一种光谱测量系统技术方案

技术编号:6726735 阅读:237 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术涉及一种光谱测量系统,具体公开一种能测量光学系统光谱各向异性的光谱测量系统,它包括光谱仪,它还包括平行光管,平行光管内设有钨丝灯,测试样品固定在可升降旋转载物台上,光谱仪探头固定在可升降旋转支架上。本实用新型专利技术的系统不仅能测量截面直径小于25cm物体的反射率,而且可以测量任意入射-反射方向条件下物体的反射光谱。(*该技术在2020年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种光谱测量系统,具体涉及一种能测量光学系统光谱各向异性 的光谱测量系统。
技术介绍
目前,公认的光谱仪是在自然光或人工漫射光源的条件下,测量物体的光谱。由于 无法控制自然光源的照度变化和人工光源照射的角度,而不能测量物体在特定入射角和接 收方向反射特性。但是,很多物体的反射特性是随入射光线方向和接受角度而变化的,单凭 光谱仪无法测量物体反射特性的方向性变化。
技术实现思路
为了克服现有的光谱仪不能测量特定入射角和接收方向时物体反射光谱的不足, 本技术提供一种光谱测量系统,该系统不仅能测量截面直径小于25cm物体的反射率, 而且可以测量任意入射-反射方向条件下物体的反射光谱。实现本技术目的的技术方案是一种光谱测量系统,它包括光谱仪,它还包括 平行光管,平行光管内设有钨丝灯,测试样品固定在可升降旋转载物台上,光谱仪固定在可 升降旋转支架上。所述的平行光管和可升降旋转载物台均固定在带刻度工作台上,旋转载物台上设 有能够在其上移动的可升降旋转支架。本技术的有益效果是本测量系统除能够测量样品反射光谱外,还可测量在 不同方向光线照射下,样品在任意方向的反射光谱,在暗室中搭配平行光管和通用的光谱 仪即可完成测量,结构简单。附图说明图1是本实用性型所提供的一种光谱测量系统的结构示意图。图2是本实用性型所提供的一种光谱测量系统的光谱测量原理图图中1-钨丝灯,2-平行光管,3-可升降旋转载物台,4-测试样品,5-可升降旋转 支架,6-光谱仪,7-带刻度工作台。具体实施方式以下结合附图和实施例对本技术作进一步详细说明。如图1所示,平行光管2、用于固定测试样品4的旋转载物台3、可升降旋转支架5、 带刻度工作台7和光谱仪6组成一个测量系统。钨灯1放置在平行光管2内,平行光管2 和钨灯1作为照射光源,平行光管2固定在带刻度工作台7上,通过光阑遮挡,使钨灯1从 平行光管2内发出的平行光只照射测试样品4表面;被测量的测试样品4置于平行入射光 路正前方的高度可调节旋转载物台3上;光谱仪6的接收探头固定在枪形可升降旋转支架5上,枪形可升降旋转支架5能够在带刻度工作台7的上表面上移动,光谱仪6的接收探头 置于测试样品4的反射光路前方。测试样品4可以为岩石。本技术所提供的一种光谱测量系统的光谱测量过程如图1和图2所示,将该 光谱测量系统整体置于照度小于IO-5LX的暗室内。在进行光谱测量时,先调整旋转载物台 3的位置和高度以保证测试样品4与平行光路共轴,建立以旋转载物台3中心0为原点,平 行光路为极坐标轴P的坐标系。通过旋转载物台3改变测试样品4测量面的方向实现入 射光角度的调节;通过可升降旋转支架5改变光谱仪6的接收探头位置,利用带刻度测试工 作台7刻度计算旋转载物台3与光谱仪6的探头之间的距离和方位,即确定光谱仪6的探 头光轴方向与极坐标轴P之夹角的Ψ以及光谱仪6探头与坐标原点0之间的距离d。计 算测试样品4的反射幅亮度LTSP(0, ψ, d)与照射光源幅亮度之比,就可以获得测试样品4 在任意方向入射光照射下,在不同方向的反射光谱Rsp( θ,¥,d)0测试样品4的反射谱Rsp( θ,ψ,d)公式如下式所示0014]本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光谱测量系统,它包括光谱仪(6),其特征在于:它还包括平行光管(2),平行光管(2)内设有钨丝灯(1),测试样品(4)固定在可升降旋转载物台(3)上,光谱仪(6)固定在可升降旋转支架(5)上。

【技术特征摘要】
1.一种光谱测量系统,它包括光谱仪(6),其特征在于它还包括平行光管0),平行光 管O)内设有钨丝灯(1),测试样品(4)固定在可升降旋转载物台( 上,光谱仪(6)固定 在可升降旋转支架( ...

【专利技术属性】
技术研发人员:潘蔚唐义李瀚波
申请(专利权)人:核工业北京地质研究院
类型:实用新型
国别省市:11

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