检测彩色滤光片中亚像素偏移的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种检测彩色滤光片中亚像素偏移的方法及装置，其中该方法包括：检测彩色滤光片中的彩膜区域的灰阶变化，并生成灰阶变化波形；获取彩膜区域的灰阶变化波形中的异常波峰的数量；比较获取的灰阶变化波形中的异常波峰的数量和预设的异常波峰的数量阈值；当获取的灰阶变化波形中的异常波峰的数量大于预设的异常波峰的数量阈值时，判定被检测的彩色滤光片的彩膜区域中出现亚像素偏移，由此解决了制作彩色滤光片的过程中监控亚像素是否偏移的技术问题，从而可加强对彩色滤光片的品质检测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光电检测
，尤其涉及一种检测彩色滤光片中亚像素(RGB)偏移的方法及装置。
技术介绍
參见图1，为彩色滤光片中RGB的示意图，其中彩膜区域在经过背光LED灯照射的情况下，根据本身RGB的特性呈现出不同的颜色。參见图2，为CXD (Charge-CoupledDevice,电荷耦合元件)从通过LED照射的彩色滤光片中彩膜区域呈现出不同的灰阶值。图3为现有技术中AOI (Automatic OpticInspection,自动光学检测)获取彩色滤光片中彩膜区域正常情况下灰阶变化波形的示意图，其中横坐标表示位置坐标，纵坐标表示位置坐标对应的灰阶值，灰阶值范围0 255。在现有的彩色滤光片的异常的检测方法中，对检测此点是否为异常定义ー个阈值，对每个点的检测设定都是一祥的。如图4所示，红色区域上有ー个灰色缺陷40。參见图5，为CCD获取的彩膜区域的灰阶的效果，其中②是异常点的灰阶值，①③④⑤点是正常点的灰阶值。现有的检测异常点的计算方法如下首先设②是这五点中灰阶值的最小值，然后对此五点的灰阶值进行从小到达排序②①③④⑤。将需要检测的点的灰阶值与五点排序后灰阶值排在中间的这个值进行比较，差值为②-③；设Recipe检测阈值为X，则若差值②-③的绝对值大于阈值X，则点②为异常点。然而，在现有的异常的检测技术中，当发生亚像素偏移，利用上述的五点比较法进行检测时，由于黑矩阵(Mask)偏移会造成彩膜区域的整体偏移，而用上述的五点比较法进行检测，AOI会认为偏移部分是正常的部分，导致无法检测出彩色滤光片中的异常，因此在进行异常检测时，有必要判断彩膜区域中是否出现亚像素偏移。
技术实现思路
为了解决上述技术问题，本专利技术提供一种检测彩色滤光片中亚像素偏移的方法及装置，加强对彩色滤光片的品质检测。根据本专利技术的ー个方面，提供了一种检测彩色滤光片中亚像素偏移的方法，所述方法包括检测所述彩色滤光片中的彩膜区域的灰阶变化，并生成灰阶变化波形；获取所述彩膜区域的灰阶变化波形中的异常波峰的数量；比较获取的所述灰阶变化波形中的异常波峰的数量和预设的异常波峰的数量阈值；当获取的所述灰阶变化波形中的异常波峰的数量大于所述预设的异常波峰的数量阈值时，判定被检测的彩色滤光片的彩膜区域中出现亚像素偏移。可选地，所述获取所述彩膜区域的灰阶变化波形中的异常波峰的数量的步骤包括根据所述灰阶变化波形，以及预设的异常波峰值的阈值，获取所述彩膜区域的灰阶变化波形中的异常波峰的数量。可选地，所述生成灰阶变化波形的步骤包括获取被检测的彩色滤光片中彩膜区域中灰阶变化的相关參数；根据获取的所述灰阶变化的相关參数，以及预设的灰阶异常值的阈值，生成被检测的彩色滤光片中的彩膜区域的灰阶变化波形。可选地，所述方法还包括预先设置所述预设的灰阶异常值的阈值、所述预设的异常波峰的数量阈值、以及所述预设的异常波峰值的阈值。可选地，所述方法还包括当判定被检测的彩膜区域中出现亚像素偏移时，发送提示信息。根据本专利技术的另ー个方面，提供了一种检测彩色滤光片中亚像素偏移的装置，所述装置包括；检测模块，用于检测所述彩色滤光片中的彩膜区域的灰阶变化，并生成灰阶变化波形；波峰获取模块，用于获取彩膜区域的灰阶变化波形中的异常波峰的数量；比较模块，用于比较获取的灰阶变化波形中的异常波峰的数量和预设的异常波峰的数量阈值；判定模块，用于当获取的灰阶变化波形中的异常波峰的数量大于预设的异常波峰的数量阈值时，判定被检测的彩色滤光片中彩膜区域中出现亚像素偏移。可选地，所述波峰获取模块包括波峰获取单元，用于根据所述灰阶变化波形，以及预设的异常波峰值的阈值，获取灰阶变化波形中的异常波峰的数量。可选地，所述检测模块包括灰阶获取単元，用于获取彩色滤光片中彩膜区域中灰阶变化的相关參数；波形生成単元，用于根据获取灰阶变化的相关參数，以及预设的灰阶异常值的阈值，生成被检测的彩色滤光片中彩膜区域的灰阶变化波形。可选地，所述装置还包括设置模块，用于预先设置所述预设的灰阶异常值的阈值、所述预设的异常波峰的数量阈值、以及所述预设的异常波峰值的阈值。可选地，所述装置还包括提示模块，用于当判定被检测的彩色滤光片中彩膜区域中出现亚像素偏移时，发送提示信息。由上述技术方案可知，本专利技术的实施例具有如下有益效果利用获取的异常波峰的数量与预设的异常波峰的数量阈值进行比较，当获取的灰阶变化波形的异常波峰的数量大于预设的异常波峰的数量阈值时，可判定彩膜区域中出现亚像素偏移，解决了制作彩色滤光片的过程中监控亚像素是否偏移的技术问题，从而可加强对彩色滤光片的品质检測。