一种适合X射线衍射仪测量小块不规则固体的样品台制造技术

本实用新型专利技术公开了一种适合X射线衍射仪测量小块不规则固体的样品台，它由样品台主体和凹槽构成，所说的凹槽位于样品台主体的中心位置，凹槽的深度为2-25mm，凹槽的外缘有定位标示，所说的样品台主体由样品台底座和无明显X射线衍射信号和强烈背景的测量表面构成，所说的测量表面依粘胶层与样品台底座的上表面固定连接，测量表面的外缘与样品台底座的外缘形状和尺寸相同。本实用新型专利技术的优越性：1、解决了现有的标准样品台无法测量小块不规则固体样品的问题；2生产成本低；3、在样品槽中采用橡皮泥固定样品，可根据需要调整样品的高度，也保证了不规则样品的固定；4、准确定位小块不规则固体样品；5、制作简单、易于操作。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及X射线多晶衍射测量
，特别是一种适合X射线衍射仪测量小块不规则固体的样品台。(ニ)
技术介绍
X射线多晶衍射仪是ー种用途广泛的测量仪器，是表征多晶聚集体结构的重要エ 具，现在已被广泛应用于冶金、化工、环保、能源、生物医药エ业和半导体等行业，已成为许多研究机构及エ厂实验室的必备仪器。在X射线多晶衍射测量中常采用标准样品台(见图I)，其上方通过仪器样品架顶端三个小柱子固定，下方利用一个可伸缩的弹簧托盘固定(见图2)。其中阴影部分为2_深的凹槽，主要用于放置样品，该标准样品台仅适合放置粉末样品或较薄的块状样品。由于样品分析平面和样品台平面必须保持在同一平面内，对于平面尺寸大于30mmX40mm不规则固体样品可直接装在样品架上測量，而针对測量平面小于30mmX40mm的小块不规则固体样品，由于样品分析平面不能和測量平面保持在同一水平面，測量出的衍射峰将会整体向左或向右偏离，衍射峰強度剧烈下降，当两平面高度相差较大时就无法收集到相关衍射信号，因此设计ー个合理測量小块不规则固体样品台成为从事X射线衍射測量分析人员的迫切需要。(三)
技术实现思路
本技术的目的是提供一种适合X射线衍射仪测量小块不规则固体的样品台，它能够在X射线衍射仪上测量平面小于30mmX40mm的小块不规则固体样品。本技术的技术方案一种适合X射线衍射仪测量小块不规则固体的样品台，它适用于符合布拉格-勃朗泰诺(B-B)衍射几何并且样品台保持水平位置不动、X光源和探測器做Θ-Θ扫描的通用衍射仪，固定在通用衍射仪中的測量台上的三个小柱子和弹簧托盘之间，其特征在于它由样品台主体和凹槽构成，所说的凹槽位于样品台主体的中心位置，凹槽的深度为2-25mm，凹槽的外缘有定位标示，所说的样品台主体由样品台底座和无明显X射线衍射信号和強烈背景的測量表面构成，所说的测量表面依粘胶层与样品台底座的上表面固定连接，測量表面的外缘与样品台底座的外缘形状和尺寸相同。上述所说的符合布拉格-勃朗泰诺(B-B)衍射几何并且样品台保持水平位置不动、X光源和探测器做Θ-Θ扫描的通用衍射仪为Bruker-AXS D8 Advance通用衍射仪。上述所说的样品台主体的外形为长方体,长为50mm,宽为50mm,高为30mm。上述所说的凹槽的形状为圆柱形，它的截面的直径为20_25mm。本技术的工作原理在样品台的圆柱槽中放置适量的橡皮泥，依据样品台定位标示将小块不规则固体样品置于圆柱槽的中心位置固定，同时使样品測量表面略高于样品台表面，取一块载玻片将样品压平至和样品台表面齐平，最后利用測量台上的三个小柱子和弹簧托盘将样品台固定即可。本技术的优越性I、加深了凹槽的深度，解决了现有的标准样品台无法测量小块不规则固体样品的问题；2、只在测量表面应用无明显X射线衍射信号和強烈背景的材料，可以降低生产成本；3、由于橡皮泥的可伸縮性和粘固性，在样品槽中采用橡皮泥固定样品，可根据需要调整样品的高度，也保证了不规则样品的固定；4、样品台凹槽外缘的定位标示保证了小块不规则固体样品在安装时能够准确定位于X射线照射范围中心；4、该样品台制作简单、易于操作，为从事X射线衍射測量工作提供了一个新颖便捷的工具。附图说明图I为标准样品台的结构示意图。图2为通用衍射仪中的测量台的结构示意图。图3为本技术所涉ー种适合X射线衍射仪测量小块不规则固体的样品台的结构示意图。其中I为小柱子，2为弹簧托盘，3为样品台主体，3-1为样品台底座，3-2为测量表面，4为凹槽，5为定位标示。具体实施方式实施例一种适合X射线衍射仪测量小块不规则固体的样品台(见图3)，它适用于符合布拉格-勃朗泰诺(B-B)衍射几何并且样品台保持水平位置不动、X光源和探測器做Θ-Θ扫描的通用衍射仪，固定在通用衍射仪中的測量台上的三个小柱子和弹簧托盘之间(见图2)，其特征在于它由样品台主体3和凹槽4构成，所说的凹槽4位于样品台主体3的中心位置，凹槽4的深度为25mm，凹槽4的外缘有定位标示5，所说的样品台主体3由样品台底座3-1和无明显X射线衍射信号和強烈背景的測量表面3-2构成，所说的测量表面3-2依粘胶层与样品台底座3-1的上表面固定连接，測量表面3-2的外缘与样品台底座3-1的外缘形状和尺寸相同。上述所说的符合布拉格-勃朗泰诺(B-B)衍射几何并且样品台保持水平位置不动、X光源和探测器做Θ-Θ扫描的通用衍射仪为Bruker-AXS D8 Advance通用衍射仪。上述所说的样品台主体3的外形为长方体,长为50mm,宽为50mm,高为30mm。上述所说的凹槽4的形状为圆柱形，它的截面的直径为25mm。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种适合X射线衍射仪测量小块不规则固体的样品台，它适用于符合布拉格-勃朗泰诺(B-B)衍射几何并且样品台保持水平位置不动、X光源和探測器做Θ-Θ扫描的通用衍射仪，固定在通用衍射仪中的測量台上的三个小柱子和弹簧托盘之间，其特征在于它由样品台主体和凹槽构成,所说的凹槽位于样品台主体的中心位置，凹槽的深度为2-25mm，凹槽的外缘有定位标示，所说的样品台主体由样品台底座和无明显X射线衍射信号和強烈背景的测量表面构成，所说的测量表面依粘胶层与样品台底座的上表面固定连接，測量表面的外缘与样品台底座的外缘形状和尺寸相同。2.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：李勇，李连起，
申请(专利权)人：国家纳米技术与工程研究院，
类型：实用新型
国别省市：