生成光模块温度查找表的方法及装置制造方法及图纸

技术编号:8657021 阅读:493 留言:0更新日期:2013-05-02 00:49
本发明专利技术公开了一种生成光模块温度查找表的方法及装置。该方法包括:调整测试光模块输出的光功率及消光比至预先设置的目标值,获取测试光模块在温度点的测试温度值、测试偏置电流设定寄存器值以及测试调制电流设定寄存器值;对获取的电流值进行归一化处理,获取各温度点形成的温度区间电流归一化斜率参数;调整待应用光模块输出的光功率及消光比至预先设置的目标值,获取该待应用光模块在常温环境下的工作温度值、偏置电流设定寄存器值以及调制电流设定寄存器值;结合预先获取的电流归一化斜率参数,生成该待应用光模块的电流温度查找表,并将生成的电流温度查找表写入该待应用光模块。应用本发明专利技术,可以提高生成光模块温度查找表的效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光通信技术,尤其涉及一种生成光模块温度查找表的方法及装置
技术介绍
目前的国内市场以及国际市场,高带宽、高速率和多种业务融合的光纤通信方向已经开始应用;在众多的解决方案中,光纤到户(FTTH,FiberTo The Home)的出现被认为是宽带接入的终极解决方案,国内市场已经大面积应用。光模块作为光纤通信系统中FTTH的核心部件,光模块整体性能的稳定直接与光纤通信系统的性能稳定相关,而光模块发射端的光口性能,即发射的光信号质量,又是影响光纤通信系统性能稳定的重要因素。影响光模块发射端的光口发射的光信号质量参数中,主要考虑的是眼图质量,其中,影响眼图质量的主要因素是平均光功率和消光比,平均光功率和消光比是由光模块中的激光驱动芯片提供给激光器的偏置电流和调制电流大小决定的,偏置电流越大,平均光功率就越大;当平均光功率固定时,调制电流越大,消光比就越大;在此基础上,由于激光器是具有温度特性的器件,还需要考虑器件的温度特性,对于固定的偏置电流和调制电流来说,当温度降低时,光功率会变大,消光比会降低;当温度升高时,光功率会变小,消光比会升高。光模块在实际应用中,需要保持在工作温度范围内,例如,商业级应用的温度范围为(T70°C,工业级应用的温度范围为-4(T85°C。如果光模块发射端的光口参数不稳定,例如,光眼图参数波动较大,都可能导致收端无法识别,进而导致通信中断。实际应用中,为了稳定光模块发射端的光口参数,光模块发射端一般米用闭环控制,通过在光模块中引入光功率自动功率控制(APC, AutomaticPower Control)环路,用于调节偏置电流控制电路中的激光二极管以及背光二极管,APC环路为发射端的偏置电流控制电路引入一个负反馈量,通过与激光二极管靠近的背光二极管,耦合部分激光二极管所发出来的光功率,产生反馈的背光电流,从而使得APC环路根据该反馈电流与偏置电流,与设定的参考值相比较后,调整输出至发光二极管的偏置电流,进而稳定平均光功率。理论上,背光二极管是没有温度特性的,即只要激光二极管的发光恒定,以及,激光二极管与背光二极管的耦合系数恒定,背光二极管提供给APC环路的反馈电流(偏置电流)是恒定的,但实际应用中,将激光二极管与背光二极管进行封装的发端光器件,即光发射次模块(TOSA, Transmitter Optical Subassembly),受温度影响,当激光二极管发射恒定光功率,如果温度变化,背光二极管输出的偏置电流也会发生变化,而偏置电流的变化又会影响激光二极管发射的光功率。这样,将导致APC环路在环境温度变化时,光模块发射的光功率无法稳定在设定值;而如果平均光功率发生变动,消光比也会随之发生变化,同时,温度的变化,也将影响对电流进行调制的效果。实际应用中,在APC环路中,需要根据光模块发射端的温度,对输入激光二极管的调制电流进行控制,以使激光二极管发射功率恒定的光信号。因而,现有技术中,在光模块的软件中,通过定义一个光模块温度查找表,根据包含温度传感器的微控制单元(MCU,Micro Control Unit)的实测温度来补偿光模块中的偏置电流(APCset)值及调制电流(MODset)值,即根据温度变化调整APCset、MODset,从而补偿光功率及消光比,使得光模块输出光信号的光功率及消光比稳定。其中,APCset、MODset分别对应一个独立的光模块温度查找表,当MCU监测到温度改变时,根据MCU监测到的当前温度,在预先设置的光模块温度查找表中查找该当前温度点对应的APCset、M0Dset值,并将查找到的值分别作为当前的APCset、M0Dset设定值,以控制激光二极管,从而稳定光模块发端的光信号质量。