本实用新型专利技术公开了一种测径仪光学元件调整检测装置，该检测装置设于测径仪的摄像机镜头一端，包括连接管和成像镜，连接管一端与摄像机镜头连接固定，成像镜设于连接管的另一端，并与连接管连接固定。该检测装置利用光线经过光学元件最终在成像镜上的成像来反映光学元件的调整情况，从而为光学元件的调整提供精确参照，从而无需拆卸光学系统盘，便能够实现快速调整，不但降低了调整难度和所需时间，而且还保证了连续生产的效率。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及测径仪光学元件调整的辅助设备，更具体地说，涉及一种测径仪光学元件调整检测装置。
技术介绍
请参阅图1所示，图1为钢铁企业常用的用于线材产品尺寸测量的测径仪100，其 工作原理如下通过光源2发射的光线通过一面凸透镜4以及一对平行45°反光镜3后， 再通过透镜组5进行光路转换，进入摄像机镜头6，而当轧件线材通过测径仪100时，会导致 光路受阻形成阴影，阴影的大小与线材的直径呈正比，因此在摄像机镜头6上捕捉到的阴 影即为线材的直径，同时通过光学系统盘1的转动，可完成对线材外形轮廓的测量。但在实 际使用过程中，测径仪的光学元件(如反光镜3、光源2、凸透镜4以及摄像机镜头6等)在 安装或更换时会造成光学中心偏移，必须进行调整以保证光学中心的重合。由于光学元件 的调整的好坏决定了光线最终进入摄像机镜头6的强弱，因此调整是否到位将直接影响到 测径仪100的测量效果。目前，该测径仪100光学元件的调整方式一般均需要先将测径仪100的光学系统 盘1拆卸，再放置在与测径仪100相配套的精密调整平台上，进行离线调整，最后再进行安 装。由于上述拆卸、安装工作十分繁琐，导致整个调整过程需要数个小时，费时费力，影响了 工作效率，从而无法满足轧线持续生产的需要。
技术实现思路
针对现有技术中存在的上述缺点，本技术的目的是提供一种测径仪光学元件 调整检测装置，该摄像机能够直观反映光学元件的调整情况，从而有利于提高光学元件的 调整速度。为实现上述目的，本技术采用如下技术方案该测径仪光学元件调整检测装置设于测径仪的摄像机镜头一端，包括连接管和成 像镜，连接管一端与摄像机镜头连接固定，成像镜设于连接管的另一端，并与连接管连接固定。所述的成像镜为玻璃材质，一端面刻有坐标尺，另一端面设有反光涂层。所述的连接管一端设有外螺纹，并与摄像机镜头螺纹配合固定，另一端设有内螺 纹。该检测装置还包括一带外螺纹的紧固环，所述的成像镜设于连接管设有内螺纹的 一端内，紧固环设于成像镜的外侧，并通过螺纹配合与连接管固定。在上述技术方案中，本技术的测径仪光学元件调整检测装置设于测径仪的摄 像机镜头一端，包括连接管和成像镜，连接管一端与摄像机镜头连接固定，成像镜设于连接 管的另一端，并与连接管连接固定。该检测装置利用光线经过光学元件最终在成像镜上的 成像来反映光学元件的调整情况，从而为光学元件的调整提供精确参照，从而无需拆卸光学系统盘，便能够实现快速调整，不但降低了调整难度和所需时间，而且还保证了连续生产 的效率。附图说明图1是现有技术的测径仪的结构示意图；图2是图1中A部放大示意图；图3是本技术的测径仪光学元件调整检测装置的结构以及安装示意图；图4是本技术的检测装置的成像镜的结构示意图； 图5是光线在反光镜安装角度发生偏差时形成的反射原理图；图6是当反光镜安装角度发生偏差时，光线在成像镜上形成的图像示意图；图7是当光学中心发生偏差时，光线在成像镜上形成的图像示意图；图8是光学元件调整到位时，光线在成像镜上形成的图像示意图。具体实施方式以下结合附图和实施例进一步说明本技术的技术方案。请参阅图3所示，该测径仪光学元件调整检测装置10设于测径仪的摄像机镜头6 一端，包括连接管11和成像镜12，连接管11 一端与摄像机镜头6连接固定，成像镜12设于 连接管11的另一端，并与连接管11连接固定。请结合图4所示，所述的成像镜12为玻璃 材质，一端面刻有坐标尺，另一端面设有反光涂层，用于成像。所述的连接管11 一端外壁呈 台阶状，并设有外螺纹，用以与摄像机镜头6进行螺纹配合固定；连接管11另一端内壁呈台 阶状，并设有内螺纹。