微波炉制造技术

技术编号:8391412 阅读:131 留言:0更新日期:2013-03-08 04:50
本发明专利技术提供一种微波炉。该微波炉包括:加热室(2),收纳烹调物;磁控管(7),通过施加电压而振荡来产生向加热室(2)提供的微波;电波传感器(11),检测由磁控管(7)产生的微波;计时器(15),对振荡开始时间进行测量,所述振荡开始时间是从向磁控管(7)施加电压到由电波传感器(11)检测到因振荡产生的微波的时间;以及通知部(6),通知磁控管(7)的更换时期,其中,当所述振荡开始时间比规定时间长时,由通知部(6)进行通知。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种具有磁控管的微波炉
技术介绍
专利文献I公开了一种以往的微波炉。上述微波炉具有收纳烹调物的加热室,并且设置有磁控管,该磁控管通过施加电压而振荡来产生微波。由磁控管产生的微波被提供到加热室,对收纳在加热室内的烹调物进行加热烹调。此外,微波炉设置有测量磁控管驱动时间的计时器。累计并存储由计时器测量的磁控管的驱动时间。如果磁控管的累计驱动时间超过了规定的更换时间,则判断接近磁控管的使用寿命并由显示部等通知处于更换时期。由此,使用者可以在磁控管到达使用寿命而停止之前更换磁控管。因此,可以防止在烹调过程中因磁控管停止而导致烹调失败。此外,由于商业用微波炉可以在营业时间以外更换磁控管,所以可以避免营业时间中因更换磁控管造成营业停止,从而可以防止利用率降低。专利文献I :日本专利公开公报特开平2-233909号(第I页-第4页、图I)但是,按照上述以往的微波炉,磁控管因个体差异而使用寿命时间不同。图7表示磁控管的使用寿命的统计数据。纵轴是累计不良率F (t)(单位%),横轴是累计驱动时间(单位h)。用累计不良率(故障率)表示多少比例的磁控管相对于磁控管的累计驱动时间到达使用寿命而发生故障。基于图7的统计数据,例如将I %的磁控管到达使用寿命的时间设定为更换时间(例如1000小时)。其结果,大多磁控管在并未劣化的状态下且到达使用寿命时间仍残留一定期间却被过早更换。因此,磁控管的更换频率高,导致微波炉的运转成本变高。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种能够降低运转成本的微波炉。为了实现上述目的,本专利技术提供一种微波炉,其特征在于包括加热室,收纳烹调物;磁控管,通过施加电压而振荡来产生向所述加热室提供的微波;电波传感器,检测由所述磁控管产生的微波;计时器,对振荡开始时间进行测量,所述振荡开始时间是从向所述磁控管施加电压到由所述电波传感器检测到因振荡产生的微波的时间;以及通知部,通知所述磁控管的更换时期,当所述振荡开始时间比规定时间长时,由所述通知部进行通知。按照这种结构,如果向磁控管施加电压,则开始由计时器进行计时。如果通过施加电压使磁控管振荡,则产生微波。如果由电波传感器检测到微波,则利用计时器测量从向磁控管施加电压到产生振荡的振荡开始时间。由磁控管产生的微波被提供到加热室,对烹调物进行烹调。如果振荡开始时间超过了规定时间,则由通知部通知磁控管处于更换时期。此外,本专利技术在上述结构的微波炉的基础上,存储所述振荡开始时间,当所述振荡开始时间连续多次比所述规定时间长时,由所述通知部进行通知。此外,本专利技术在上述结构的微波炉的基础上,所述磁控管有多个,各所述磁控管以不同相位振荡。按照这种结构,多个磁控管以不同相位振荡,电波传感器与各磁控管对应,在不同的时机检测微波。此外,本专利技术在上述结构的微波炉的基础上,利用所述计时器对所述磁控管的驱动时间进行测量,并存储所述振荡开始时间和所述磁控管的累计驱动时间,并且能够读取所述振荡开始时间和所述累计驱动时间。按照这种结构,如果驱动磁控管动进行烹调,则利用计时器对驱动时间进行测量。累计并存储磁控管的驱动时间,并且存储从施加电压到产生振荡的振荡开始时间。作业人员可以利用规定的操作,读取累计驱动时间和振荡开始时间。由此,可以基于预先取得的统计数据,推测到达磁控管更换时期的驱动时间。