公开了一种记录介质、一种数据记录/再现方法和一种数据记录/再现装置。一种记录介质，包括：在其中记录用户数据的数据区；位于该数据区的内部圆周处的内部区；以及位于该数据区的外部圆周处的外部区，其中该数据区包括至少一个备用区域，并且该内部区和该外部区中的至少一个包括至少一个磁盘管理区域，该磁盘管理区域包括：记录介质的缺陷管理信息；包括该缺陷管理信息的信息的通用管理信息；以及能够被用作有缺陷的替换簇的该备用区域的地址信息，该通用管理信息包括其中记录了缺陷管理信息的磁盘管理区域的每簇的地址信息。根据本发明专利技术的记录介质、数据记录/再现方法和数据记录/再现装置，能够更有效地管理在该记录介质中出现的缺陷。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种数据记录/再现方法和一种数据记录/再现装置，并且更特别地， 涉及一种管理在数据记录/再现期间在记录介质中出现的缺陷的方法和装置以及一种能够使用该方法和装置来记录/再现数据的记录介质。
技术介绍
近来，随着技术的快速发展，已经出现了具有高容量的记录介质。这样的记录介质的示例包括紧致磁盘(CD)和数字多功能光盘(DVD)。而且，除了这样的记录介质之外，存在具有更显著提高的容量的下一代记录介质。下一代记录介质的示例包括蓝光磁盘和近场记录介质。而且，为了提高记录介质的容量，已经出现了具有多个记录层的多层记录介质。在使用这样的具有高容量的记录介质或多层记录介质的记录/再现数据当中，当记录介质中出现缺陷时，需要对其的管理。因此，将需要用于更有效地管理在记录介质中出现的缺陷的方法。
技术实现思路
技术问题因此，本专利技术针对一种记录介质、一种数据记录/再现方法以及一种数据记录/再现装置，其大体上消除了由于相关技术的局限性和缺点而导致的一个或多个问题。本专利技术的目的在于提供一种更有效地管理在数据记录/再现期间在记录介质中出现的缺陷的方法和装置。在下面的本说明书中将在一定程度上对本专利技术的另外的优点、目的和特征进行了阐述，并且通过对以下的研究对本领域的普通技术人员部分将变得显而易见或可以从本专利技术的实践中获悉。通过在书面描述及其权利要求以及附图中特别地指出的结构可以实现并且获得本专利技术的目的和其它优点。问题的解决方案为了实现这些目的和其它优点并且根据本专利技术的目的，如在本文中所具体化并且广泛描述的，根据本专利技术的记录介质包括其中记录了用户数据的数据区；位于该数据区的内部圆周处的内部区；以及位于该数据区的外部圆周处的外部区，其中该数据区包括至少一个备用区，并且该内部区和该外部区中的至少一个包括至少一个磁盘管理区域，该磁盘管理区域包括该记录介质的缺陷管理信息；包括该缺陷管理信息的信息的通用管理信息；以及能够被用作有缺陷的替换簇的该备用区域的地址信息，该通用管理信息包括其中记录了该缺陷管理信息的该磁盘管理区域的每簇的地址信息。缺陷管理信息包括其中记录了确定为有缺陷的簇的备用区域的簇地址信息的缺陷列表条目。能够被用作有缺陷的替换簇的备用区域的地址信息被记录在缺陷管理信息的头部。能够被用作有缺陷的替换簇的备用区域的地址信息被记录在通用管理信息中。能够被用作有缺陷的替换簇的备用区域的地址信息包括每备用区域的簇地址信肩、ο能够被用作有缺陷的替换簇的备用区域的地址信息包括一个备用区域的簇地址 fn息ο地址信息是物理扇区编号(PSN)。记录介质是可重记录的记录介质。记录介质包括三个或更多个记录层。在本专利技术的另一方面中，一种数据记录方法，包括将能够被用作记录介质的有缺陷的替换簇的记录介质的备用区域的地址信息记录在该记录介质的磁盘管理区域中；以及将通用管理信息记录在该记录介质的磁盘管理区域中，该通用管理信息包括其中记录了该记录介质的缺陷管理信息的该磁盘管理区域的每簇的地址信息。在本专利技术的再一方面中，一种数据再现方法，包括读取记录介质的备用区域的地址信息，其被记录在在该记录介质中包括的至少一个磁盘管理区域中并且能够被用作该记录介质的有缺陷的替换簇；读取包括其中记录了该记录介质的缺陷管理信息的该磁盘管理区域的每簇的地址信息的通用管理信息；以及根据缺陷管理信息来再现该记录介质的数据。