实施例二公开的一种获取所述当前待检测单元的初始值的方法流程示意图;图4为本专利技术实施例三公开的一种检测方法流程示意图;图5为本专利技术实施例公开的一种所述初始值存储地址空间位置的示意图;图6为本专利技术实施例四公开的一种检测系统结构示意图;图7为本专利技术实施例五公开的一种检测系统结构示意图。具体实施方式下面结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术的保护范围。本专利技术实施例一公开一种检测方法,参见图1所示,所述方法应用于存储器的检测中,将被检测存储器的存储空间分成待检测区和不检测区,所述待检测区又分成至少两个待检测单元,步骤包括:步骤S101:获取所述当前待检测单元的初始值;需要说明的是,所述当前待检测单元的初始值是存储在与所述当前待检测单元对应的所述不检测区位置中;步骤S102:依据所述初始值和所述当前待检测单元值进行循环冗余码校验多项式(CRC)计算,得到计算结果;其中,根据预先编写好的循环冗余码校验算法,并依据所述初始值和所述当前待检测单元值进行计算,得到了计算结果,需要说明的是,所述循环冗余码校验是利用除法及余数的原理来作错误检测的,具有很强的诊断覆盖能力;步骤S103:判断所述计算结果是否符合预设条件,如果是,执行步骤S104,如果否,执行步骤S105;需要说明的是,此处的预设条件即为预期计算结果,也就是说,判断所述计算结果是否符合所述预期计算结果,如果是,执行步骤S104,如果否,执行步骤S105;步骤S104:生成所述当前待检测单元没有故障的判断结果,步骤S105:不会生成所述当前检测单元没有故障的判断结果。对于实施例来说,需要说明的是,所述方法将被检测存储器的存储空间分成待检测区和不检测区,所述待检测区又分成若干待检测单元,可以参见图2所示,本具体实例以程序代码为60K(bytes)为例,占用的地址空间为0x000000~0x00EFFF。根据程序执行时间的限制,将待检区分为n个待检测单元,其中,所述存储器地址空间分为了待检区和未检区,所述待检区开始地址为0x0本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种检测方法,其特征在于,所述方法应用于存储器的检测中,将被检测存储器的存储空间分成待检测区和不检测区,所述待检测区又分成至少两个待检测单元,所述方法包括:获取所述当前待检测单元的初始值;依据所述初始值和所述当前待检测单元值进行循环冗余码校验多项式计算,得到计算结果;判断所述计算结果是否符合预设条件,如果是,生成所述当前待检测单元没有故障的判断结果,如果否,不会生成所述当前检测单元没有故障的判断结果。
【技术特征摘要】
1.一种检测方法,不需要将存储器中的数据做搬移操作,其特征在于,所述方法应用于存储器的检测中,将被检测存储器的存储空间分成待检测区和不检测区,所述待检测区又分成至少两个待检测单元,所述方法包括:获取当前待检测单元的初始值;依据所述初始值和当前待检测单元值进行循环冗余码校验多项式计算,得到计算结果;判断所述计算结果是否符合预设条件,如果是,生成所述当前待检测单元没有故障的判断结果,如果否,不会生成所述当前检测单元没有故障的判断结果;所述获取所述当前待检测单元的初始值包括:确定预期计算结果为所述当前待检测单元的逆运算算法输入值;依据所述逆运算算法输入值和所述当前待检测单元值进行循环冗余码校验多项式逆运算,得到运算结果;将所述运算结果作为所述当前待检测单元的初始值;所述当前待检测单元的初始值是存储在与所述当前待检测单元对应的所述不检测区位置中。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述判断所述计算结果是否符合预设条件,如果是,生成所述当前待检测单元没有故障的判断结果,如果否,不会生成所述当前检测单元没有故障的判断结果包括:判断所述计算结果是否符合所述预期计算结果,如果是,生成所述当前...
【专利技术属性】
技术研发人员:周有铮,胡小义,纪云锋,温宜明,魏福祥,
申请(专利权)人:杭州和利时自动化有限公司,
类型:发明
国别省市:
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