【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于分析仪器
，特别涉及一种针对水分仪的被测材料加热方法。
技术介绍
在水分仪对物质材料的检测过程中，对被测物进行加热时必须的环节。对于某些 物品，如阿司匹林，其内的水分需要一定的时间来慢慢加热，以达到准确测量的目的，目前 的水分仪的加热方式在这方面还不能做到这一点。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对水分仪温度控制的难点，即难以到达精确的控制，以及在到 达较高的目标温度时，容易发生较多的过冲现象，很难控制其稳定的问题，提供一种水分仪 被测材料加热方法，已解决上述两种问题，方便用户对不同的物质材料进行水分测定。本专利技术的技术方案是，，包括步骤获得加热初始温度Tc，设定被测材料的加热目标温度Th和被测材料的 单位为分钟的升温时长t，以i表示温度调节次数，得到每个调节周期的平均升温^ ^ψ^λ ，其中调节周期ti = t/i ； λβο以PID算法控制加热过程，在第i个调节周期，令PID调节的设定值 Tsp Tc J Φ^λ/直至 iTs μ Th 为止；保持目标温度Th恒定，直至测试加热结束。本专利技术的技术方案，较为精确的加热控制目标温度，误差仅为几秒钟的时间，基本 可忽略不计。不会出现较大的温度过冲，基本保持在2°C以内，并且很快就可以稳定下来，温 度误差为rc。附图说明图1是本专利技术加热方法的一实施例的程序流程示意图 图2是本专利技术实施例中一样品的加热过程曲线图图3是本专利技术实施例中一样品的加热过程曲线图 图4是本专利技术实施例中一样品的加热过程曲线图 图5是本专利技术实施例中一样品的加热过程曲线图 图6是本专利技术...
【技术保护点】
１．一种水分仪被测材料加热方法，其特征在于，包括以下步骤：获得加热初始温度Ｔｃ，设定被测材料的加热目标温度Ｔｈ和被测材料的单位为分钟的升温时长ｔ，以ｉ表示温度调节次数，得到每个调节周期的平均升温其中调节周期ｔｉ＝ｔ／ｉ；以ＰＩＤ算法控制加热过程，在第ｉ个调节周期，令ＰＩＤ调节的设定值直至ＴｓｐμＴｈ为止；保持目标温度Ｔｈ恒定，直至测试加热结束。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张翠翠，陈公伦，
申请(专利权)人：上海精密科学仪器有限公司，上海精科天美科学仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：31
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