在本专利技术的又一方面中，一种数据记录装置，包括将数据记录在记录介质中的拾取器(pickup)；以及控制器，其控制该拾取器将能够被用作该记录介质的有缺陷的替换簇的该记录介质的备用区域的地址信息、和包括其中记录了该记录介质的缺陷管理信息的该磁盘管理区域的每簇的地址信息的通用管理信息记录在该记录介质的磁盘管理区域中。在本专利技术的又一方面中，一种数据再现装置，包括读取记录介质的数据的拾取器；以及控制器，该控制器控制拾取器记录该记录介质的备用区域的地址信息，该地址信息被记录在在该记录介质中包括的至少一个磁盘管理区域中并且能够被用作该记录介质的有缺陷的替换簇；读取包括其中记录了该记录介质的缺陷管理信息的该磁盘管理区域的每簇的地址信息的通用管理信息；并且根据该缺陷管理信息来再现该记录介质的数据。将要理解的是，能够通过本专利技术获得的优点不局限于前述优点，并且根据以下描述对于与本专利技术所属领域的普通技术人员而言没有被提及的其它优点将是显而易见的。专利技术的有益效果根据本专利技术的数据记录/再现方法和数据记录/再现装置，能够减少记录介质的缺陷管理信息的大小。而且，由于正常管理信息和缺陷管理信息能够一起位于在记录层中， 所以能够减少用于读取缺陷管理信息的时间。附图说明所包括的提供对本专利技术的进一步理解且并入并且构成本申请的一部分的附示了本专利技术的实施例(多个)，并且与本描述一起用来解释本专利技术的原理。在附图中图1是图示根据本专利技术的实施例的记录介质的结构的示意图；图2是图示根据本专利技术的实施例的缺陷列表(DFL)的结构的示意图；图3是图示根据本专利技术的实施例的缺陷列表(DFL)条目的结构的示意图4是图示根据本专利技术的实施例的SPR-BA型缺陷列表(DFL)条目的示意图；图5和图6是图示根据本专利技术的实施例的、当扩大了备用区域时的缺陷列表(DFL) 条目的示意图；图7和图8是图示根据本专利技术的实施例的、当缩小了备用区域时的缺陷列表(DFL) 条目的示意图；图9至图11是依照本专利技术的实施例的、图示被记录在磁盘管理区域(DMA)中并且能够被用作有缺陷的替换簇的备用区域的地址信息的示意图；图12是图示根据本专利技术的实施例的磁盘定义结构(DDS)的示意图；图13和图14是图示根据本专利技术的实施例的、其中记录了缺陷列表(DFL)的磁盘管理区域(DMA)的示意图；以及图15是图示根据本专利技术的实施例的数据记录/再现装置的框图； 具体实施例方式现在将对本专利技术的优选实施例进行更详细的参考，在附图中对其示例进行了图示。在任何可能的情况下，相同的附图标记将遍及附图使用以指代相同的或类似的部分。在本专利技术中使用的术语选自考虑了本专利技术中的它们的功能的通常已知的和使用的术语。然而，在特殊情况下，可以由申请人自行处理选择在本专利技术的描述中提到的术语， 在本文中的描述的相关部分中对其详细意义进行了描述。因此，本文中所使用的术语不应当简单地通过所使用的实际术语来理解而应通过其中隐含的意义和本文中所公开的描述来理解。在本专利技术中，记录介质意指其中记录了数据或能够记录数据的所有介质。例如，记录介质是所有介质的综合性术语，而不管记录类型如何，诸如磁盘和磁带。在下文中，为了方便描述，磁盘、尤其是蓝光磁盘(BD)将被描述为记录介质。然而，将显而易见的是本专利技术的技术精神适用于其它记录介质。而且，在本专利技术中，将对在蓝光磁盘(BD)当中的可重记录类型的(BD-RE)记录介质进行描述。然而，将显而易见的是本专利技术的技术精神适用于其它类型记录介质。此外，本专利技术的记录介质被配置在特定单元中。例如，记录介质能够包括称作簇的单元。簇能够包括更小单元的数据帧。例如，一个簇可以包括32个数据帧。然而，每个单元的名称和单元的数量可以根据记录介质的类型而变化。图1是图示根据本专利技术的实施例的记录介质10的结构的示意图。图1图示了四个层L0、L1、L2和L3的四层记录介质10。然而，本专利技术不局限于本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：朴容徹，权赫镇，金城埙，
申请(专利权)人：LG电子株式会社，
类型：发明
国别省市：
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