按照本专利技术,由于具有检测微波的电波传感器,并且从向磁控管施加电压到由电波传感器检测到因振荡产生的微波的振荡开始时间比规定时间长时,通知更换时期,所以可以将磁控管使用到因劣化而振荡开始时间变长为止。因此,可以降低磁控管的更换频率,并且可以降低微波炉的运转成本。附图说明图I是表示本专利技术实施方式的微波炉的立体图。图2是表示本专利技术实施方式的微波炉内部的主视断面图。图3是表示本专利技术实施方式的微波炉的电波传感器的侧视断面图。图4是表示本专利技术实施方式的微波炉构成的框图。图5是表示本专利技术实施方式的微波炉动作的流程图。图6是表示磁控管的累计驱动时间和振荡开始时间之间关系的图。图7是表示磁控管使用寿命的统计数据的图。附图标记说明I微波炉2加热室3 门4操作面板5操作部6显示部7磁控管8波导管9 天线10天线电动机11电波传感器12控制部13电源部14存储部15计时器16输入输出部具体实施例方式下面参照附图对本专利技术的实施方式进行说明。图I是表示一种实施方式的微波炉的立体图。微波炉I的前面配置有开关加热室2 (参照图2)的门3。在门3上设置有能够观察加热室2内的窗部3a。在门3的侧方配置有操作面板4。在操作面板4上设置有操作部5和显示部6。操作部5具有多个键和设置在显示部6上的触摸面板,用于进行烹调菜单的选择操作和烹调开始的指令等。显示部6由液晶面板等构成,并显示操作部5的操作画面和烹调的进展状况等。此外,显示部6构成通知部,该通知部向使用者显示信息等来通知使用者。图2是表示微波炉I内部的主视断面图。在前面开口的加热室2的底板2c上放置有烹调物W。加热室2的侧方配置有多个磁控管7,上述多个磁控管7通过施加电压而振荡来产生微波。利用波导管8连接磁控管7和加热室2。由磁控管7产生的微波在波导管8内传播,并被提供到加热室2内。在底板2c的下方设置有天线室9a,并且配置有天线9,该天线9利用天线电动机10的驱动而转动。利用天线9的转动使提供到加热室2的微波均匀化。在加热室2的一个侧壁2a上设置有检测微波的电波传感器11。图3表不电波传感器11的侧视断面图。电波传感器11具有前面板Ila和背面板11b,并配置于凹部2b,上述凹部2b设置在加热室2的侧壁2a。将背面板Ilb安装在凹部2b的底面上,并且利用前面板Ila封闭凹部2b,电波传感器11从前面板Ila向加热室2内突出。图4是表示微波炉I构成的框图。微波炉I的控制各部分的控制部12设置在操作面板4 (参照图I)的背面。控制部12与电源部13、磁控管7、天线电动机10、电波传感器11、操作部5、显示部6、存储部14、计时器15和输入输出部16连接。电源部13向控制部12供电,并且利用控制部12的控制向微波炉I的各部分供电。存储部14由RAM和ROM构成,存储微波炉I的烹调程序,并且存储烹调菜单的数据库。此外,利用存储部14暂时存储由控制部12进行的运算,并且存储由电波传感器11等取得的数据。计时器15对磁控管7的驱动时间和烹调时间等进行计时。输入输出部16与外部设备连接,可以重写存储在存储部14内的烹调程序或读取数据。图5是表示微波炉I的动作的流程图。如果接通微波炉I的电源,则在步骤#11中,直到利用操作部5选择了烹调菜单为止处于待机状态。如果将烹调物W收纳在加热室2内并选择了烹调菜单,则在步骤#12中,直到存在利用操作部5使烹调开始的指令为止处于待机状态。如果存在烹调开始的指令,则在步骤#13中,利用控制部12的控制从电源部13向磁控管7和天线电动机10施加电压来进行驱动。此时,以不同相位驱动多个磁控管7。在步骤#14中,由计时器15开始计时。在步骤#15中,直到电波传感器11检测到微波为止处于待机状态。此时,由于以不同相位驱动各磁控管7,所以电波传感器11在不同时机对各磁控管7检测微波。因此,可以确定由电波传感器11检测到的微波振荡源的磁控管7。如果电波传感器11分别本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:平野诚一神原诚士
申请(专利权)人:夏普株式会社
类型:
国别省市:

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