本发明专利技术涉及一种电磁波测试装置，所述电磁波测试装置包括支撑盘、分度盘、第一导轨、第二导轨以及转轴，所述转轴的下端固定在支撑盘上，所述转轴的上端穿过分度盘、第一导轨及第二导轨，所述第一导轨及第二导轨能够绕转轴转动，所述第一导轨上设置有第一滑块，所述第二导轨上设置有第二滑块。根据本发明专利技术的电磁波测试装置，第一导轨及第二导轨相对可以转动，并且第一导轨与第二导轨的夹角可以直接从分度盘上读出，因此测试方便快捷，并且通用性强。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种电磁波测试装置。
技术介绍
电磁波在传递过程中遇到媒质会发生折射、反射等物理现象，通过搭建测试平台可以实现对折射波和反射波的测试实验，以得出电磁通过折射或反射后的情形。现有测试平台多是平面直角坐标平台，其两个导轨相互垂直，因此只能满足单一轴线上的测试，对于那些要求两个导轨的夹角不是90度的测试实验，完全无法满足，且夹角不能从平台上直接读出，往往需要借助辅助工具测量得到，不够精确也比较费时费力。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题在于，针对现有技术的的缺陷，提供一种通用性强的电 磁波测试装置。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是一种电磁波测试装置，所述电磁波测试装置包括支撑盘、分度盘、第一导轨、第二导轨以及转轴，所述转轴的下端固定在支撑盘上，所述转轴的上端穿过分度盘、第一导轨及第二导轨，所述第一导轨及第二导轨能够绕转轴转动，所述第一导轨上设置有第一滑块，所述第二导轨上设置有第二滑块。进一步地，所述分度盘具有中心通孔，所述转轴穿过分度盘的中心通孔。进一步地，所述支撑盘呈圆形。进一步地，所述分度盘呈圆形，并具有刻度。进一步地，所述第一滑块可相对第一导轨滑动。进一步地，所述第二滑块可相对第二导轨滑动。进一步地，所述第一导轨靠近分度盘的位置上设置第一指针板，所述第二导轨靠近分度盘的位置上设置第二指针板。进一步地，所述第一导轨的下侧表面设置有滑动装置。进一步地，所述第二导轨的下侧表面设置有滑动装置。进一步地，所述滑动装置包括与第一导轨或第二导轨可转动连接的滑动板，以及设置在滑动板下方两端的两个滑动轮。根据本专利技术的电磁波测试装置，第一导轨及第二导轨相对可以转动，并且第一导轨与第二导轨的夹角可以直接从分度盘上读出，因此测试方便快捷，并且通用性强。附图说明图I是本专利技术提供的电磁波测试装置的结构示意图。具体实施例方式如图I所示，根据本专利技术的电磁波测试装置包括支撑盘I、分度盘2、第一导轨3、第二导轨4以及转轴5，所述转轴5的下端固定在支撑盘I上，所述转轴5的上端穿过分度盘2、第一导轨3及第二导轨4，所述第一导轨3及第二导轨4能够绕转轴转动，所述第一导轨3上设置有可相对第一导轨3滑动的第一滑块6，所述第二导轨4上设置有可相对第二导轨4滑动第二滑块7。第一滑块6与第二滑块7上安装测试平台9，例如图中的喇叭天线8。由于所述第一滑块6可相对第一导轨3滑动，第二滑块7可相对第二导轨4滑动，因此，可以实现测试平台在第一导轨和第二导轨上的相对位置，实现各种不同测试，通用性好。本专利技术中，所述分度盘2具有中心通孔21，所述转轴5穿过分度盘2的中心通孔21。转轴5与分度盘2固定连接在一起，这样，分度盘2与支撑盘I就不会有相对的转动。所述分度盘2呈圆形，并具有刻度，刻度设置在分度盘2的边缘，360度分布。为了配合分度盘2，使得本专利技术的装置更为美观，进一步地，所述支撑盘I也呈圆形。所述第一导轨3靠近分度盘2的位置上设置第一指针板31，所述第二导轨4靠近分度盘2的位置上设置第二指针板41。第一指针板31的尖角310对准分度盘刻度的一个位置，第二指针板41的尖角410对准分度盘刻度的另一个位置，刻度上这两个位置的差值就是第一导轨与第二导轨的 夹角，因此可以很方便快捷地得到第一导轨与第二导轨的夹角，并且相当精确。另外，所述第一导轨3及第二导轨4的下侧表面均设置有滑动装置100。