现有生成光模块温度查找表的方法,针对每一光模块,根据其工作温度范围,选取多个工作温度点,在每一工作温度点,记录包含温度传感器的MCU监测得到的温度,调节激光二极管的偏置电流以及调制电流,以使激光二极管发射的光信号的光功率及消光比同时满足预先设置的数值,并将该工作温度点对应的监测温度,以及,该工作温度点对应的偏置电流以及调制电流设定寄存器值写入光模块温度查找表,根据同样的方式,得到各工作温度点对应的偏置电流以及调制电流设定寄存器值,并写入光模块温度查找表。这样,在该光模块的后续工作中,根据MCU监测得到的温度,查找光模块温度查找表,获取相应的偏置电流以及调制电流设定寄存器值,作为激光二极管的控制参数,从而使激光二极管输出的光功率及消光比恒定,提升光纤通信系统的稳定性。由上述可见,现有生成光模块温度查找表的方法,需要对每一光模块进行工作温度范围内的测试,以用来确定后续工作中对应校正点的调制电流以及偏置电流设定值,通常采用高低温箱或风枪来将光模块的温度调节至各工作温度点,而在从升/降温到光模块温度稳定,都是需要时间的,因而,这种常规生成光模块温度查找表的方法,需要针对每一光模块,所需时间长、生成光模块温度查找表的效率低,占用的生产资源多,不利于生产线生广效率的提闻。
技术实现思路
本专利技术的实施例提供了一种生成光模块温度查找表的方法,提高生成光模块温度查找表的效率。本专利技术的实施例还提供了 一种生成光模块温度查找表的装置,提高生成光模块温度查找表的效率。根据本专利技术的一个方面,提供了一种生成光模块温度查找表的方法,包括:预先划分环境温度为多个温度点,在每一温度点,调整测试光模块输出的光功率至预先设置的目标光功率,获取测试光模块在温度点的测试温度值以及测试偏置电流设定寄存器值;调整测试光模块输出的消光比至预先设置的目标消光比,获取测试光模块在各温度点的测试调制电流设定寄存器值;对获取的测试偏置电流设定寄存器值进行归一化处理,获取各温度点形成的温度区间偏置电流归一化斜率参数;对获取的测试调制电流设定寄存器值进行归一化处理,获取各温度点形成的温度区间调制电流归一化斜率参数;调整待应用光模块输出的光功率至预先设置的目标光功率,以及,输出的消光比至预先设置的目标消光比,分别获取该待应用光模块在常温环境下的工作温度值、偏置电流设定寄存器值以及调制电流设定寄存器值;根据获取的工作温度值、偏置电流设定寄存器值,结合预先获取的偏置电流归一化斜率参数,生成该待应用光模块的偏置电流温度查找表;根据获取的工作温度值以及调制电流设定寄存器值,结合预先获取的调制电流归一化斜率参数,生成该待应用光模块的调制电流温度查找表,并将生成的偏置电流温度查找表及调制电流温度查找表写入该待应用光模块。其中,所述对获取的测试偏置电流设定寄存器值进行归一化处理,获取各温度点形成的温度区间偏置电流归一化斜率参数包括:根据划分的各温度点,形成相应的温度区间;获取预先设置温度点的测试偏置电流设定寄存器值;获取每一温度点区间对应的测试温度值的差值;获取每一温度点区间对应的测试偏置电流设定寄存器值的差值;针对每一温度点区间,将该温度点区间的测试偏置电流设定寄存器值的差值除以测试温度值的差值,再与预先设置温度点的测试偏置电流设定寄存器值的倒数相乘,得到该温度区间偏置电流归一化斜率参数。其中,获取所述偏置电流归一化斜率参数的公式为:本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种生成光模块温度查找表的方法,该方法包括:预先划分环境温度为多个温度点,在每一温度点,调整测试光模块输出的光功率至预先设置的目标光功率,获取测试光模块在温度点的测试温度值以及测试偏置电流设定寄存器值;调整测试光模块输出的消光比至预先设置的目标消光比,获取测试光模块在各温度点的测试调制电流设定寄存器值;对获取的测试偏置电流设定寄存器值进行归一化处理,获取各温度点形成的温度区间偏置电流归一化斜率参数;对获取的测试调制电流设定寄存器值进行归一化处理,获取各温度点形成的温度区间调制电流归一化斜率参数;调整待应用光模块输出的光功率至预先设置的目标光功率,以及,输出的消光比至预先设置的目标消光比,分别获取该待应用光模块在常温环境下的工作温度值、偏置电流设定寄存器值以及调制电流设定寄存器值;根据获取的工作温度值、偏置电流设定寄存器值,结合预先获取的偏置电流归一化斜率参数,生成该待应用光模块的偏置电流温度查找表;根据获取的工作温度值以及调制电流设定寄存器值,结合预先获取的调制电流归一化斜率参数,生成该待应用光模块的调制电流温度查找表,并将生成的偏置电流温度查找表及调制电流温度查找表写入该待应用光模块...

