用于实施循环冗余校验的系统和方法技术方案

本申请涉及用于实施循环冗余校验的系统和方法。在一个方面，提供循环冗余校验(CRC)校验器，其包含唯一模式检测器、CRC产生器、CRC初始化器和CRC验证器。所述CRC校验器预填充所述CRC产生器以获得唯一模式。当在经由数字传输链路所接收的数据流内接收到所述唯一模式时，所述CRC校验器继续校验CRC而无需对数据进行排队和存储。在另一方面，提供CRC产生器系统，其有意地破坏CRC值以传输系统误差信息。所述CRC产生器系统包含CRC产生器、CRC破坏器、误差检测器和误差值产生器。在一个实例中，所述数字传输链路是MDDI链路。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种在主机系统内的循环冗余校验(CRC)产生器系统，其包括：CRC产生器，其基于待包含在将经由数字传输链路传输的数据包中的数据来产生CRC值；CRC破坏器，其破坏由所述CRC产生器产生的CRC值，以传达主机状态信息或相关系统状态信息；误差检测器，其检测主机系统内的误差状况，并为所述CRC破坏器提供有意破坏CRC值的指令。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：布赖恩·斯蒂尔，乔治·A·威利，
申请(专利权)人：高通股份有限公司，
类型：发明
国别省市：