该检测装置10还包括一带外螺纹的紧固环13，所述的成像镜12设于 连接管11设有内螺纹的一端内，紧固环13设于成像镜12的外侧，并通过螺纹配合与连接 管11固定，从而将成像镜12紧固在连接管11内。该检测装置10的工作原理如下请结合图1所示，当测径仪的光学元件需要调整时，无需拆卸光学系统盘1，只需 将摄像机镜头6上原有螺纹安装的UV保护镜拆下，将该检测装置10通过连接管11安装在 摄像机镜头6上即可。然后打开测径仪100上的光源2，光线依次通过各光学元件后，最终 在成像镜12上进行投影成像，通过在成像镜12上的成像情况，可判断光学元件安装情况及 光学中心状态，并根据成像进行手动调整相应的光学元件，最终实现快速调整，保证光学中 心的重合。下面对上述的具体成像情况进行举例说明，请参阅图5所示，若光学元件中的二 次反光镜3的安装角度过小或者过大，会造成部分光线超出二次反光镜3范围，从而在成像 镜12上所呈现的图像会存在a、b两个亮度不同区域(见图6)，此时，操作人员可根据成像， 来判断该反光镜3是存在上偏差还是下偏差(图6中所示的即为上偏差)，从而进行手动 调整反光镜3，直至将两反光镜3调整至平行，使得在光线在成像镜12上所呈的图像如图8 所示，即处于坐标尺中心位置，并且亮度较亮且均勻；由于凸透镜4、透镜组与成像镜12处 于同一光学中心，若光线在成像镜12上所呈图像偏离坐标尺中心，说明光学中心不重合， 导致图像发生左偏或右偏，此时，操作人员可根据成像，通过对光源2或摄像机镜头6或凸 透镜4作相应调整(即垂直光学系统盘1的方向上进行调整)，直至成像镜12上所呈的图 像也如图8所示，完成调整。采用本技术的检测装置10，无需拆卸光学系统盘1，也无需采用与测径仪100 相配套的精密调整平台，便能够实现光学元件的快速调整，整个调整过程不超过20分钟， 不但降低了调整难度和所需时间，而且还保证了连续生产的效率。本
中的普通技术人员应当认识到，以上的实施例仅是用来说明本实用新 型，而并非用作为对本技术的限定，只要在本技术的实质精神范围内，对以上所述 实施例的变化、变型都将落在本技术的权利要求书范围内。权利要求一种测径仪光学元件调整检测装置，该检测装置设于测径仪的摄像机镜头一端，其特征在于该检测装置包括连接管和成像镜，连接管一端与摄像机镜头连接固定，成像镜设于连接管的另一端，并与连接管连接固定。2.如权利要求1所述的测径仪光学元件调整检测装置，其特征在于 所述的成像镜为玻璃材质，一端面刻有坐标尺，另一端面设有反光涂层。3.如权利要求1所述的测径仪光学元件调整检测装置，其特征在于所述的连接管一端设有外螺纹，并与摄像机镜头螺纹配合固定，另一端设有内螺纹。4.如权利要求3所述的测径仪光学元件调整检测装置，其特征在于该检测装置还包括一带外螺纹的紧固环，所述的成像镜设于连接管设有内螺纹的一端 内，紧固环设于成像镜的外侧，并通过螺纹配合与连接管固定。专利摘要本技术公开了一种测径仪光学元件调整检测装置，该检测装置设于测径仪的摄像机镜头一端，包括连接管和成像镜，连接管一端与摄像机镜头连接固定，成像镜设于连接管的另一端，并与连接管连接固定。该检测装置利用光线经过光学元件最终在成像镜上的成像来反映光学元件的调整情况，从而为光学元件的调整提供精确参照，从而无需拆卸光学系统盘，便能够实现快速调整，不但降低了调整难度和所需时间，而且还保证了连续生产的效率。文档编号G01B11/08GK201611252SQ2010200330本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种测径仪光学元件调整检测装置，该检测装置设于测径仪的摄像机镜头一端，其特征在于：该检测装置包括连接管和成像镜，连接管一端与摄像机镜头连接固定，成像镜设于连接管的另一端，并与连接管连接固定。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：陈虎秋，
申请(专利权)人：宝山钢铁股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：31
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