一种自吸式脉冲反射超声波测厚仪探头制造技术

技术编号:8066497 阅读:199 留言:0更新日期:2012-12-08 02:46
本实用新型专利技术涉及一种自吸式脉冲反射超声波测厚仪探头,由探头本体以及套装在所述探头本体末端的环形钕铁硼磁铁构成,所述环形钕铁硼磁铁的侧面设置有螺孔,通过在所述螺孔中旋入固定螺栓与所述探头本体固定连接,且所述环形钕铁硼磁铁的末端端面与探头本体的末端端面位于同一水平面上。所述环形钕铁硼磁铁对被检工件的压力为25N。本实用新型专利技术解决了实际测厚检验时对施加压力无法控制的难题,使得测厚检验更加规范化,更加符合标准,提高了测量精准度,减少了因耦合层带来的测量误差,并且减少了劳动强度。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及ー种自吸式脉冲反射超声波测厚仪探头,具体的说是ー种适用于铁磁性材料的恒カ自吸式脉冲反射超声波测厚仪探头,使用该探头对铁磁性材料进行测厚时,可在探头和被检エ件之间实现恒定的吸力,以提高测厚精度。
技术介绍
脉冲反射超声波测厚技术作为ー种常规无损检测手段应用非常广泛,可发现设备内部腐蚀减薄、分层等缺陷。其原理是利用双晶直探头测量超声波在エ件上下底面之间往返一次传播的时间来求得エ件的厚度。其计算公式如下T=ct/2。上述公式中T表示エ件厚度,c表示エ件中的波速,t表示超声波在エ件中往返一次传 播的时间。对エ件进行测厚时,探头要放置平稳,对探头施加的压カ要适当,GB/T11344-2008中明确规定了超声波测厚吋,对探头施加压カ值得要求探头与试件接触时,在探头上施加20 30N的压力,以保证探头与试件之间有良好的耦合,并且排除多余的耦合剂,使測量面形成ー层极薄的耦合剤,減少声波通过耦合层的时间,提高測量精度。目前测厚仪有的探头无任何装置控制施加压力的大小,有的探头加装了弹簧装置,将弹簧压死可实现对最小压カ的控制,但检验人员操作强度大,且无法实现对最大压カ的控制,可能导致因施加压カ过大而致使探头磨损。
技术实现思路
鉴于上述情況,本技术的目的在于提供一种结构简单,使用方便的自吸式脉冲反射超声波测厚仪探头,可对脉冲反射超声波测厚仪探头与被检エ件之间提供恒定压力,以保证测厚的精度。为达到上述目的,本技术所采用的技术方案是一种自吸式脉冲反射超声波测厚仪探头,由探头本体以及套装在所述探头本体末端的环形钕铁硼磁铁构成,所述环形钕铁硼磁铁的侧面设置有螺孔,通过在所述螺孔中旋入固定螺栓与所述探头本体固定连接,且所述环形钕铁硼磁铁的末端端面与探头本体的末端端面位于同一水平面上。所述环形钕铁硼磁铁对被检エ件的压カ为25N。本技术的有益效果在于解决了实际测厚检验时对施加压カ无法控制的难题,使得测厚检验更加规范化,更加符合标准,提高了測量精准度,減少了因耦合层带来的测量误差,并且減少了劳动强度。附图说明图I为本技术的结构示意图;图2为本技术中环状钕铁硼磁铁的示意图。在附图中I超声波测厚仪、1-1探头本体、2环形钕铁硼磁鉄、2-1螺孔、3固定螺栓。具体实施方式本实施例由探头本体1-1以及套装在所述探头本体1-1末端的环形钕铁硼磁铁2构成,探头本体1-1的外径与环形钕铁硼磁铁2的内径相适应,所述环形钕铁硼磁铁2的侧面设置有螺孔2-1,通过在所述螺孔2-1中旋入固定螺栓3与所述探头本体1-1固定连接,且所述环形钕铁硼磁铁2的末端端面与探头本体1-1的末端端面位于同一水平面上。使用时选择符合下述要求的环形钕铁硼磁铁2 FXS2/ (SJS2) =25 (N)式中F :环形钕铁硼磁铁对被检工件的吸力,单位N ;S1 :环形钕铁硼磁铁的面积,单位nf ;S2 :探头面积,单位IIf。满足上述关系的环形钕铁硼磁铁,可实现探头和被检工件之间存在25N的恒定压力。将环形钕铁硼磁铁2套在探头本体1-1上,调节环形钕铁硼磁铁2位置,使其末端端面与探头本体1-1的末端端面保持在同一水平面上。将三个固定螺栓3通过螺孔2-1分别拧紧,使环形钕铁硼磁铁2与探头本体1-1牢牢固定。检测时按照仪器使用说明校对调节好超声波测厚仪I ;对被检工件检测面进行处理,满足粗糙度要求;然后施加耦合剂;将探头本体1-1靠近被检工件,此时因磁力作用,探头本体1-1自吸在被检工件表面,读取超声波测厚仪I显示数值,完成本次测厚检验。权利要求1.一种自吸式脉冲反射超声波测厚仪探头,其特征在于其由探头本体(1-1)以及套装在所述探头本体(1-1)末端的环形钕铁硼磁铁(2)构成,所述环形钕铁硼磁铁(2)的侧面设置有螺孔(2-1),通过在所述螺孔(2-1)中旋入固定螺栓(3)与所述探头本体(1-1)固定连接,且所述环形钕铁硼磁铁(2)的末端端面与探头本体(1-1)的末端端面位于同一水平面上。2.根据权利要求I所述的一种自吸式脉冲反射超声波测厚仪探头,其特征在于所述环形钕铁硼磁铁(2)对被检工件的压力为25N。专利摘要本技术涉及一种自吸式脉冲反射超声波测厚仪探头,由探头本体以及套装在所述探头本体末端的环形钕铁硼磁铁构成,所述环形钕铁硼磁铁的侧面设置有螺孔,通过在所述螺孔中旋入固定螺栓与所述探头本体固定连接,且所述环形钕铁硼磁铁的末端端面与探头本体的末端端面位于同一水平面上。所述环形钕铁硼磁铁对被检工件的压力为25N。本技术解决了实际测厚检验时对施加压力无法控制的难题,使得测厚检验更加规范化,更加符合标准,提高了测量精准度,减少了因耦合层带来的测量误差,并且减少了劳动强度。文档编号G01B17/02GK202582510SQ201220205890公开日2012年12月5日 申请日期2012年5月9日 优先权日2012年5月9日专利技术者王强, 敬尚前, 刘长福, 郑相锋, 代小号 申请人:河北省电力研究院本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种自吸式脉冲反射超声波测厚仪探头,其特征在于其由探头本体(1?1)以及套装在所述探头本体(1?1)末端的环形钕铁硼磁铁(2)构成,所述环形钕铁硼磁铁(2)的侧面设置有螺孔(2?1),通过在所述螺孔(2?1)中旋入固定螺栓(3)与所述探头本体(1?1)固定连接,且所述环形钕铁硼磁铁(2)的末端端面与探头本体(1?1)的末端端面位于同一水平面上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王强敬尚前刘长福郑相锋代小号
申请(专利权)人:河北省电力研究院
类型:实用新型
国别省市:

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