一种唤醒信号测试系统，用于对一南北桥集成芯片的唤醒信号进行测试，唤醒信号测试系统包括一测试卡及一示波器，示波器连接至南北桥集成芯片，测试卡包括一板体、一金手指及一开关按钮，金手指用于插接于一PCIE插槽，金手指包括一第一接地引脚及一第一唤醒信号引脚，开关按钮连接在第一接地引脚与第一唤醒信号引脚之间，当金手指插接于PCIE插槽时，第一接地引脚对应连接至PCIE插槽的第二接地引脚，第一唤醒信号引脚对应连接至PCIE插槽的第二唤醒信号引脚，当按下开关按钮，第一唤醒信号引脚连接至第一接地引脚以输出一低电平信号至南北桥集成芯片来唤醒待测主板。本发明专利技术实现了便捷、准确地对南北桥集成芯片的唤醒信号测试。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种唤醒信号测试系统及其测试卡。
技术介绍
在开发电脑时需要对电脑芯片如南北桥集成芯片的电气特性做信号完整性测试，以确保该芯片设计符合设计要求。南北桥集成芯片的电气特征的信号完整性测试包括对南北桥集成芯片的唤醒信号的测试。通常在对南北桥集成芯片的唤醒信号进行测试时，需要一控制机台通过网络发送一个唤醒信号至一处于休眠状态的待测主板上的网卡使该网卡输出一低电平信号来唤醒该休眠的待测主板上，再通过一连接至该南北桥集成芯片的示波器显示该唤醒电压波形。但是，这样的测试方式需要对该控制机台进行设置，且通过控制网卡发送的唤醒信号会受到网卡的影响，如网卡品质不好，唤醒信号会出现非单调等异常现象，从而造成测试结果不准确。
技术实现思路
鉴于上述内容，有必要提供一种唤醒信号测试系统及其测试卡，以便捷、准确地对唤醒信号进行测试。一种唤醒信号测试系统，用于对一待测主板的南北桥集成芯片的唤醒信号进行测试，所述唤醒信号测试系统包括一测试卡及一示波器，所述测试卡包括一板体、一设置在所述板体一侧的金手指及一设置在所述板体上的开关按钮，所述金手指用于插接于所述待测主板上的一连接所述南北桥集成芯片的PCIE插槽，所述金手指包括一第一接地引脚及一第一唤醒信号引脚，所述第一接地引脚连接至所述开关按钮的第一端，所述第一唤醒信号引脚连接至所述开关按钮的第二端，当所述金手指插接于所述PCIE插槽时，所述第一接地引脚对应连接至所述PCIE插槽的第二接地引脚，所述第二唤醒信号引脚对应连接至所述PCIE插槽的第二唤醒信号引脚，当按下所述开关按钮，所述第一唤醒信号引脚连接至所述第一接地引脚以输出一低电平信号至所述南北桥集成芯片来唤醒所述待测主板，所述示波器连接至所述南北桥集成芯片的唤醒引脚以显示所述低电平信号的波形状况。一种测试卡，用于辅助对一待测主板的南北桥集成芯片的唤醒信号进行测试，所述测试卡包括一板体、一设置在所述板体一侧的金手指及一设置在所述板体上的开关按钮，所述金手指用于插接于所述待测主板上的一连接所述南北桥集成芯片的PCIE插槽，所述金手指包括一第一接地引脚及一第一唤醒信号引脚，所述第一接地引脚连接至所述开关按钮的第一端，所述第一唤醒信号引脚连接至所述开关按钮的第二端，当所述金手指插接于所述PCIE插槽时，所述第一接地引脚对应连接至所述PCIE插槽的第二接地引脚，所述第二唤醒信号引脚对应连接至所述PCIE插槽的第二唤醒信号引脚，当按下所述开关按钮，所述第一唤醒信号引脚连接至所述第一接地引脚以输出一低电平信号至所述南北桥集成芯片来唤醒所述待测主板。本专利技术唤醒信号测试系统通过按下所述测试卡上的开关按钮将所述测试卡上的唤醒信号引脚连接至其接地引脚，使所述唤醒信号引脚通过所述PCIE插槽的唤醒信号引脚输出所述低电平信号至所述南北桥集成芯片来唤醒所述待测主板，从而实现了便捷准确地对所述南北桥集成芯片的唤醒信号的测试。附图说明下面参照附图结合较佳实施方式对本专利技术作进一步详细描述 图I为本专利技术唤醒信号测试系统的较佳实施方式的示意图。图2为图I的唤醒信号测试卡的示意图。主要元件符号说明 测试卡I ο 板体_12_ 金手指Ti—接地引脚_ 142.244_硬醒信号引脚144、222、242 开关按钮Γ6示波器_20_ 唤醒信号测试系统—100 待测主板_200南北桥集成芯片 ^ 220PCIE 插槽|240— 如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本专利技术。具体实施例方式请参考图I及2，本专利技术唤醒信号测试系统100用于对一待测主板200的南北桥集成芯片220的唤醒信号进行测试。所述唤醒信号测试系统100的较佳实施方式包括一测试卡10及一示波器20。所述测试卡10包括一板体12、一设置在所述板体12 —侧的金手指14及一设置在所述板体12上的开关按钮16。所述金手指14用于插接于所述待测主板200上的一 PCIE插槽240内。