第一导轨3下侧的滑动装置与第二导轨4下侧的滑动装置等高，以使得整个测试装置水平。本专利技术中，所述滑动装置包括与第一导轨3或第二导轨4可转动连接的滑动板101，以及设置在滑动板101下方两端的两个滑动轮102。滑动板101与第一导轨3及第二导轨4相平行设置，两个滑动轮102的尺寸一样，以保证整个测试装置水平。根据本专利技术的电磁波测试装置，第一导轨及第二导轨相对可以转动，并且第一导轨与第二导轨的夹角可以直接从分度盘上读出，因此测试方便快捷，并且通用性强。上面结合附图对本专利技术的实施例进行了描述，但是本专利技术并不局限于上述的具体实施方式，上述的具体实施方式仅仅是示意性的，而不是限制性的，本领域的普通技术人员在本专利技术的启示下，在不脱离本专利技术宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可做出很多形式，这些均属于本专利技术的保护之内。权利要求1.一种电磁波测试装置，其特征在于，所述电磁波测试装置包括支撑盘、分度盘、第一导轨、第二导轨以及转轴，所述转轴的下端固定在支撑盘上，所述转轴的上端穿过分度盘、第一导轨及第二导轨，所述第一导轨及第二导轨能够绕转轴转动，所述第一导轨上设置有第一滑块，所述第二导轨上设置有第二滑块。2.根据权利要求I所述的电磁波测试装置，其特征在于，所述分度盘具有中心通孔，所述转轴穿过分度盘的中心通孔。3.根据权利要求I所述的电磁波测试装置，其特征在于，所述支撑盘呈圆形。4.根据权利要求I所述的电磁波测试装置，其特征在于，所述分度盘呈圆形，并具有刻度。5.根据权利要求I所述的电磁波测试装置，其特征在于，所述第一滑块可相对第一导 轨滑动。6.根据权利要求I所述的电磁波测试装置，其特征在于，所述第二滑块可相对第二导轨滑动。7.根据权利要求I所述的电磁波测试装置，其特征在于，所述第一导轨靠近分度盘的位置上设置第一指针板，所述第二导轨靠近分度盘的位置上设置第二指针板。8.根据权利要求I所述的电磁波测试装置，其特征在于，所述第一导轨的下侧表面设置有滑动装置。9.根据权利要求I所述的电磁波测试装置，其特征在于，所述第二导轨的下侧表面设置有滑动装置。10.根据权利要求8或9所述的电磁波测试装置，其特征在于，所述滑动装置包括与第一导轨或第二导轨可转动连接的滑动板，以及设置在滑动板下方两端的两个滑动轮。全文摘要本专利技术涉及一种电磁波测试装置，所述电磁波测试装置包括支撑盘、分度盘、第一导轨、第二导轨以及转轴，所述转轴的下端固定在支撑盘上，所述转轴的上端穿过分度盘、第一导轨及第二导轨，所述第一导轨及第二导轨能够绕转轴转动，所述第一导轨上设置有第一滑块，所述第二导轨上设置有第二滑块。根据本专利技术的电磁波测试装置，第一导轨及第二导轨相对可以转动，并且第一导轨与第二导轨的夹角可以直接从分度盘上读出，因此测试方便快捷，并且通用性强。文档编号G01R29/00GK102798767SQ20111018099公开日2012年11月28日 申请日期2011年6月30日 优先权日2011年6月30日专利技术者刘若鹏, 季春霖, 杨松涛 申请人:深圳光启高等理工研究院, 深圳光启创新技术有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种电磁波测试装置，其特征在于，所述电磁波测试装置包括支撑盘、分度盘、第一导轨、第二导轨以及转轴，所述转轴的下端固定在支撑盘上，所述转轴的上端穿过分度盘、第一导轨及第二导轨，所述第一导轨及第二导轨能够绕转轴转动，所述第一导轨上设置有第一滑块，所述第二导轨上设置有第二滑块。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘若鹏，季春霖，杨松涛，
申请(专利权)人：深圳光启高等理工研究院，深圳光启创新技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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