一种用于导出一系列OLED不一致性测试图形的系统和方法。图形发生器根据诸如离散余弦变换或小波变换的变换函数以生成全部系列显示图形。驱动器以每个所述系列图形驱动显示器。传感器为每个所述系列图形感测显示器的属性，例如，显示器的总电流。提取单元利用所感测的属性和所述变换函数的逆变换以导出像素不一致性模型。可识别并删除对所述不一致性模型的贡献小于阈值量的图形以导出稀疏的系列图形，可将所述稀疏的系列图形存储于存储器中。所述稀疏的系列图形可用于测试显示器并提取一组像素不均匀值。像素不均匀值可用于生成用于所述显示器的校正信号。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术一般性地涉及有源矩阵有机发光器件(AMOLED)显示器，具体涉及改进显示器在空间和/或时间上的一致性。
技术介绍
近来，有机发光二极管(OLED)显示器在显示应用中引人注目，这是由于相比于液晶显示器(LCD)，有机发光二极管(OLED)显示器具有更快的响应时间、更大的视角、更高的对比度、更轻的重量、更低的功率且适用于柔性基板。目前，已经提出了有源矩阵有机发光器件(“AM0LED”)显示器。这种显示器优于传统液晶显示器的优点包括更低的功耗、制造灵活性以及更快的刷新率。相比于传统液晶显示器，在AMOLED显示器中没有背光，这是由于每个像素由独自发光的不同颜色的OLED构成。所述OLED基于通过驱动晶体管提供的电流而发光。AMOLED显示器包括多行与多列的像素的阵列，每个像素均具有布置为行与列的阵列的有机发光二极管(OLED)以及背板电子。因为OLED为电流驱动器件，故AMOLED的像素电路应当能够提供精确、恒定的驱动电流。有源矩阵寻址包含一层背板电子，其基于采用非晶硅(a-Si H)、多晶硅(poly-Si)或聚合物技术制造的薄膜晶体管(TFT)，以便提供在每个基于像素的OLED中所需的偏置电压和驱动电流。例如，由于制造工艺与差别性的老化，AMOLED显示器可出现不一致性。AMOLED显示器的各个像素可由于在显示器上显示的图像而随时间与其它像素不同地老化。特定像素的TFT背板和OLED的老化可单独地促使所述像素的老化。此外，不同颜色的OLED由不同的有机材料制成，这些有机材料的老化不同。于是，像素的各自OLED可相互不同地老化。因此，对于特定像素，同一驱动电流可随时间而生成不同的亮度，或者像素的颜色可随时间而变化。测量AMOLED显示器的状态(例如老化、不一致性等)可要求测量每个单独像素。这要求大量的测量，且测量数随着像素数的增加而增大。
技术实现思路
本专利技术的一些方面包括用于评价OLED显示器像素状态(例如，像素老化和/或像素不一致性)的方法。该方法包括生成代表显示面板的像素值的一系列图形，其中，所述一系列图形为全部系列图形的子集，并且以所述一系列图形驱动OLED面板。感测代表面板对所述一系列图形中的各个图形的响应的一系列值，并且从所感测的系列值中导出代表面板的像素状态的状态值矩阵。将所述状态值矩阵存储于存储器中，并且所述状态值矩阵可用于对显示器施加校正信号。例如，可利用离散余弦变换、小波变换或主成分分析以生成图形。测量可以在多个工作点(例如，在饱和区和线性区的驱动晶体管)处操作显示器的同时进行，从而实现为多个离散显示特性(例如，驱动晶体管TFT老化和OLED像素老化)提取状态值。根据本专利技术的另一方面，用于评价OLED显示状态(例如老化和/或不一致性)的装置包括图形发生器，该图形发生器配置为生成一系列像素图形，其中，所述一系列图形为全部系列图形的子集。耦接至所述图形发生器的像素驱动器配置为以所述一系列像素图形驱动显示面板。传感器配置为感测对应于所述图形发生器生成的图形的面板响应值，并且耦接至传感器的提取模块配置为从面板响应值中提取与面板的每个像素对应的一组状态值。存储器配置为存储所述一组状态值。耦接至像素驱动器的校正模块可生成对应于所述状态值的一组校正信号。例如可利用离散余弦变换、小波变换或主成分分析以生成图形。测量可以在多个工作点(例如，在饱和区和线性区的驱动晶体管)处操作显示器的同时进行，从而实现为多个离散显示特性(例如驱动晶体管TFT老化和OLED像素老化)提取状态值。