附图说明图1表示现有技术中彩色滤光片正常情况下的RGB的示意图；图2表示现有技术中AOI获取彩色滤光片正常情况下RGB的示意图(灰白)；图3表示现有技术中AOI获取彩色滤光片正常情况下灰阶变化波形示意图；图4表示现有技术中彩色滤光片中RGB的阵列图及缺陷的示意图；图5表示现有技术中AOI获取到彩色滤光片中RGB的阵列图及缺陷的示意图(灰白)；图6表示本专利技术的实施例中检测彩色滤光片中亚像素偏移的方法流程图；图7表示本专利技术的实施例中彩色滤光片异常情况下的RGB的示意图(Red区有漏光现象)；图8表示本专利技术的实施例中AOI获取彩色滤光片异常情况下RGB的示意图(灰白，red区有漏光现象)；图9表示本专利技术的实施例中AOI获取彩色滤光片异常情况下灰阶变化波形示意图；图10表示本专利技术的实施例中检测彩色滤光片中亚像素偏移的装置的框图。具体实施例方式下面将參照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。本专利技术提出一种检测彩色滤光片中亚像素偏移的方法及装置。下面结合图6具体说明根据本专利技术一个实施例的、适于解决上述问题的检测彩色滤光片中亚像素偏移的方法的流程图。如图6所示，本专利技术的检测彩色滤光片中亚像素偏移的方法始于步骤S610。在步骤S610中，检测彩色滤光片中的彩膜区域的灰阶变化，并生成灰阶变化波形；具体地，首先获取彩膜区域中灰阶变化的相关參数，该相关參数包括彩膜区域中红、绿和蓝的灰阶值；然后根据获取灰阶变化的相关參数，以及预设的灰阶异常值的阈值，生成被检测的彩膜区域的灰阶变化波形。也就是，首先通过对彩色滤光片的彩膜区域进行检测，计算出被检测彩色滤光片的彩膜区域中红、绿和蓝的灰阶值，然后根据预设的灰阶异常值的阈值，生成灰阶变化波形，如图9所示。随后，在步骤S620中，获取被检测的彩膜区域的灰阶变化波形中的异常波峰的数量。可选地，在步骤S620中，根据灰阶变化波形，以及预设的异常波峰值的阈值，获取灰阶变化波形的异常波峰的数量。正常情况下，彩色滤光片中不会发生亚像素偏移；当出现亚像素偏移时，会出现部分玻璃上无彩色的胶，此部分光的透过率较高，在灰阶变化波形中，当CCD接收到的光量比较多时，灰阶值就高，此时会形成灰阶变化波形中的波峰，当波峰值超过预设的异常波峰值的阈值时，表明该波峰出现异常，该波峰为异常波峰。随后，在步骤S630中，比较获取的灰阶变化波形中的异常波峰的数量和预设的异常波峰的数量本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测彩色滤光片中亚像素偏移的方法，其特征在于，所述方法包括：检测所述彩色滤光片中的彩膜区域的灰阶变化，并生成灰阶变化波形；获取所述彩膜区域的灰阶变化波形中的异常波峰的数量；比较获取的所述灰阶变化波形中的异常波峰的数量和预设的异常波峰的数量阈值；当获取的所述灰阶变化波形中的异常波峰的数量大于所述预设的异常波峰的数量阈值时，判定被检测的彩色滤光片的彩膜区域中出现亚像素偏移。

【技术特征摘要】
1.一种检测彩色滤光片中亚像素偏移的方法，其特征在于，所述方法包括检测所述彩色滤光片中的彩膜区域的灰阶变化，并生成灰阶变化波形；获取所述彩膜区域的灰阶变化波形中的异常波峰的数量；比较获取的所述灰阶变化波形中的异常波峰的数量和预设的异常波峰的数量阈值； 当获取的所述灰阶变化波形中的异常波峰的数量大于所述预设的异常波峰的数量阈值时，判定被检测的彩色滤光片的彩膜区域中出现亚像素偏移。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述彩膜区域的灰阶变化波形中的异常波峰的数量的步骤包括根据所述灰阶变化波形，以及预设的异常波峰值的阈值，获取所述彩膜区域的灰阶变化波形中的异常波峰的数量。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述生成灰阶变化波形的步骤包括 获取被检测的彩色滤光片中彩膜区域中灰阶变化的相关参数；根据获取的所述灰阶变化的相关参数，以及预设的灰阶异常值的阈值，生成被检测的彩色滤光片中的彩膜区域的灰阶变化波形。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括预先设置所述预设的灰阶异常值的阈值、所述预设的异常波峰的数量阈值、以及所述预设的异常波峰值的阈值。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括当判定被检测的彩膜区域中出现亚像素偏移时，发送提示信息。6.一种检测彩色滤光片中亚...

【专利技术属性】
技术研发人员：张铁轶，余道平，刘超强，张祥，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，北京京东方显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：