一种电磁性能测试用基板制造技术

本实用新型专利技术属于试验技术领域，涉及电磁特性测试技术，特别涉及电磁性能试验样板制作技术。采用镀/敷金属良导体膜的平板玻璃或塑料平板代替金属材料作为涂层电磁反射率试验基板，在此基板上按涂料施工要求制作涂层，得到反射率试验样板。该电磁性能测试用基板，基板平行度高，无需进行精密机械加工，工艺成本低，使用方法与金属基板相同，测试精度与使用金属基板相当。对于单面覆金属膜的基板测试时扣除空白即可。本实用新型专利技术涉及的电磁性能测试用基板使用于不同波段的电磁反射特性测试。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于试验
，涉及电磁特性测试技术，特别涉及电磁性能试验样板制作技术。二
技术介绍
对于某些电磁性能的测试，需要制备平坦的良导体金属基板，在基板上制作功能材料层，然后进行性能测试。为了保证测试的准确性，测试所用的金属基板必须具有较高的平行度等级，基板如果有弯曲不平现象，就会带来较大的测试误差。这就需要对基板进行精密机械加工，带来制作费用高、周期长的问题。例如对于X波段材料反射率的测试，需要 180mmX 180mm、厚度G 10)mm、平行度优于0. 02mm的金属基板。对于这样的要求，需要较高的加工精度，花费较高的加工费用。三、
技术实现思路
本技术的目的在于解决电磁性能测试用样板加工问题，提供一种加工周期短、一致性好、费用低廉的基板。本技术的目的是这样实现的采用镀/敷金属良导体膜的平板玻璃或塑料平板代替金属材料作为涂层电磁反射率试验的基板，在此基板上按涂料施工要求制作涂层， 得到反射率试验样板。本技术涉及的电磁性能测试用基板，由非金属材料平板1和金属膜2密实复合而成，结构如附图1所示。本技术涉及的电磁性能测试用基板，由非金属材料平板1和双面覆金属膜2 密实复合而成，结构如附图2所示。本技术涉及的电磁性能测试用基板，非金属材料平板1的厚度2mm 10mm，平行度不大于0. 03mm。本技术涉及的电磁性能测试用基板，所述非金属材料平板1为平板玻璃、玻璃钢或塑料板中的一种或其复合结构。本技术涉及的电磁性能测试用基板，所述金属膜2为金属敷膜。本技术涉及的电磁性能测试用基板，所述金属膜2为金属镀膜。本技术涉及的电磁性能测试用基板，基板平行度高，无需进行精密机械加工， 工艺成本低。本专利技术涉及的电磁性能测试用基板使用方法与金属基板相同，测试精度与使用金属基板相当。对于单面覆金属膜的基板测试时扣除空白即可。四附图说明附图1双面金属膜样板示意图附图2单面金属膜样板示意图3附图3实施例一涉及测试基板测试曲线示意图附图4对比例金属基板测试曲线示意图附图5实施例二涉及测试基板测试曲线示意图图中1-平板；2-金属膜；3-待测材料五具体实施方式以下结合附图对本技术涉及的电磁性能试验基板作进一步详细说明，但不作为对本技术涉及技术方案的限制。任何一种可以实现本技术目的的技术方案均构成本技术的一部分。实施例一采用5mm厚的浮法平板玻璃作为平板，在表面双面粘贴厚度为0. 02mm的铜膜，贴实压平，得到本技术涉及的电磁性能测试用基板，平行度公差0. 01mm。按待测样品施工要求制作测试用涂层，按测试方法要求进行测试，测试结果如附图3所示。对比例一采用5mm厚铜板做基板，采用与实施例一相同的待测样品，制样与测试同实施例一，测试结果如附图4所示。比较附图3、附图4曲线，两者结果相当，而实施例一制样简单，费用低廉；对比例所用的材料和加工费用均较贵，加工周期较长。实施例二把厚度为8mm的塑料平板(聚碳酸酯材料)切割成ISOmmX 180mm的方形，其平行度公差为0.02mm。单面粘贴厚度为0. Olmm的铝膜。测试塑料面的反射率响应。在塑料平板上面按试验要求制作功能材料层，测试其X波段反射率，得到塑料平板和功能层共同的反射率响应。把塑料面的响应扣除后，可得到材料的实际反射性能。塑料面的反射率响应、 功能材料的反射率响应和塑料板-功能材料的共同响应曲线见图五，图中曲线4为塑料面的反射率响应，曲线5为功能材料的反射率响应，曲线6为塑料板及功能材料的共同响应曲线。实施例三把厚度为3mm的平板玻璃切割成40mmX 40mm的方形，底面镀3 μ m铝质导电膜，其平行度公差0. 01mm。在玻璃板的上面要求制作功能涂敷层，进行电磁性能测试。实施例四把厚度为6mm的复合材料平板(玻纤-树脂复合材料)切割成150mmX 150mm的方形，底面和表面镀镍质导电膜，其平行度公差0. 02mm。在复合材料平板上面按试验要求制作材料层，用作微波反射率性能测试。权利要求1.一种电磁性能测试用基板，由非金属材料平板(1)和金属膜( 密实复合组成。2.权利要求1涉及的电磁性能测试用基板，由非金属材料平板(1)和双面覆金属膜 (2)密实复合组成。3.权利要求1或2涉及的电磁性能测试用基板，非金属材料平板(1)的厚度2mm IOmm,平行度不大于0. 03mm。4.权利要求1或2涉及的电磁性能测试用基板，所述非金属材料平板(1)为平板玻璃、 玻璃钢或塑料板中的一种或其复合结构。5.权利要求1或2涉及的电磁性能测试用基板，所述金属膜( 为金属敷膜。6.权利要求1或2涉及的电磁性能测试用基板，所述金属膜( 为金属镀膜。专利摘要本技术属于试验
，涉及电磁特性测试技术，特别涉及电磁性能试验样板制作技术。采用镀/敷金属良导体膜的平板玻璃或塑料平板代替金属材料作为涂层电磁反射率试验基板，在此基板上按涂料施工要求制作涂层，得到反射率试验样板。该电磁性能测试用基板，基板平行度高，无需进行精密机械加工，工艺成本低，使用方法与金属基板相同，测试精度与使用金属基板相当。对于单面覆金属膜的基板测试时扣除空白即可。本技术涉及的电磁性能测试用基板使用于不同波段的电磁反射特性测试。文档编号G01R31/00GK202033440SQ20112011589公开日2011年11月9日 申请日期2011年4月20日 优先权日2011年4月20日专利技术者姜维维, 张军英, 张宝琴, 张雨, 潘士兵, 潘忠泉, 王清海, 荀其宁, 郭宇 申请人:中国兵器工业集团第五三研究所本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种电磁性能测试用基板，由非金属材料平板（１）和金属膜（２）密实复合组成。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张雨，姜维维，张军英，荀其宁，潘士兵，王清海，郭宇，张宝琴，潘忠泉，
申请(专利权)人：中国兵器工业集团第五三研究所，
类型：实用新型
国别省市：88