在本专利技术的另一方面中，用于导出一系列OLED状态测试图形的方法包括根据变换函数(诸如离散余弦变换和/或小波变换)生成全部系列显示图形并且以每个所述系列图形驱动显示器。所述方法还包括为每个所述系列图形感测显示器的属性并且利用所感测的属性和变换函数的逆变换以导出像素状态模型。所述方法还包括识别并删除所述系列图形中的对状态模型的贡献小于阈值量的图形以导出稀疏的系列图形。将所述稀疏的系列图形存储于存储器中。所述方法还可包括生成所述稀疏的系列图形、以每个所述稀疏的系列图形驱动显示器并且为每个所述稀疏的系列图形感测显示器的属性。可从所感测的属性中提取一组像素状态值(例如老化和/或不一致性)。可将像素状态值存储于存储器中。尽管单个器件和像素的不稳定性以及不一致性，本专利技术有助于改进显示器的一致性和寿命。本技术为非侵入性的，并且可适用于包括AMOLED显示器的任何类型的显示器，本技术可用作实时诊断工具，以在大的区域上、在时间或空间上制定或提取器件指标。鉴于参照附图对各种实施例和/或各方面的详细说明，本领域技术人员会更好地理解本专利技术的前述与附加方面以及各实施例，下面简述附图。附图说明当阅读以下详细说明且参照附图时，可更好地理解本专利技术的前述及其它优点。图I为AMOLED显示器的框图；图2为用于图I中的AMOLED显示器的像素驱动电路的框图；图3为用于测量并校正AMOLED显示器不一致性的系统的框图；图4为提取AMOLED显示器的不一致性信息的方法的流程图；图5为生成AMOLED显示器的不一致性模型的方法的流程图；图6为面板亮度的空间相关性的绘图；图7 (a) 图7(j)为表示主成分的图形；图8表示SPICE仿真与二次模型的比较；图9为基于视频信号、通过提取主成分以测量并校正AMOLED显示器不一致性的系统的框图；图10为将视频信号用作变换向量以测量并校正AMOLED显示器不一致性的系统的框图；图11(a)为施加于显示器的图形的画面，且图11(b)为利用离散余弦变换获得的对显示器的老化的估计的画面；并且图12(a)为实际面板老化的画面，且图12(b)为利用主成分分析而对老化的估计的画面。虽然本专利技术易于进行各种变型和替代形式，但在附图中以示例的形式图示了 具体实施例，且在此处详细说明。然而，应当理解，本专利技术并未意图局限于所公开的特定形式。恰恰相反，本专利技术旨在覆盖落入本专利技术的精神和由所附的权利要求书所限定的范围内的所有变型、等效和替代。具体实施例方式图I为电子显示系统100，该电子显示系统100具有有源矩阵区或像素阵列102，其中，各像素104的阵列以行列状布置。显示系统100例如可以为AMOLED显示器。为便于图示，仅表示两行多列。在像素阵列102的有源矩阵区的外部为外围区域106，在外围区域106中设有用于驱动和控制像素阵列102的外围电路。外围电路包括栅极或地址驱动电路108、源极或数据驱动电路110、控制器112以及电源电压(例如Vdd)驱动器114。控制器112控制栅极驱动器108、源极驱动器110和电源电压驱动器114。在控制器112的控制下，栅极驱动器108操作地址线或选择线SEL、SEL等，一个地址线或选择线用于像素阵列102中的每行像素104。视频源120将处理后的视频数据馈送给控制器112以显示于显示系统100。视频源120代表从采用显示系统100的装置输出的任何视频，所述装置诸如计算机、手机、PDA等。控制器112将处理后的视频数据变换为适当的电压编程信息以用于显示系统100中的各像素104。在下述像素共用配置中，栅极或地址驱动电路108还可有选择地操作全局选择线GSEL和/GSEL，全局选择线GSEL和/GSEL操作像本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：戈尔拉玛瑞扎·恰吉，贾维德·贾菲里，阿罗基亚·内森，
申请(专利权)人：伊格尼斯创新公司，
类型：发明
国别省市：
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