时域差错掩盖中受损宏块的运动矢量的求取方法技术

本发明专利技术涉及一种时域差错掩盖中受损宏块的运动矢量的求取方法，该方法通过重新 计算出错宏块上方或下方接邻宏块的运动矢量来替代当前受损宏块的运动矢量来进行 时域的差错掩盖，而运动矢量的计算采用了模板卷积的方法，选定当前宏块的区域作为 匹配的模板，对前一帧对于宏块进行滑动卷积，求取卷积的最大值，以此在前一帧中选 定模板的最佳匹配区域。与现有技术相比，本发明专利技术的优点在于：运动矢量的计算精确， 对运动较为激烈的图像掩盖效果比较理想。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种时域差错掩盖中受损宏块的运动矢量的求取方法，其特征在于：包括以下步骤：　步骤一：定位当前接收帧内出错宏块的位置，将出错宏块记为Ｔ，设帧内宏块的宽度Ｎ；　步骤二：找出出错宏块Ｔ上方或下方与出错宏块Ｔ最接近的正确宏块，记为第一参考宏块Ａ，找出第一参考宏块Ａ在前一帧中对应位置的宏块，记为第二参考宏块Ａ’，将第二参考宏块Ａ’里的数据记为Ｘ↓［１］，将第１列的数据记为Ｘ↓［１］（１），将第２列的数据记为Ｘ↓［２］（２）……，第Ｎ列的数据记为Ｘ↓［２］（Ｎ）；　步骤三：提取第一参考宏块Ａ中从第ａ列开始的ｂ列数据，将这些数据组成的区域记为Ｘ↓［２］，将第ａ列的数据记为Ｘ↓［２］（１），将第ａ＋１列的数据记为Ｘ↓［２］（２）……，第ａ＋ｂ列的数据记为Ｘ↓［２］（ｂ），其中０＜ａ＜Ｎ，０＜ｂ＜Ｎ；　步骤四：在第二参考宏块Ａ’中选取从第一列开始的ｂ列数据，并将这ｂ列数据与步骤三中在第一参考宏块Ａ中提取的ｂ列数据分别进行卷积，然后将各卷积求和，记为第一卷积和Ｙ（０），用公式表达为：　Ｙ（０）＝＊Ｘ↓［２］（ａ）＊Ｘ↓［１］（０＋ａ）；步骤五：在第二参考宏块Ａ’中选取的ｂ列图像向右滑动一列，即在第二参考宏块Ａ’中选取从第二列开始的ｂ列数据，采用与步骤四相同的方法，分别计算出第二参考宏块Ａ’中从第二列开始到第ｂ＋１列的数据与步骤三中在第一参考宏块Ａ中提取的ｂ列数据分别进行卷积，然后将各卷积求和，记为第二卷积和Ｙ（１），用公式表达为：　Ｙ（１）＝＊Ｘ↓［２］（ａ）Ｘ↓［１］（１＋ａ）；　步骤六：用与步骤五相同的方法，分别计算第三卷积和Ｙ（２）＝＊Ｘ↓［２］（ａ）Ｘ↓［１］（２＋ａ）、第四卷积和Ｙ（３）＝＊Ｘ↓［２］（ａ）Ｘ↓［１］（３＋ａ）……，第Ｎ－ｂ＋１卷积和Ｙ（Ｎ－ｂ）＝＊↓［２］（ａ）Ｘ↓［１］（Ｎ－ｂ＋ａ）；　步骤六：取Ｙ（０）、Ｙ（１）……Ｙ（１６－Ｎ）的最大值Ｙ（ｍ）；　步骤七：第一参考宏块Ａ在前一帧的最佳匹配位置第二参考宏块Ａ’从第ｍ列开始到第ｍ＋ｂ列的数据所在的位置，ｍ值即为第一参考宏块Ａ的运动矢量；　步骤八：出错宏块Ｔ取第一参考宏块Ａ的运动矢量。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：杨鸣，卓薇，过森君，顾苗华，张科军，李天一，
申请(专利权)人：杨鸣，卓薇，过森君，顾苗华，张科军，李天一，
类型：发明
国别省市：97