所述金手指14包括一接地引脚142及一唤醒信号引脚144。所述接地引脚142连接至所述开关按钮16的第一端。所述唤醒信号引脚144连接至所述开关按钮16的第二端。当所述开关按钮16被按下后，所述接地引脚142连接至所述唤醒信号引脚144。所述示波器20连接至所述待测主板200的南北桥集成芯片220的唤醒信号引脚222。所述唤醒信号引脚222还连接至所述PCIE插槽240内的唤醒信号引脚242。当对所述唤醒信号进行测试时，将所述测试卡10的金手指14插接入所述PCIE插槽240内。所述测试卡10的接地引脚142与所述PCIE插槽240内的接地引脚244对应连接。所述测试卡10的唤醒信号引脚144与所述PCIE插槽240内的唤醒信号引脚242对应连接。使所述待测主板200进入休眠状态。按下所述开关按钮16，所述接地引脚142连接至所述唤醒信号引脚144。所述唤醒信号引脚144输出一低电平信号至所述PCIE插槽240的唤醒信号引脚242。所述PCIE插槽240的唤醒引脚输出所述低电平信号至所述南北桥集成芯片220的唤醒信号引脚222。所述南北桥集成芯片220则唤醒处于休眠状态的待测主板200。所述示波器20显示唤醒信号的电压状况，从而实现对所述南北桥集成芯片220的唤醒信号的测试。若待测主板200的南北桥集成芯片220的唤醒信号引脚222出现故障，则所述唤醒信号引脚222将不会接收到低电平的信号，此时所述示波器20将不会检测到低电平的信号，表明所述南北桥集成芯片220的唤醒信号引脚222出现故障。本专利技术唤醒信号测试系统100通过按下所述测试卡10上的开关按钮16将所述测试卡10上的唤醒信号引脚144连接至接地引脚142，使所述唤醒信号引脚144通过所述PCIE插槽240的唤醒信号引脚242输出所述低电平信号至所述南 北桥集成芯片220的唤醒信号引脚222来唤醒所述待测主板200，从而实现了便捷准确地对所述南北桥集成芯片220的唤醒信号的测试。权利要求1.一种唤醒信号测试系统，用于对一待测主板的南北桥集成芯片的唤醒信号进行测试，所述唤醒信号测试系统包括一测试卡及一示波器，所述测试卡包括一板体、一设置在所述板体一侧的金手指及一设置在所述板体上的开关按钮，所述金手指用于插接于所述待测主板上的一连接所述南北桥集成芯片的PCIE插槽，所述金手指包括一第一接地引脚及一第一唤醒信号引脚，所述第一接地引脚连接至所述开关按钮的第一端，所述第一唤醒信号引脚连接至所述开关按钮的第二端，当所述金手指插接于所述PCIE插槽时，所述第一接地引脚对应连接至所述PCIE插槽的第二接地引脚，所述第二唤醒信号引脚对应连接至所述PCIE插槽的第二唤醒信号引脚，当按下所述开关按钮，所述第一唤醒信号引脚连接至所述第一接地引脚以输出一低电平信号至所述南北桥集成芯片来唤醒所述待测主板，所述示波器连接至所述南北桥集成芯片的唤醒引脚以显示所述低电平信号的波形状况。2.一种测试卡，用于辅助对一待测主板的南北桥集成芯片的唤醒信号进行测试，所述测试卡包括一板体、一设置在所述板体一侧的金手指及一设置在所述板体上的开关按钮，所述金手指用于插接于所述待测主板上的一连接所述南北桥集成芯片的PCIE插槽，所述金手指包括一第一接地引脚及一第一唤醒信号引脚，所述第一接地引脚本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种唤醒信号测试系统，用于对一待测主板的南北桥集成芯片的唤醒信号进行测试，所述唤醒信号测试系统包括一测试卡及一示波器，所述测试卡包括一板体、一设置在所述板体一侧的金手指及一设置在所述板体上的开关按钮，所述金手指用于插接于所述待测主板上的一连接所述南北桥集成芯片的PCIE插槽，所述金手指包括一第一接地引脚及一第一唤醒信号引脚，所述第一接地引脚连接至所述开关按钮的第一端，所述第一唤醒信号引脚连接至所述开关按钮的第二端，当所述金手指插接于所述PCIE插槽时，所述第一接地引脚对应连接至所述PCIE插槽的第二接地引脚，所述第二唤醒信号引脚对应连接至所述PCIE插槽的第二唤醒信号引脚，当按下所述开关按钮，所述第一唤醒信号引脚连接至所述第一接地引脚以输出一低电平信号至所述南北桥集成芯片来唤醒所述待测主板，所述示波器连接至所述南北桥集成芯片的唤醒引脚以显示所述低电平信号的波形状况。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：李晖，李玉梅，张浩，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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