NAND Flash芯片的数据检测装置制造方法及图纸

技术编号:8149369 阅读:232 留言:0更新日期:2012-12-28 19:59
一种NAND?Flash芯片的数据检测装置,由待测NAND?Flash芯片、NAND?Flash芯片控制器、中央处理器、存储器和显示器组成,所述NAND?Flash芯片控制器包括第一接口、第二接口、CPU、数据缓存单元、ROM和RAM,所述NAND?Flash芯片控制器通过其第一接口与待测NAND?Flash芯片连接,所述NAND?Flash芯片控制器通过其第二接口与中央处理器连接。本实用新型专利技术设计合理,体积小,成本低,并且测试效率高。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及数据闪存
,特别是一种NAND Flash芯片的数据检测装置
技术介绍
闪存(FLASH)器件是基于半导体工艺制作的集成电路芯片,具有防磁、抗震、耐潮、体积小等优异性能。作为固态存储介质的大容量数码存储芯片,比照传统磁记录和光盘存储器,NAND FLASH器件具有无机械结构、可反复擦写、速度快、功耗低等显著优点,目前已经在移动存储领域(例如U盘,MP3播放器,数码存储卡,固态硬盘等等)和嵌入式应用系统中成为无可争议的主角。 FLASH存储芯片在生产切割或者封装后,FLASH生产厂家仅对其进行了简单的物理测试,如芯片管脚功能测试,物理特性测试。但是由于NANDFLASH本身存在的问题,即NANDFLASH在出厂时,可以有一定比例的坏块存在,但是由于某些应用终端中,需要烧写文件系统的区域不能有坏块,否则将使得文件系统烧写不成功,进而使得系统不能正常启动。所以,在NANDFLASH焊接之前需要检测需要烧写文件系统的区域是否存在坏块。因此,亟需一种产品能够对FLASH存储芯片的性能(包括能否正常使用,容量的坏块(Block)比率等)做全面的测试。
技术实现思路
针对现有技术中存在的不足,本技术的目的是提供一种NAND Flash芯片的数据检测装置。本技术的技术方案是一种NAND Flash芯片的数据检测装置,由待测NAND Flash芯片、NAND Flash芯片控制器、中央处理器、存储器和显示器组成,所述NAND Flash芯片控制器包括第一接口、第二接口、CPU、数据缓存单元、ROM和RAM,所述NAND Flash芯片控制器通过其第一接口与待测NAND Flash芯片连接,所述NAND Flash芯片控制器通过其第二接口与中央处理器连接。作为优选技术方案,本技术所述中央处理器与存储器集成在一个集成电路中。作为优选技术方案,本技术所述存储器为外置存储器。作为优选技术方案,本技术所述存储器为硬盘、U盘或存储卡。作为优选技术方案,本技术所述显示器为IXD或LED显示器。本技术的有益效果是本技术实现了对NAND Flash芯片内部逻辑性能和结构分布进行测试,并做坏块标记,并将标记的NAND Flash芯片的坏块通过显示器进行显不O本技术的结构简单,设计合理,体积小,成本低,并且测试效率高,适合推广应用。附图说明图I是本技术的结构示意图。具体实施方式应当理解,此处所描述的具体实 施例仅仅用以解释本技术,并不用于限定本技术。请参阅图1,提出本技术的实施例1,本实施例是一种NAND Flash芯片的数据检测装置,由待测NAND Flash芯片、NAND Flash芯片控制器、中央处理器、存储器和显示器组成,所述NAND Flash芯片控制器包括第一接口、第二接口、CPU、数据缓存单元、ROM和RAM,所述NAND Flash芯片控制器通过其第一接口与待测NAND Flash芯片连接,所述NANDFlash芯片控制器通过其第二接口与中央处理器连接。本技术所述中央处理器与存储器集成在一个集成电路中。或者,本技术所述存储器为外置存储器。进一步地,本技术所述存储器可选用硬盘、U盘或存储卡。本技术所述显示器为IXD或LED显示器。以上所述仅为本技术的优选实施例,并非因此而限制本技术的专利范围,凡是利用本技术说明书及附图内容所作的等效结构变换,或直接或间接运用在其他相关的
,均同理包括在本技术的专利保护范围内。权利要求1.一种NAND Flash芯片的数据检测装置,其特征在于由待测NAND Flash芯片、NANDFlash芯片控制器、中央处理器、存储器和显示器组成,所述NAND Flash芯片控制器包括第一接口、第二接口、CPU、数据缓存单元、ROM和RAM,所述NAND Flash芯片控制器通过其第一接口与待测NAND Flash芯片连接,所述NAND Flash芯片控制器通过其第二接口与中央处理器连接。2.根据权利要求I所述的NANDFlash芯片的数据检测装置,其特征在于所述中央处理器与存储器集成在一个集成电路中。3.根据权利要求I所述的NANDFlash芯片的数据检测装置,其特征在于所述存储器为外置存储器。4.根据权利要求I所述的NANDFlash芯片的数据检测装置,其特征在于所述存储器为硬盘、U盘或存储卡。5.根据权利要求1、2、3或4所述的NANDFlash芯片的数据检测装置,其特征在于所述显示器为IXD或LED显示器。专利摘要一种NAND Flash芯片的数据检测装置,由待测NAND Flash芯片、NAND Flash芯片控制器、中央处理器、存储器和显示器组成,所述NAND Flash芯片控制器包括第一接口、第二接口、CPU、数据缓存单元、ROM和RAM,所述NAND Flash芯片控制器通过其第一接口与待测NAND Flash芯片连接,所述NAND Flash芯片控制器通过其第二接口与中央处理器连接。本技术设计合理,体积小,成本低,并且测试效率高。文档编号G11C29/52GK202632785SQ20122030613公开日2012年12月26日 申请日期2012年6月28日 优先权日2012年6月28日专利技术者粱效宁, 许超明 申请人:内江市效率源信息安全技术有限责任公司本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种NAND?Flash芯片的数据检测装置,其特征在于:由待测NAND?Flash芯片、NAND?Flash芯片控制器、中央处理器、存储器和显示器组成,所述NAND?Flash芯片控制器包括第一接口、第二接口、CPU、数据缓存单元、ROM和RAM,所述NAND?Flash芯片控制器通过其第一接口与待测NAND?Flash芯片连接,所述NAND?Flash芯片控制器通过其第二接口与中央处理器连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:粱效宁许超明
申请(专利权)人:内江市效率源信息安全技术有限责任公司
类型:实用新型
国别省市:

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