【技术特征摘要】
1.一种生成光模块温度查找表的方法,该方法包括: 预先划分环境温度为多个温度点,在每一温度点,调整测试光模块输出的光功率至预先设置的目标光功率,获取测试光模块在温度点的测试温度值以及测试偏置电流设定寄存器值; 调整测试光模块输出的消光比至预先设置的目标消光比,获取测试光模块在各温度点的测试调制电流设定寄存器值; 对获取的测试偏置电流设定寄存器值进行归一化处理,获取各温度点形成的温度区间偏置电流归一化斜率参数;对获取的测试调制电流设定寄存器值进行归一化处理,获取各温度点形成的温度区间调制电流归一化斜率参数; 调整待应用光模块输出的光功率至预先设置的目标光功率,以及,输出的消光比至预先设置的目标消光比,分别获取该待应用光模块在常温环境下的工作温度值、偏置电流设定寄存器值以及调制电流设定寄存器值; 根据获取的工作温度值、偏置电流设定寄存器值,结合预先获取的偏置电流归一化斜率参数,生成该待应用光模块的偏置电流温度查找表;根据获取的工作温度值以及调制电流设定寄存器值,结合预先获取的调制电流归一化斜率参数,生成该待应用光模块的调制电流温度查找表,并将生成的偏置电流温度查找表及调制电流温度查找表写入该待应用光模块。2.如权利要求1所述的方法,其中,所述对获取的测试偏置电流设定寄存器值进行归一化处理,获取各温度点形成的温度区间偏置电流归一化斜率参数包括: 根据划分的各温度点,形成相应的温度区间; 获取预先设置温度点的测试偏置电流设定寄存器值; 获取每一温度点区间对应的测试温度值的差值; 获取每一温度点区间对应的测试偏置电流设定寄存器值的差值; 针对每一温度点区间,将该温度点区间的测试偏置电流设定寄存器值的差值除以测试温度值的差值,再与预先设置温度点的测试偏置电流设定寄存器值的倒数相乘,得到该温度区间偏置电流归一化斜率参数。3.如权利要求1所述的方法,其中,获取所述偏置电流归一化斜率参数的公式为:1-L ih,4.如权利要求1所述的方法,其中,所述对获取的测试调制电流设定寄存器值进行归一化处理,获取各温度点形成的温度区间调制电流归一化斜率参数包括: 根据划分的各温度点,形成相应的温度区间;获取预先设置温度点的测试调制电流设定寄存器值; 获取每一温度点区间对应的测试温度值的差值; 获取每一温度点区间对应的测试调制电流设定寄存器值的差值; 针对每一温度点区间,将该温度点区间的测试调制电流设定寄存器值的差值除以测试温度值的差值,再与预先设置温度点的测试调制电流设定寄存器值的倒数相乘,得到该温度区间调制电流归一化斜率参数。5.如权利要求1所述的方法,其中,获取所述调制电流归一化斜率参数的公式为:6.如权利要求1至5任一项所述的方法,其中,获取各温度点形成的温度区间偏置电流归一化斜率参数以及调制电流归一化斜率参数后,所述方法进一步包括: 构建温度点与偏置电流归一化斜率参数的映射关系,以及,构建温度点与调制电流归一化斜率参数的映射关系。7.如权利要求6所述的方法,其中,所述根据获取的工作温度值、偏置电流设定寄存器值,结合预先获取的偏置电流归一化斜率参数,生成该待应用光模块的偏置电流温度查找表包括: 查询预先获取的各温度点形成的温度区间偏置电流归一化斜率参数,获取该工作温度值对应的偏置电流归一化斜率值; 根据该斜率值以及偏置电流设定寄存器值,计算该温度点区间内其它温度点的偏置电流设定寄存器值; 根据该温度点区间上下限温度点对应的偏置电流设定寄存器值以及预先获取的相邻温度点区间的偏置电流归一化斜率参数,计算相邻温度点区间内各温度点的偏置电流设定寄存器值,直至计算得到该待应用光模块的各温度区间的偏置电流设定寄存器值,生成偏置电流温度查找表。8.—种生成光模块温度查找表的装置,其特征在于,该装置包括:测试偏置电流获取模块、测试调制电流获取模块、归一化处理模块、应用光模块电流获取模块以及温度查找表生成模块,其中, 测试偏置电流获取模块,用于预先划分环境温度为多个温度点,在每一温度点,调整测试光模块输出的光功率至预先设置的目标光功率,获取...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈彪
申请(专利权)人:青岛海信宽带多媒体技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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